Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Ушаков отчет.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.04.2025
Размер:
426.64 Кб
Скачать

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ

«КУРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»

Факультет физики, математики, информатики

Кафедра нанотехнологии

Утверждаю

Заведующий кафедрой нанотехнологии

д.т.н. профессор

Сизов А.С.

«___» февраля 2013 г.

Отчёт о прохождении преддипломной практики "Технологии конструирования и производства функциональных модулей микро- и наноэлектроники"

на предприятии НИЦ (г.Курск) ФГУП «18 ЦНИИ» МО РФ

Направление подготовки 210600.62 «Нанотехнология»

Профиль подготовки нет

Студент 4 курса 421 группы Ушаков С.И.

Руководитель практики от кафедры:

профессор кафедры нанотехнологии

д.т.н. с.н.с. Довбня В.Г.

М.П.

Курск 2013

СОДЕРЖАНИЕ

1. Назначение отдела..............................................................................................3

1.1 Структура отдела..............................................................................................3

1.2 Основные характеристики выпускаемой продукции

1.3 Особенности охраны окружающей среды при производстве микрополосковых СВЧ плат..................................................................................4

2 Краткая характеристика охраны труда на предприятии................................8

3 Краткая характеристика основных технологических процессов производства микрополосковых СВЧ плат........................................................10

3.1 Краткая характеристика основных участков по изготовлению и контролю качества микрополосковых СВЧ плат................................................................10

3.2 Краткая характеристика основной нормативной документации, регламентирующей производство микрополосковых СВЧ плат...................13

3.3 Краткая характеристика основного и вспомогательного оборудования, методов изготовления и контроля качества микрополосковых СВЧ плат...15

4 Технологический процесс..................................................................................16

5 Характеристика технологических процессов, применяемых на участке сборки и монтожа микросборок ..........................................................................20

Список использованной литературы...................................................................30

Приложение...........................................................................................................31

1 Назначение отдела

1.1 Структура отдела

Производственная (технологическая) практика на базе предприятия научно – исследовательского центра ФГУП «18 ЦНИИ МО РФ», в отделе микроэлектроники. В таблице 1 показана структура отдела.

Табл.1

участок подготовки

подложек

Структура 72 отдела

Назначение отдела:

Отдел предназначен для проведения исследований в области разработки и изготовления микрополосковых СВЧ плат в рамках научно – исследовательских, опытно – конструкторских, серийно – производственных работ и оперативных заказов, выполняемых в интересах всех НИУ, ОКБ, СКТБ предприятия и обеспечения ФГУП микрополосковых СВЧ плат.

1.2 Основные характеристики выпускаемой продукции

Общие замечания. В настоящее время в микроэлектронике СВЧ широкое применение получили интегральные схемы. Основу таких схем составляют, как правило, отрезки микрополосковых линий (МПЛ) в виде тонких слоев металла, нанесенных на листы диэлектрика (подложки) с диэлектрической проницаемостью 10 и более. (На практике в МПЛ применяют подложки и с меньшей диэлектрической проницаемостью, например из плавленного кварца (e = 3,78)). Наиболее распространены экранированные несимметричные МПЛ. МПЛ используют во всем диапазоне СВЧ. По сравнению с полыми волноводами МПЛ обладают рядом недостатков – имеют более высокие погонные потери и сравнительно низкую передаваемую мощность (средняя мощность – десятки ватт, импульсная – единицы киловатт). Кроме того, открытые МПЛ излучают энергию в пространство, из-за чего могут возникать нежелательные электромагнитные связи.

Но МПЛ обладают и важными достоинствами. Они имеют малые габариты и массу, дешевы в изготовлении, технологичны и удобны для массового производства методами интегральной технологии, что позволяет реализовывать на пластине из металлизированного с одной стороны диэлектрика целые узлы и функциональные модули в микрополосковом исполнении.

До последнего времени анализ и расчет параметров МПЛ проводились в квазистатическом приближении, т.е. в предположении, что в МПЛ распространяется лишь Т-волна. Такое приближение позволяет получить удовлетворительные результаты только в наиболее длинноволновой части диапазона СВЧ, когда длина волны значительно превышает поперечные размеры линии. С повышением частоты, по мере продвижения в область сантиметровых волн и освоения миллиметровых волн, квазистатический метод дает все большую погрешность. Это связано с тем, что не учитывается дисперсионность линии (зависимости параметров от частоты) и наличие в ней волн высших типов. Поэтому для строгого анализа и расчета параметров МПЛ, удовлетворяющих потребностям практики, необходимо использовать электродинамический подход и математические модели, адекватно отражающие физические процессы в реальной МПЛ.

В интегральных схемах диапазона СВЧ различают элементы с распределеннымии сосредоточенными параметрами. Элементы с сосредоточенными параметрами имеют максимальный размер l, значительно меньший, чем длина волны L в линии (как правило, l/L<0,1). В этом случае можно пренебречь фазовым сдвигом на длине элемента.

При большом объеме выпуска интегральных схем, элементы с сосредоточенными параметрами дешевле элементов с распределенными параметрами. Кроме того, они обладают большей широкополосностью. Однако на частотах более 10 ГГц элементы с сосредоточенными параметрами, как правило, имеют более высокие потери и низкую добротность по сравнению с элементами с распределенными параметрами, а также обладают паразитными связями. Поэтому на частотах выше 10 ГГц применяются главным образом элементы с распределенными параметрами.