- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
Определение параметров надёжности аппаратуры.
Интенсивность отказов микросхем.
В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику:
Интенсивность отказов аппаратуры.
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:
|
|
где: λс.ш – интенсивность отказов схем широкого применения;
λс.с – интенсивность отказов микросборок;
λ1К.П – интенсивность отказов паяного контакта;
ММ.С – количество задействованных выводов микросхемы.
для устройства ввода-вывода:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
для арифметического устройства:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
для устройства управления:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода:
Для J1:
Для J2:
Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве:
Для J1:
Для J2:
Определим интенсивность отказов кассеты устройства управления:
Для J1:
Для J2:
Определим интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода:
Для J1:
Для J2:
Определим интенсивность отказов кассеты арифметического устройства:
Для J1:
Для J2:
Определим количество внешних выводов аппаратуры:
Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
где: λ1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма.
Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции:
Для J1:
Для J2:
Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции:
Для J1:
Для J2:
Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
Определим интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур:
Для разъёмной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для книжной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для кассетной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
где: Кэ – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).
Определим интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды:
Для разъёмной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для книжной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для кассетной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
где: КМ – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (КМ = 1,0);
КВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (КВЛ = 1,0);
КД – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (КД = 1,14).
Определим среднее время безотказной работы аппаратуры:
Для разъёмной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для книжной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|
Для кассетной конструкции:
Для J1: |
| |
Для J2: |
|