
- •1. Исторические сведения о развитии метода электронной микроскопии
- •2. История создания растровой электронной микроскопии
- •3. Схема образования вторичных сигналов в электронной микроскопии
- •4. Принципиальная схема растрового электронного микроскопа
- •5. Разрешение в растровой электронной микроскопии
- •6. Сферическая аберрация в растровой электронной микроскопии
- •7. Хроматическая аберрация в растровой электронной микроскопии
- •8. Астигматизм линз
- •9. Электронная пушка растрового электронного микроскопа
- •10. Линзовая система растрового электронного микроскопа
- •11. Сцинтилляционный детектор растрового электронного микроскопа
- •12. Контраст в растровой электронной микроскопии, определяемый атомным составом мишени
- •13. Топографический контраст в растровой электронной микроскопии
- •14. Контраст каналирования электронов в растровой электронной микроскопии
- •15. Магнитный контраст в растровой электронной микроскопии
- •16. Потенциальный контраст в растровой электронной микроскопии
- •17. Методы пробоподготовки в рэм. Напыление покрытия
- •18. Методы пробоподготовки в рэм. Метод реплик
- •19. Принципиальная схема просвечивающего электронного микроскопа
- •20. Виды контраста в пэм. Контраст уплотнений
- •21. Виды контраста в пэм. Дифракционный контраст
- •22. Виды контраста в пэм. Контраст контуров изгиба
- •23. Виды контраста в пэм. Контраст вариаций толщины образца
- •24. Виды контраста в пэм. Контраст дефектов кристалла
- •25. Виды контраста в пэм. Фазовый контраст: съемка решетки
- •26. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии. Метод дробления
- •27. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии. Электрополировка
- •28. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии Химическое травление
- •29. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии. Улътрамикротомия
- •30. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии. Ионное травление
- •31. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии. Метод ионного травления фокусированным ионным пучком
- •32. Методы пробоподготовки в аналитической просвечивающей электронной микроскопии Вакуумное напыление
- •33. Принципиальная схема спектрометра схпээ
- •34. Особенности анализа спектров схпээ
- •35. Методы энергетической фильтрации электронов в методе схпээ
- •36. Элементное картирование в схпээ
- •37. Особенности метода энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (эдра)
- •38. Картирование элементного состава методом эдра
- •39. Метод alchemi
- •40. Методы электронной дифракции и электронной дифракции в нанопучке
- •41. Электронная дифракция в сходящемся пучке
- •42. Лоренцева микроскопия
- •43. Электронная голография и анализ доменной структуры
36. Элементное картирование в схпээ
Изображение с энергетической фильтрацией элемента получают путем выбора электронов таким образом, чтобы энергоселектирующая щель спектрометра была установлена на пропускание электронов с конкретным значением потери энергии. Поскольку сигнал отданного элемента в спектре накладывается на большой фон, то энергетически-фильтрованное изображение является суперпозицией изображения в пике данного элемента и фона. Поэтому для получения чистого изображения распределения данного элемента из него необходимо вычесть изображение фона. Вычитание фона в процессе энергетической фильтрации начали проводить достаточно давно. В настоящее время широко применяются два метода, в которых используется обработка данных в персональных компьютерах – двух- и трехоконный методы.
37. Особенности метода энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (эдра)
В отличие от метода спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, несмотря на определенные попытки добиться улучшения разрешения энергетического разрешения метода СХПЭЭ, в этом направлении не было достигнуто существенных успехов, которые были бы внедрены в практику метода ЭДРА и его применения для решения различных аналитических задач. До сих пор этот метод является наиболее стандартным и надежным методом в области аналитической электронной микроскопии и применяется достаточно широко.
Эмиссия рентгеновского излучения –
явление, обусловленное возбуждением
внутренних оболочек падающими
электронами,
то есть, когда электрон с внутренней
оболочки переходит на более высокий
энергетический уровень, вакансия на
внутренней оболочке заполняется
электроном с более высокого энергетического
уровня, что приводит к эмиссии
характеристического рентгеновского
излучения с энергией, равной разности
энергии этих двух энергетических
уровней.
Рентгеновские характеристические фотоны обозначаются такими символами, как Кα1, Кα2 и т.п. Символ «К» обозначает рентгеновский фотон, излучаемый при переходе электрона с внешней оболочки на К-оболочку.
Греческие буквы и числа (например, α1 и α2) обозначают конкретные фотоны, образующиеся за счет перехода, соответствующего конкретному характеристическому излучению.
Поскольку характеристическое рентгеновское излучение имеет конкретную энергию, соответствующую каждому элементу, то, измеряя энергию пика излучения, можно проводит идентификацию элементов. При этом, измеряя интегральную интенсивность пика, можно определить количественное содержание данных элементов в веществе. Необходимо отметить, что когда атом с вакансией переходит из возбужденного в основное состояние, то вместо рентгеновских характеристических фотонов может излучаться Оже-электрон. Вероятность эмиссии характеристического рентгеновского излучения возрастает с увеличением атомного номера, в то время как, напротив, вероятность эмиссии Оже-электронов – уменьшается. Таким образом, метод ЭДРА наиболее полезен для анализа тяжелых элементов, особенно когда концентрация элемента является низкой.