Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Posobie_3_zakonchennoe.doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.04.2025
Размер:
748.03 Кб
Скачать

Вопросы к главе III

  1. Чем отличается алгоритм управления съемом припуска при обработке поверхностей, ориентированных в «твердом» направлении, от поверхностей, ориентированных в «мягком» направлении?

  2. В каком случае необходимо применение многопроходного режима съема припуска?

  3. В каком случае необходимо применение однопроходного режима съема припуска?

  4. В каком случае необходимо применение комбинированного режима съема припуска?

  5. Как обеспечить размерную настройку упругой обрабатывающей системы при одновременной обработке изделий с различными анизотропными характеристиками обрабатываемых поверхностей?

  6. По какому технологическому алгоритму идентифицируют постоянную времени переходных процессов резания при одновременной обработке изделий?

  7. Какими методами обеспечивают врезную подачу для удаления припуска при многопроходной обработке?

  8. Какими методами обеспечивают врезную подачу для удаления припуска при однопроходной обработке?

  9. Каковы перспективы применения групповой обработки твердых высокопрочных материалов?

Заключение

Создан высокотехнологичный суперпрецизионный метод оконча­тельной обработки поверхности полупроводниковых материалов, исключающий финишные стадии традиционной технологии, влияние уровня квалификации работающего персонала, улучшающего экологию процесса за счет отсутствия в технологии агрессивных и химичес­ки опасных реагентов.

Выработаны технические характеристики к обрабатывающему инструменту и технические требования к конструкции обрабатываю­щего оборудования.

Создан алгоритм автоматического выбора рациональных режимов микрошлифования высокопрочных анизотропных материалов.

Для групповой обработки изделий используется алгоритм, автоматически позволяющий на каждом изделии получить необходимое качество по­верхности и геометрический размер, причем идентификация осу­ществляется на каждом отдельно взятом изделии, а корректировка интенсивности съема припуска производится по обрабатываемой по­верхности каждой единицы.

Таким образом, в результате выполненных исследований раз­работаны теоретические положения процесса микрошлифования по­лупроводниковых материалов, совокупность которых является новым в решении проблемы "Снижения микродефектности в поверхностном и подповерхностном слоях при размерно-регулируемой обработке из­делий из хрупких и твердоструктурных минералов и натуральных алмазов резанием с получением оптических характеристик чистоты на обрабатываемой поверхности за счет осуществления технологи­ческой диагностики и самонастраивающегося компьютерного управ­ления режимами интенсивности съема припуска в соответствии с фактическими параметрами упругой обрабатывающей системы".

Литература

87

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]