
- •Основы качественного анализа
- •Вводная часть
- •1.1. Общие сведения о качественном и количественном анализе
- •1.2. Химические и физические методы анализа
- •1.3. Общие рекомендации к лабораторному практикуму (работам 2–4)
- •2. Качественные реакции на анионы
- •2.1. Отношение к раствору соли бария: BaCl2 или Ba(no3)2
- •2.2. Отношение к раствору соли серебра AgNo3
- •2.3. Распознавание анионов, не осаждаемых катионами бария и серебра
- •3. Качественные реакции на катионы
- •3.1. «Сероводородная» классификация катионов
- •3.2. Индивидуальные реакции катионов аналитических групп 1–3
- •3.3. Индивидуальные признаки катионов 4-й и 5-й аналитических групп
- •4. Анализ неизвестной соли
- •4.1. Исходные условия
- •4.2. Подготовка к работе
- •4.3. Систематический ход анализа анионов
- •4.4. Систематический ход анализа катионов
- •5. Рентгенофазовый анализ (рфа)
- •5.1. Общие сведения
- •5.2. Условия эксперимента и постановка задачи
- •5.3. Программное обеспечение
- •5.4. Первичная обработка экспериментальных данных
- •5.5. Фазовый анализ
- •5.6. Форма отчёта
5.2. Условия эксперимента и постановка задачи
В
следствие
периодической структуры кристалла,
через его повторяющиеся фрагменты
(молекулы, атомы, группы атомов) можно
провести большое количество плоскостей
разной ориентации (рис. 1), причём у
каждого семейства параллельных
плоскостей есть своё строго определённое
межплоскостное
расстояние
d
(не путать с межатомным расстоянием!).
Для получения интерференционного
максимума угол падения луча на семейство
плоскостей и равный ему угол отражения
Θ
должны удовлетворять условию
Брегга-Вульфа:
2∙d∙ sinΘ = λ,
где λ – длина волны излучения. Если угол хоть немного (например, на 0,1º) отклоняется от «брегговского» значения, волны полностью гасят друг друга.
Н
аиболее
распространённая принципиальная схема
дифрактометра показана на рис. 2. На
экскурсии ознакомьтесь с ней воочию.
На оси 1 гониометра – прибора для
измерения углов – установлен плоский
образец 2: кювета с порошком или кусок
металла, керамики и т.п. От рентгеновской
трубки 3 через систему щелей 4 на него
направлен узкий пучок рентгеновских
лучей. Дифрагированный луч проходит
через щели 5, регистрируется счётчиком
6 и сигнал подаётся в компьютер. Происходит
вращение системы вокруг оси 1, но так,
что угол падения Θ
всё время остаётся равным углу отражения.
Это достигается двумя способами: либо
трубка неподвижна, а счётчик поворачивается
вдвое быстрее, чем образец, либо образец
неподвижен, а трубка и счётчик
поворачиваются навстречу друг другу
с одинаковыми скоростями. Интерференционная
картина (дифрактограмма)
регистрируется, как зависимость скорости
счёта квантов от угла 2Θ (чаще всего –
с шагом 0,02º).
При такой схеме в счётчик могут попадать только отражения от семейств плоскостей, параллельных поверхности образца. Чтобы получилась представительная картина, содержащая все возможные отражения, в образце должно быть очень большое число кристаллов во всевозможных ориентациях, чтобы в положение, параллельное поверхности, попали любые семейства плоскостей. Это не всегда удаётся строго соблюдать, поэтому соотношение интенсивностей пиков одной и той же фазы на разных дифрактограммах может отличаться. Но брегговские углы и, соответственно, межплоскостные расстояния, измеряются и воспроизводятся с высокой точностью.
Вам будет выдан результат измерений – дифрактограмма неизвестной смеси (от двух до четырёх фаз) в виде текстового файла. Задача – определить фазовый состав путём сравнения с базой данных. Современная база порошковых дифракционных данных (Powder Diffraction File, PDF) содержит сотни тысяч дифрактограмм, и разобраться в ней непросто. Но, как и в случае химического качественного анализа, Вам будет предложена сильно упрощённая задача – выбрать фазы из искусственно ограниченной базы данных, содержащей менее 100 фаз.
Все предлагаемые дифрактограммы получены при излучении медного анода, в котором есть две характеристические длины волн, обозначаемые α1 и α2: 1,5406 и 1,5444 Å, причём второе излучение вдвое слабее. Поэтому рекомендуется использовать в расчётах длину волны α1, а близко расположенный более слабый пик от излучения α2 игнорировать.