47 . Рентгено и гаммаграфия

    Более полные сведения об отсутствии дефектов в каждой детали может дать лишь проверка каждой детали без ее разрушения: просвечиванием рентгеновскими и гамма-лучами, прозвучиванием ультразвуком и другими способами. При прохождении через непрозрачные вещества интенсивность рентгеновского и гамма-излучения уменьшается. Это свойство используется при просвечивании. На фиг. 19 показана принципиальная схема просвечивания.

    Рентгеновские и гамма-лучи не воспринимаются глазом человека. Для регистрации излучения, прошедшего через деталь, за ней помещают фотографические пластинки (пленки) или специальные экраны. На фотографические пластинки и пленки рентгеновское или гамма-излучение действуют так же, как и свет. Работа рентгеновских или гамма-экранов основана на свойстве некоторых веществ светиться (люминесцировать) под действием излучения.

    Качество контроля и достоинства различных методов рентгенографии оценивают по их чувствительности. Чувствительность определяют по специальному эталону с канавками. Эталон чувствительности укладывают на деталь со стороны излучения. На рентгенограмме получается его изображение. Чем метод более чувствителен, тем лучше выявится канавка с меньшей глубиной. На приведенном рентгеновском снимке видна четвертая канавка.

9.1 Рентгено- и гаммаграфический метод контроля (радиография.)

    В основе различных методов радиационной дефектоскопии лежат способы регистрации интенсивности излучения за исследуемым изделием. Так, если за просвечиваемым изделием поместить флуороскопический экран, то на нем получится теневое изображение просвечиваемого участка изделия; при этом внутренние дефекты, имеющие характер пустот, на экране отобразятся в виде светящихся пятен на более темном фоне. Применение экранов, а также электроннооптических преобразователей и кристаллов лежит в основе визуального метода радиационной дефектоскопии — флуороскопии. При просвечивании на рентгеновскую пленку получается негативное фотографическое изображение теневой проекции изделия с темными пятнами в местах расположения внутренних дефектов типа пустот. Применение рентгеновских пленок лежит в основе радиографического метода дефектоскопии—рентгено- и гаммаграфии. Применяют также ионизационный и ксерографический методы. При ионизационном методе контроля изделий интенсивность излучения регистрируется с помощью счетчиков или ионизационных камер, при ксерографическом методе — с помощью полупроводниковых пластин.

9.1.1 Основы метода

    Рентгено- и гаммаграфия—это методы получения на рентгеновской пленке изображения предмета (изделия), просвечиваемого рентгеновским или у-мзлучением. Источник излучения располагается с одной стороны просвечиваемого предмета, а кассета с рентгеновской пленкой—с другой (рис. 5.1). Этот метод контроля основан на свойстве рентгеновского и у-излучений вызывать почернение эмульсии пленки. Степень почернения различных участков рентгеновской пленки после ее соответствующей фотообработки (проявления) определяется величиной поглощенной дозы излучения, которая зависит от толщины плотности и однородности поглотителя излучения.Снимок объекта, полученный просвечиванием рентгеновским излучением, называют рентгенограммой или рентгеновским снимком, а полученный при просвечивании у-излучением, — гаммаграммой или гаммаснимком.

    Получаемые при радиографировании снимки характеризуют «прозрачность» различных участков контролируемого изделия для рентгеновского и у-излучений, и поэтому по снимкам легко выявляют как неоднородности (дефекты) в плотности просвечиваемого материала, так и различие в толщинах однородного материала. Встречающиеся в практике дефекты в металлах и неметаллах в большинстве случаев имеют характер пустот (раковины, трещины, непровары в сварных швах, непропаи в паяных швах). На снимках эти дефекты выявляются в виде темных пятен (раковины, поры), искривленных линий (трещины) или полос (непровары) и т. д.

    Выявляемость дефеков - это количественная характеристика данного метода контроля, т. е. способность этого метода обнаруживать реальные дефекты (сварки, пайки, литья и других технологических процессов) в конкретных производственных условиях. Если при просвечивании объекта дефекты на снимке не обнаружены, то это не обязательно означает, что их нет. Дефект может быть расположен таким образом, что при выбранных режиме и схеме просвечивания он не выявляется. Не обнаруживается и слишком маленький дефект, так как чувствительность метода имеет определенную величину и в данном случае может оказаться недостаточной.

    Выявляемость дефектов n характеризуется отношением числа обнаруженных дефектов N к полному числу дефектов N0 в исследуемом участке ооъекта: n = N/N0

    Следовательно, максимально возможная выявляемость дефектов равна единице, однако практически она всегда меньше единицы и зависит от чувствительности метода.