3. 3. Содержание отчета
Отчет должен содержать таблицы результатов измерений и расчетов и необходимые графики. Все они должны иметь названия и ссылки с пояснениями в тексте. Отчет имеет следующую структуру:
Цель работы.
1. Теоретическая часть.
2. Практическая часть.
2.1. Результаты измерений (должна быть приведена таблица результатов измерений).
2.2. Обработка результатов измерений.
2.2.1. Расчет и
построение
- контрольной карты средних значений.
2.2.1. Расчет и
построение
- контрольной карты размахов.
2.2.1. Расчет и
построение
- контрольной карты средних квадратических
отклонений.
Выводы.
3. 4. Контрольные вопросы
1. Какой технологический процесс является статистически контролируемым (находится под статистическим контролем)?
2. Что понимается под стабильностью в статистическом смысле?
3. В чем заключается основная цель применения контрольных карт?
4. Что может использоваться в качестве контролируемых параметров?
5. Возможны ли ситуации, когда значения параметра укладываются в допустимую зону, но процесс стал статистически неконтролируемым? Привести примеры, если такое возможно.
6. Возможны ли ситуации, когда значения контролируемого параметра выходят за пределы допустимой зоны, но процесс остается статистически контролируемым? Привести примеры.
7. Привести порядок расчета и построения - карт.
8. Привести порядок расчета и построения R – карт.
9. Привести порядок расчета и построения S – карт.
10. В виде каких комбинаций рекомендуется применять карты контроля по количественному признаку и почему?
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
1. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.
2. Смирнов Н.В., Дудин-Барковский И.В. Курс теории вероятностей и математической статистики для технических приложений. М.: Наука, 1965.
3. Просто о сложном. Введение в статистический контроль качества производственного процесса. Серия: «Все о качестве. Зарубежный опыт». Вып.11. М.: НТК «Трек», 1999.
Лабораторная работа № 4
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА С ПОМОЩЬЮ КАРТ КОНТРОЛЯ ПО АЛЬТЕРНАТИВНОМУ ПРИЗНАКУ
ЦЕЛЬ РАБОТЫ – ознакомление с контрольными картами по альтернативному признаку, изучение способов их построения и использования для своевременного обнаружения неслучайных изменений технологического процесса.
4.1. ТЕОРЕТИЧЕСКИЯ ЧАСТЬ
Основные сведения о контрольных картах и способах построения независимо от их особенностей были приведены в предыдущей лабораторной работе, здесь мы рассмотрим способы расчета и построения карт контроля по альтернативному признаку.
Использование альтернативных признаков означает, что после проверки изделие считается либо годным, либо дефектным, и решение о качестве контролируемой группы принимают в зависимости от числа обнаруженных дефектных изделий или от числа дефектов, приходящихся на определенное число единиц продукции.
Существует несколько типов таких карт:
p-карта – контрольная карта доли дефектных единиц продукции;
np-карта – контрольная карта количества дефектных единиц продукции;
u-карта (иногда обозначается как с-карта) – контрольная карта количества дефектов на единицу продукции.
Построение p-карты.
1. Для каждой группы изделий (измерений) вычисляется доля дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) по формуле
,
где - доля дефектных изделий в i-ой группе;
- количество дефектных изделий в i-ой группе;
- количество изделий в i-ой группе.
2. Вычисляется
средняя доля дефектных изделий в группах
(уровень ЦЛ)
ЦЛ =
,
где
-
количество групп изделий (измерений).
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
ВГР =
HГР
=
4. Строится p-карта, представляющая собой зависимость значений доли дефектных единиц изделий от номера группы, и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.
p-карты могут строиться, как для постоянных объемов (m) выборок, так и для переменных.
Построение np-карты.
Эта карта является альтернативой p-карте, но она может использоваться только для случая постоянного объема выборок.
1. Для каждой группы
изделий (измерений) определяется
количество дефектных изделий (измерений,
соответствующих дефектным изделиям)
.
2. Вычисляется
среднее количество дефектных изделий
в группах
(уровень ЦЛ)
ЦЛ =
.
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
ВГР =
;
HГР
=
,
где величина
определяется
так же, как для p-карты.
4. Строится np-карта, представляющая собой зависимость количества дефектных изделий в группе ( ) от номера группы, и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.
Некоторое преимущество np-карт вместо p-карт заключается в удобстве оперирования с простым числом дефектных изделий вместо долей дефектных единиц продукции.
Построение u-карты.
u-карта характеризует количество дефектов в выборке, приходящихся на единицу продукции. Обычно u-карта используется в случаях непостоянного объема выборок. Это может иметь место, когда, например, контроль продукции жестко привязывается ко времени, а количество произведенной продукции оказывается различным. Такая ситуация бывает в большинстве случаев.
1. Для каждой группы изделий (измерений) определяется количество дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям), приходящихся на единицу продукции
,
где
-
случайная переменная, распределенная
по закону Пуассона;
- число дефектов в i-ой группе;
- объем i-ой группы.
2. Вычисляется среднее количество дефектных изделий на единицу продукции (уровень ЦЛ)
,
где N – количество групп.
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
НГРi
=
;
ВГРi
=
.
Видно, что u-карта значений будет иметь переменные границы регулирования.
4. Строится u-карта, представляющая собой зависимость количества дефектных изделий, приходящихся на единицу продукции, от номера группы, и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.