- •Основы оптики
- •Глава 1. Структура твердых тел, типы связей между ионами, дефекты в кристаллах
- •Глава 2. Основы теории поля
- •Глава 3. Система уравнение Максвелла и понятие об электромагнитной волне
- •Глава 4. Волновые уравнения для электромагнитного поля как следствия из электродинамики Максвелла
- •Глава 5. Интерференция когерентных электромагнитных волн
- •Глава 11. Поляризация оптического излучения
- •Глава 12. Зависимость коэффициента отражения от угла ввода излучения в диэлектрик
- •Глава 13. Волновая и лучевая природа законов отражения и преломления света
- •Глава 14. Основы лучевой и волновой оптики диэлектрических волноводов
- •Глава 15. Уширение импульсных сигналов в процессе их распространения по стекловолокну
- •Глава 16. Физическая природа ослабления сигналов в процессе их распространения по стекловолокнам
- •Глава 17. Основы фотометрии
- •Глава 1. Структура твёрдых тел, типы связей между ионами, дефекты в кристаллах
- •Понятие об идеальном монокристалле, элементарной ячейке, кристаллографических системах, классах и группах [1, 2]
- •Типы связей мевду ионами в твёрдых телах [3]
- •Ионы и ионная связь в молекулах
- •1.4. Ионно-ковалетный тип связи в твердых телах
- •1.5. Дефекты кристаллической структуры [5]
- •Аморфные тела, изотропия и анизотропия
- •Глава 2. Основы теории поля
- •2.1. Градиент скалярной' функции [8, стр. 36]
- •2.2. Поток вектора
- •Дивергенция вектора
- •2.4. Теорема остроградского - гаусса
- •2.5. Циркулшия вектора по контуру
- •2.6. Ротор вектора
- •2.7. Теорема стокса
- •Теорема остроградского – гаусса.
- •Теорема стокса.
- •Глава 3. Система уравнений максвелла и понятие об электромагнитной волне [8, с. 99-312], [9]
- •3.1 Система уравнений Максвелла в интегральной форме и электромагнитная волна
- •3.2. Вектор пойнтинга
- •3.3. Интенсивность электромагнитной волны
- •3.4. Система уравнений максвелла в дифференциальной форме
- •3.5. Система уравнений максвелла в операторной форме
- •Глава 4. Волновые уравнения для злектромагнигного поля как следствия из электродинамики максвелла
- •4.1. Вывод волновых уравнений [8, с. 302-306]
- •4.2. Волновой фронт [8, с. 276]
- •4.2. Волновая поверхность [8, с. 276]
- •4.4. Плоская электромагнитная волна
- •4.5. Решение волнового уравнения для плоской электромагнитной волны и его анализ
- •4.6. Фаза электромагнитной волны. Временная и пространственная характеристики фазы
- •4.7. Фазовая скорость
- •4.8. Волновой вектор
- •4.9. Монохроматическая электромагнитная волна
- •Фазовая скорость.
- •5.1. Взаимосвязь абсолютного показателя преломления диэлектрика с фазовой скоростью электромагнитной волны в нем и относительной диэлектрической проницаемостью
- •5.2. Оптическая и геометрическая длина пути элетромагнитной волны в веществе [8, с. 333]
- •5.3. Когерентные электромагнитные волны
- •5.4. Линейн0-п0ляри30ванная электромарнитная волна [8, с. 428]
- •5.5. Интерференция когерентных монохроматических электромагнитных волн, распространяющихся в однородной, изотропной диэлектрической среде
- •Глава 6. Отличие реального оптического излучения от идеальной монохроматической волны
- •6.1. Механизм излучения фотонов и образование волновых пакетов электромагнитных волн
- •6.2. Групповая скорость волнового пакета
- •6.3 Взаимосвязь фазовой скорости с грунтовой
- •Взаимосвязь фазовой скорости с групповой.
- •Глава 7. Когерентность оптического излучения
- •7.1. Временная когерентность [1 с. 347-370, 10]
- •7.2. Пространственная когерентность
- •7.3. Объем когерентности
- •Глава 8. Двухлучевая и многолучевая интерференции
- •8.1. Двухлучевая интерференция, интерферометр майкельсона [10, с. 134-136]
- •8.2. Многолучевая интерференция.
- •8.3. Интерференционный светофильтр [11 с. 204]
- •Глава 9. Электронная теория дисперсии
- •9.1. Взаимодействие валентного электрона диэлектрика с воздействующей на него электромагнитной волной
- •9.2. Дифференциальное уравнение движения для валентного электрона
- •9.3. Анализ решения дифференциального уравнения
- •9.4. Анализ зависимости
- •Глава 10. Дифракция свеta
- •10.1. Суть явлений дифракции
9.2. Дифференциальное уравнение движения для валентного электрона
Под воздействием результирующего поля на электрон действует сила
, (9.5)
где
- заряд электрона. В результате этого
воздействия электрон совершает
вынужденные колебания вдоль оси
.
Дифференциальное уравнение движения
центра масс электрона имеет вид [12, с.
210-215] (рис. 9.3):
, (9.6)
где
- коэффициент затухания колебаний
валентного электрона,
- его собственная циклическая частота
колебаний,
- масса электрона.
Известно [12, с. 210-215], что решением уравнения (9.6) является функция вида
, (9.7)
где
.
Таким образом,
(9.8)
9.3. Анализ решения дифференциального уравнения
Разделим (9.3) на
:
. (9.9)
Известно [8, с. 70-72], что
, (9.10)
есть относительная диэлектрическая проницаемость вещества, которая в нашем случае является частотно-зависимой физической величиной. Из (9.1), (9.9), (9.10) следует, что
. (9.11)
Представим результат
разделения связанных зарядов
(рис. 9.3, 9.5, 9.6) под влиянием внешнего
поля в виде рис. 9.7. Полагая поле
однородным, образованным двумя
параллельными, бесконечными плоскостями,
находящимися в идеальном вакууме (в
междоузлиях кристаллической структуры)
(рис. 9.8), получаем, согласно теореме
Гаусса [8, с. 57], напряженность поля
связанных зарядов в виде:
, (9.12)
где
, (9.13)
- электрическая
постоянная
- величина суммарного
связанного заряда на торцевой поверхности
диэлектрика (рис. 9.7), площадью
.
Представим (9.13) в виде
, (9.14)
где
- объёмная плотность связанных зарядов
диэлектрика, заключенных в объеме
.
Рисунок 9.7
Рисунок 9.8
Подстановка (9.14) в (9.12) и (9.12) в (9.11) дает
. (9.15)
Вводя в (9.15) значение
(
)
из решения (9.7) получаем:
. (9.16)
Формула (9.16)
представляет собой результат решения
задачи о нахождении зависимости
для диэлектриков с единственным валентным
электроном в узле структуры.
В общем случае, валентных электронов в окрестности любого иона более 1 (2, 3 и т.д.). В этом случае зависимость (9.16) усложняется (см. далее.).
9.4. Анализ зависимости
Пусть валентный электрон диэлектрика обладает малым коэффициентом затухания , таким, что
. (9.17)
Обозначив
и учитывая (9.17), получаем из (9.16):
, (9.18)
Пусть
и возрастает,
- убывает,
- возрастает,
- возрастает. При
,
.
Зависимость
,
для интервала
показана на рисунке 9.9. При
(воздействие внешнего электромагнитного
поля на валентный электрон отсутствует),
. (9.19)
Рисунок 9.9
Рисунок 9.10
Рисунок 9.11
Пусть
и по-прежнему возрастает. В этом случае,
дробь
,
при любых
.
При достаточно больших
,
(9.20)
и с ростом
,
- убывает,
- возрастает.
В предельном случае
(
),
(рис. 9.10). При
,
,
·
Объединяя два проведенных анализа,
видим, что при
,
терпит разрыв, скачкообразно устремляясь
в
(рис.
9.11). Такому поведению
соответствует резонансное поглощение
энергии волны валентным электроном, в
результате чего амплитуда смещения его
центра масс
(рис. 9.12).
Во всяком реальном диэлектрике валентный электрон обладает конечным коэффициентом затухания и его резонансная частота [4]
. (9.21)
Амплитуда смещения
также конечна:
. (9.22)
В результате зависимость приобретает вид, показанный на рисунке 9.14.
Резонансному
поглощению энергии электромагнитной
волны на частоте
(рис. 9.13) соответствует резкое увеличение
затухания сигнала в процессе его
распространения по ВОЛС. Частота несущего
оптического сигнала равная
неприменима для передачи его по ВОЛС,
как неприменимы и частоты, лежащие в
окрестности
.
Рисунок 9.12
Рисунок 9.13
Рисунок 9.14
Рисунок 9.15
Рисунок 9.16
Рисунок 9.17
Участки
и
(рис. 9.14) традиционно носят название
областей "нормальной" дисперсии.
На этих участках
возрастает с ростом
.
Область
,
соответствующая пику поглощения
электромагнитной энергии, называется
областью "аномальной" дисперсии.
На участке
резко убывает с ростом
.
Участку
соответствует видимый диапазон
нм. Левее точки (К) располагается
инфракрасный диапазон (ИК), правее точки
(Ф) - ультрафиолетовый (УФ). В увеличенном
масштабе участок (
)
имеет вид, показанный на рисунке 9. 15.
Поскольку
~
,
зависимости
соответствует рисунок 9.16, откуда следует,
что
для красного и ИК - диапазонов и
- для фиолетового и УФ диапазонов, связаны
следующим соотношением
.
В диэлектрических оптических волноводах, ионы которых содержат по нескольку электронов, ход зависимости более сложен (рис. 9.17) и каждая из областей аномальной дисперсии имеет свой пик поглощения. Так например, в "чистом" SiO2 наибольшие неприятности доставляют 2 типа поглощения: первый расположен в ИК - диапазоне, второй в УФ – области. "Хвосты" от указанных пиков поглощения оставляют для распространения сигнала лишь узкое "окно" прозрачности на длине волны 1,2 мкм с шириной самого " окна" около 0,4 мкм. Именно этот диапазон длин волн сегодня наиболее перспективен при конструировании ВОЛС на основе SiO2.
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
Дисперсия как физическое явление.
Физический смысл абсолютного показателя преломления.
От каких параметров зависит напряженность поля связанных зарядов в диэлектрике?
Обоснуйте дифференциальное уравнение движения валентного электрона под воздействием внешнего электромагнитного поля.
Сделайте вывод формулы (9.16).
Дайте понятия областей нормальной и аномальной дисперсии.
Почему резонансная частота колебаний валентного электрона меньше частоты его собственных колебаний?
Изобразите ход зависимости для волн видимого диапазона.
