
- •Методические указания к лабораторным работам по дисциплине «Схемотехника эвм»
- •127994 Москва, ул. Образцова, 15
- •1.1.2. Включение и настройка осциллографа
- •1.1.3. Измерение временных интервалов сигнала
- •1.2. Учебно-исследовательский стенд
- •1.2.1. Описание лицевой панели
- •1.2.2. Порядок работы со стендом
- •1.3. Приставки, подключаемые к стенду исэл для исследования схем.
- •1.3.1. Приставка флс.
- •1.3.2. Приставка ттл.
- •1.3.3. Приставка кмоп.
- •2. Порядок подготовки и оформления отчетов по лабораторным работам.
- •3. Лабораторная работа №1. Изучение измерительной, регистрирующей и исследовательской аппаратуры
- •3.1. Подготовка к лабораторной работе.
- •3.2. Порядок выполнения работы.
- •3.3. Содержание отчета.
- •3.4. Варианты заданий.
- •Нагрузочная способность Таблица 4.1.
- •Помехоустойчивость Таблица 4.2.
- •Быстродействие Таблица 4.3.
- •4.2. Порядок выполнения работы.
- •4.3. Содержание отчета.
- •4.4. Варианты заданий.
- •4.4.1. Лабораторные работы.
- •4.4.2. Уирс.
- •4.5. Вопросы для самоподготовки.
- •Нагрузочная способность Таблица 5.1.
- •Помехоустойчивость Таблица 5.2.
- •Быстродействие Таблица 5.3.
- •5.2. Порядок выполнения работы.
- •5.3. Содержание отчета.
- •5.4. Варианты заданий.
- •5.4.2. Уирс.
- •5.5. Вопросы для самоподготовки.
- •6. Лабораторная работа №4. Исследование схем ттл
- •6.1. Подготовка к лабораторной работе.
- •6.2. Порядок выполнения работы.
- •6.3. Содержание отчета.
- •6.4. Варианты заданий.
- •6.4.1. Лабораторные работы.
- •6.4.1. Уирс.
- •6.5. Вопросы для самоподготовки.
- •7. Лабораторная работа №5. Исследование схем кмоп.
- •7.1. Подготовка к лабораторной работе.
- •7.2. Порядок выполнения работы.
- •7.3. Содержание отчета.
- •7.4. Варианты уирс.
- •7.5. Вопросы для самоподготовки.
- •Приложение 1. Пример оформления отчета.
- •Институт управления и информационных технологий
- •Москва 2003
- •Нагрузочная способность
- •Помехоустойчивость
- •Быстродействие
- •4. Схема получения выходной(нагрузочной) характеристики
- •4. Схема измерений динамическмх параметров.
- •5. Зависимость динамических параметров от величины
- •Список рекомендуемой литературы
- •Содержание
Нагрузочная способность Таблица 5.1.
Параметр |
Расчетные значения |
Экспериментальные значения |
I0н макс |
|
|
I0вх |
|
|
n0 |
|
|
I1н макс |
|
|
I1вх |
|
|
n1 |
|
|
44
Помехоустойчивость определяется на основании построенной ХВВ схемы. Для построения ХВВ вычисляется граничное значение «0» и «1» на входе схемы..
U0гр определяется из выражения 2.29[4]. U1гр определяется из выражения 2.30[4].
Величина сигналов на выходе: U0вых Uкэн, U1вых ЕП.
На основании построенной ХВВ вычисляются значения помехоустойчивости ΔU0n, ΔU1n. Рассчитанные параметры заносятся в табл.5.2.
Помехоустойчивость Таблица 5.2.
Параметр |
Расчетные значения |
Экспериментальные значения |
U0гр, В |
|
|
U1гр, В |
|
|
U0П, В |
|
|
U1П, В |
|
|
Быстродействие. Расчет величины быстродействия схемы сопряжен с громоздкими вычислениями, учитывающими динамические параметры транзистора и всех диодов. Поэтому в работе ограничиваемся экспериментальным замером динамических параметров выходного сигнала для двух случаев: при использовании антинасыщающих диодов (рис. 5.1) и без них и занесением их в табл 5.3.
Быстродействие Таблица 5.3.
Параметр |
Экспериментальные значения |
|||
R1=Rрасч |
R1=0.5Rрасч |
|||
Без антинас. диода |
С диодом |
Без антинас. диода |
С диодом |
|
t01, мкс |
|
|
|
|
t10, мкс |
|
|
|
|
tр, мкс |
|
|
|
|
t01зр, мкс |
|
|
|
|
t01зр, мкс |
|
|
|
|
45
Рис. 5.1. Схема ключа второго типа с антинасыщающим диодом: а) на n-p-n транзисторе, б) на p-n-p транзисторе.
5.2. Порядок выполнения работы.
Аппаратура: осциллограф, стенд ИСЭЛ, приставка ФЛС.
Рассчитанную схему собирают на приставке, описание которой приведено в разделе 1.3.1, подключают к стенду ИСЭЛ, включают питание и проводят исследование схемы.
Совместно всей бригадой выполняются следующие пункты лабораторной работы:
1. Получить ХВВ (для ненагруженной схемы).
2. Получить входную характеристику Iвх = f(Uвх).
3. Получить выходные (нагрузочные) характеристики:
U0вых = f(Iнагр); U1вых = f(Iнагр).
4. Снять осциллограмму импульсного сигнала на входе и выходе исследуемой схемы. Замерить динамические параметры сигнала t01, t10, tp, tзр01, tзр10 на выходе ненагруженной схемы.
5. Получить зависимости динамических параметров сигнала на выходе схемы в зависимости от величины емкостной нагрузки.
46
6. Исследовать влияние антинасыщающих диодов в обратной связи на динамические параметры схемы для различных значений R1.
После выполнения бригадного задания каждый студент индивидуально выполняет УИРС.