
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Принцип Гюйгенса-Френеля
- •Дифракция Френеля и Фраунгофера
- •Лабораторная работа №3.6 изучение явления дифракции фраунгофера от одной щели
- •1. Описание установки
- •2. Порядок выполнения измерений
- •3. Обработка результатов измерений
- •Лабораторная работа №3.7 изучение прозрачной дифракционной решетки
- •1. Описание установки
- •2. Порядок проведения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Изучение плоскополяризованного света Общие сведения
- •Лабораторная работа № 3.8 изучение плоскополяризованного света
- •1. Описание установки
- •2. Порядок выполнения измерений
- •3. Обработка результатов измерений
- •Заключение
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Структура отчета
- •Требования к содержанию разделов отчета
- •1. Описание установки
- •2. Порядок выполнения измерений
- •3. Обработка результатов измерений
- •Правила оформления отчета
- •1. Общие требования
- •2. Нумерация разделов, подразделов, пунктов
- •3. Иллюстрации
- •4. Формулы и уравнения
- •5. Таблицы
- •Министерство образования и науки российской федерации Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение «ковровская государственная технологическая академия имени в.А. Дегтярева»
Лабораторная работа №3.6 изучение явления дифракции фраунгофера от одной щели
Цель работы: изучение распределения интенсивности в картине дифракции от узкой щели в лазерном свете, экспериментальное определение длины волны гелий-неонового лазера.
1. Описание установки
Оборудование: оптическая скамья, гелий-неоновый лазер, одиночная щель с регулируемой шириной, экран с встроенным в него фотодиодом и микроамперметр.
Рис.4. Принципиальная схема наблюдения дифракции
Принципиальная схема наблюдения дифракции света от различных преград представлена на рис.4,5. Параллельный пучок лучей от He–Ne лазера 1 проходит через преграду 2 и образует на экране 3 с встроенным в него фотодиодом дифракционную картину. Фотодиод, перемещающийся по экрану (параметр х), подключается к микроамперметру. Все детали укрепляются на оптической скамье в рейтерах (стойках-держателях) согласно схеме (рис. 5). На оптической скамье имеется отсчетная линейка длиной 1 м с ценой деления 1 мм.
Рис.5. Установка для наблюдения дифракции
2. Порядок выполнения измерений
2.1. Исследование распределения интенсивности в дифракционной картине от щели.
2.1.1. Установить экран 3 на краю оптической скамьи, а рейтер со щелью 2 – на расстоянии l от рейтера с экраном, при этом расстояние между выходным отверстием лазера 1 и рейтером со щелью 2 должно быть не менее 20 см.
2.1.2. Включить микроамперметр и измерить фоновое (темновое) Ιф значение тока (положение множителя микроамперметра при этом должно быть – х1).
2.1.3. Включить лазер. Регулировкой установочными винтами лазера и наклоном направо или налево рейтера со щелью 2 добиться того, чтобы приемное окно фотодиода (нулевое значение) находилось на уровне центра рейтера со щелью 2 (положение множителя микроамперметра при этом должно быть – х1000).
2.1.4. Установить заданные преподавателем расстояние l от щели до экрана и ширину щели b. При установке ширины щели b вначале необходимо ручкой нониуса, находящегося на рейтере со щелью, установить нулевое значение ширины щели, при этом ширина центрального максимума будет увеличиваться, а его интенсивность уменьшаться и при нулевом значении ширины щели должна стать равной Ιф (положение множителя микроамперметра при этом должно быть – х1).
К полученным показаниям шкалы нониуса необходимо добавить с помощью ручки нониуса заданное значение ширины щели b (на шкале ручки нониуса 1дел. = 0,001мм.). Положение множителя микроамперметра при этом должно быть – х1000.
2.1.5. Учитывая, что ток, даваемый фотодиодом, пропорционален интенсивности падающего на фотодиод света, провести измерения распределения интенсивности в дифракционной картине, данные занести в разработанную самостоятельно таблицу. Фотодиод следует перемещать влево и вправо вдоль картины через каждые 1 мм (параметр х). Положение множителя микроамперметра при этом необходимо изменять от х1000 до х1 в зависимости от интенсивности падающего на фотодиод света.
При наблюдении дифракции от одиночной щели исследуйте влияние ширины щели на вид дифракционной картинки.
2.2. Экспериментальное определение длины волны гелий-неоно-вого лазера.
2.2.1. Повторить п.2.1.4.
2.2.2. Перемещая фотодиод вправо и влево от центрального максимума, найти положение первых минимумов х+ и х- , при этом положение множителя микроамперметра должно быть – х1. При прохождении центрального максимума приемным окном фотодиода (нулевое значение) положение множителя микроамперметра должно быть – х1000.
2.2.3. Провести аналогичные измерения по п.п. 2.2.1и 2.2.2 для других значений b не менее 5 раз (Δ b = 3÷5 мкм.). Результаты измерений занести в разработанную самостоятельно таблицу.
2.2.4. Повторить п.2.1.4
2.2.5. Перемещая фотодиод вправо и влево от центрального максимума, найти положение первых минимумов х+ и х- , при этом положение множителя микроамперметра должно быть – х1. При прохождении центрального максимума приемным окном фотодиода (нулевое значение) положение множителя микроамперметра должно быть – х1000.
2.2.6. Провести аналогичные измерения по п.п.2.2.4 и 2.2.5 для других значений l не менее 5 раз (Δ l = 3÷5 см.). При необходимости регулировкой установочными винтами лазера и наклоном направо или налево рейтера со щелью 2 добиваться того, чтобы приемное окно фотодиода (нулевое значение) находилось на уровне центра рейтера со щелью 2 при разных значениях l (положение множителя микроамперметра при этом должно быть – х1000). Результаты измерений занести в разработанную самостоятельно таблицу.
По указанию преподавателя выполняется либо п.п.2.2.1÷2.2.3, либо п.п.2.2.4÷2.2.6.