Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лаб раб -1 к Физ_основы микро-нано 12_02.doc
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.04.2025
Размер:
4.41 Mб
Скачать

Практическая часть

Оборудование.

1. Лабораторный стенд 87Л-01, коммутационная плата №1, осциллограф С1-83.

Задание.

1. Определите характерные диапазоны напряжения и силы тока, которые выдают генераторы напряжения и тока, встроенные в стенд – ГН1, ГН2, ГН3 и ГТ. Определите с помощью осциллографа величину и форму напряжения от источника напряжения.

2. С помощью осциллографа С1-83 определите форму и диапазоны изменения длительности и амплитуды импульсов, выдаваемых генератором прямоугольных импульсов, диапазоны изменения амплитуды и частоты генераторов низкой и высокой частоты вашего конкретного стенда.

3. Наблюдайте на экране осциллографа диапазон перестройки глубины модуляции генератора высокой частоты и диапазон выходных напряжений данного генератора в режиме синусоидального сигнала.

Порядок выполнения работы.

  1. На коммутационной плате №1 с помощью съёмной панели №1 соберите схему определения диапазонов тока и напряжения, выдаваемых генератором тока (рис. 3). При этом вместо диода V1 используйте резисторы номиналами 100 Ом, 1 кОм, 10 кОм, 100 кОм. Соедините гнезда генератора тока стенда с гнездами Х1 и Х2 схемы, гнёзда измерителя тока АВМ1 с гнёздами Х3 и Х4, гнёзда измерителя напряжения с гнёздами Х5 и Х6. Сменными элементами являются резисторы.

Рис. 3

  1. Включите стенд 87Л-01.

  2. Измерьте падение напряжения на резисторе с номиналом 100 Ом в диапазоне токов 1-10 мА.

  3. Смените резистор (установите резистор с номиналом 1 кОм) и повторите п. 3. Результаты занесите в таблицу и постройте график зависимости напряжения на резисторе от тока, протекающего через него.

  4. Выключите стенд 87Л-01.

  5. Соберите схему для исследования свойств генератора тока ГН1 (рис. 4).

Рис. 4

  1. Включите стенд 87Л-01.

  2. Снимите зависимость тока генератора ГН1 от напряжения при номиналах резисторов нагрузки 1 кОм и 2 кОма.

  3. Выключите стенд 87Л-01.

  4. Соедините гнезда Х9 и Х10 стенда со щупом осциллографа,

Х11 и Х12 с генератором прямоугольных импульсов согласно рис.5.

  1. Включите стенд 87Л-01.

  2. Определите с помощью осциллографа диапазон импульсных напряжений, выдаваемых генератором импульсов.

  3. Выключите стенд 87Л-01.

Рис. 5

Отчет должен содержать схемы электрические принципиальные, осциллограммы, данные по измерению напряжений, графики искомых функциональных зависимостей. В конце работы сформулируйте и занесите в отчёт выводы по данной лабораторной работе.

ВНИМАНИЕ!

  1. Все изменения номиналов компонентов производить только при выключенном стенде 87л-01!

-

Работа №1а. Исследование свойств выпрямительных диодов и выпрямительных схем (однополупериодной, двухполупериодной и мостовой) на их основе.

Цель работы: изучить свойства выпрямительных диодов и принципы работы однополупериодной схемы выпрямителей.

« Теория.

Вольтамперная характеристика идеального p-n – диода описывается моделью Шокли, согласно которой зависимость тока от напряжения на выводах даётся выражением

(1)

где - ток насыщения (обратный ток диода при ). Точно такое же выражение получается для ВАХ диода Шоттки в моделях Бете и Давыдова-Пекара-Шоттки. Экспоненциальная зависимость от напряжения обусловлена в обоих случаях надбарьерным механизмом прохождения тока. Однако физические интерпретации тока насыщения для p-n – диода и диода Шоттки совершенно различны. В первом случае он определяется экстракцией неосновных носителей заряда, во втором – эмиссией или диффузией основных носителей заряда.

Для учёта отклонений от идеальных моделей формула (1) модифицируется – в показатель экспоненты вводится коэффициент неидеальности m,

(2)

Основные причины отклонения от идеальности p-n –диода – падение напряжения на последовательном сопротивлении, рекомбинация и генерация носителей в ОПЗ, утечки. В диоде Шоттки имеют значения только первая и последняя причины.

Токи насыщения и коэффициенты неидеальности – важные параметры диодов. По их температурным зависимостям можно определить физические параметры структур – ширины запрещённой зоны полупроводника и потенциальный барьер со стороны металла в диоде Шоттки.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]