- •Электроника
- •Силовая электроника
- •Предисловие
- •Тема 1. Элементная база силовой электроники 25
- •Тема 2. Управление силовыми полупроводниковыми
- •Тема 3. Методы и схемы защиты полупроводниковых
- •Тема 4. Применение мощных полупроводниковых
- •Предисловие
- •Развитие полупроводниковых ключей
- •Тема 1. Элементная база силовой электроники
- •1.1 Транзисторы
- •1.1.1 Основные виды силовых электронных ключей
- •1.1.2. Силовые биполярные транзисторы
- •1.1.3. Мощные мдп-транзисторы
- •1.1.4. Биполярные транзисторы с изолированным затвором (igbt)
- •1.1.5. Статические индукционные транзисторы
- •1.2. Тиристоры
- •1.2.1. Однооперационные тиристоры
- •1.2.2. Запираемые тиристоры
- •1.2.3. Индукционные тиристоры
- •1.2.4. Полевые тиристоры
- •1.2.5. Модули силовых электронных ключей.
- •1.2.6 Элементная база и типовые узлы систем управления
- •1.2.7. Формирователи импульсов управления
- •1.2.8. Микропроцессоры в системах управления
- •Тема 2. Управление силовыми полупроводниковыми
- •2.1. Функции и структура систем управления преобразователями
- •2.2. Основные типы формирователей импульсов управления
- •2.3. Формирователи импульсов управления с совместной передачей энергии и формы управляющего сигнала
- •2.3.1. Трансформаторные фиу биполярных транзисторов
- •2.3.2. Трансформаторные фиу для ключей с изолированным затвором
- •2.3.3. Трансформаторные фиу тиристоров
- •2.4. Формирователи импульсов управления с раздельной передачей питания и информационного сигнала
- •2.4.1. Потенциальная развязка информационного сигнала
- •2.4.2. Драйверы силовых транзисторов
- •2.4.3. Подключение драйверов к входным цепям силовых транзисторов
- •2.4.4. Драйверы тиристоров
- •2.5. Источники питания драйверов
- •Тема 3. Методы и схемы защиты полупроводниковых ключей
- •3.1. Основные виды перегрузок по напряжению и току
- •3.2. Методы защиты от помех
- •3.3. Защитные цепи силовых ключей
- •3.3.1. Цепи формирования траектории рабочей точки транзисторов
- •3.3.2. Защитные цепи тиристорных ключей
- •3.3.3. Защитные цепи силовых модулей
- •3.4. Защита силовых ключей от режимов короткого замыкания
- •3.5. Силовые ключи с интегрированной системой защиты
- •Тема 4. Приминение мощных полупроводниковых ключей в силовых схемах
- •4.1. Основные области применения ключевых приборов
- •4.2. Типовые схемы транзисторных ключей
- •4.2.1. Ключ на биполярном транзисторе
- •4.2.2. Ключ на мощном мдп-транзисторе
- •4.2.3. Ключ на биполярном транзисторе с изолированным затвором
- •4.2.4. Ключ на статическом индукционном транзисторе
- •4.3. Тиристорные ключи
- •4.3.1. Ключ на тиристоре с электростатическим управлением
- •4.3.2. Ключи на тиристорах с регенеративным включением
- •4.3.3. Особенности запирания тиристорных ключей
- •4.4. Применение ключевых транзисторов в схемах электронных балластов
- •4.5. Применение мощных мдп-транзисторов в импульсных источниках питания
- •4.6. Применение мощных ключей в схемах управления электродвигателями переменного тока
- •4.6.1. Основные режимы работы силовых ключей в шим-инверторах для асинхронных электродвигателей
- •4.6.2. Особенности применения igbt в схемах с индуктивной нагрузкой
- •4.6.3. Переключение полевых тиристоров мст в мостовых схемах
- •Заключение
- •Литература
- •Учебное пособие
- •Силовая электроника
4.3.2. Ключи на тиристорах с регенеративным включением
Переходный процесс включения в тиристорах с регенеративным механизмом (SCR, GTO, GCT и МСТ) практически одинаков для любых структур и состоит из двух главных этапов: стадия регенерации и стадия установления остаточного напряжения (рис. 4.26).
Этап задержки включения для тиристорных ключей большой мощности не превышает 100...200 нc и его величиной в сравнении с другими временными составляющими пренебрегают [2,3].
Этап лавинообразного нарастания анодного тока (регенерация) характеризуется взаимным влиянием транзисторов, составляющих р-n-р-n-структуру (рис. 4.27).
Для данного интервала в базовых областях тиристора устанавливается баланс зарядов:
(4.54)
(4.55)
где Q1;Q2— заряд неосновных носителей в n- и р-базе тиристора;
τB1, τB2 — времена жизни носителей в базах;
τС1, τС2 — времена пролета носителей через базовые слои;
а
б Рис. 4.26 |
Решение уравнения при нулевых начальных зарядах в базовых слоях позволяет выразить ток тиристора на этапе регенерации:
(4.56)
где ВREG — эффективный коэффициент усиления тиристорной структуры;
tRЕG — постоянная времени регенеративного этапа.
Далее процесс включения протекает в зависимости от режима нагрузки тиристорного ключа, в котором различают режим больших или малых токов. Понятие величины тока связано с уровнем инжекции неосновных носителей в базовых слоях. В низколегированной n-базе тиристора независимо от величины внешней нагрузки практически всегда достигается высокий уровень инжекции.
Рис. 4.27
Если внешнее сопротивление RL велико, то в узкой р-базе с сильной степенью легирования высокий уровень инжекции не реализуется. Этап регенерации заканчивается в момент смены знака напряжения на центральном переходе, при этом остаточное напряжение на ключе равно величине падения напряжения на омическом сопротивлении базовых слоев структуры. Стадия дальнейшего установления остаточного напряжения VAK(t) определяется процессом модуляции сопротивления базовых слоев накопленным зарядом:
(4.57)
где Vo = Е - RLIO— начальное напряжение этапа установления;
IO = iA (tREG) - анодный ток в конце этапа регенерации;
Рис. 4.28 |
tREG — длительность этапа регенерации.
При малых сопротивлениях нагрузки RL составляющих единицы Ом и менее, в структуре тиристора реализуются режимы повышенных плотностей тока, достигающих величин от 100 А/см2 и более.
В таких условиях в узкой р-базе также возникает высокий уровень инжекции, приводящий к резкому уменьшению коэффициентов усиления составляющих транзисторов (рис. 4.28).
На этапе установления, с учетом условия В1В2 → 1, для переходной характеристики анодного тока на основе решения балансовых уравнений (4.54) и (4.55) можно записать:
Рис. 4.29 |
(4.58)
где IO = iA(tREG) — ток в нагрузке в конце регенеративного этапа;
τSH — постоянная этапа установления при высоком уровне инжекции, тиристора.
С учетом резистивной нагрузки напряжение установления определяется выражением:
(4.59)
где VO=E ─ RLIO.
Для практической оценки длительности регенеративного этапа и расчета напряжения установления необходимо определить величину тока I0, а также параметры BREG τREG, τS. Экспериментальное исследование характеристик переходного процесса для каждого типа тиристора является достаточно трудоемким процессом, а в справочных данных перечисленные параметры не приводятся. В первом приближении можно воспользоваться интегральной характеристикой потерь энергии при включении (рис. 4.29), которая с учетом рассмотренных этапов может быть представлена в виде:
(4.60)
Таким образом, напряжение на этапе установления изменяется по закону, аналогичному для высокоомной нагрузки, но с другой постоянной времени.
Достаточно быстрые процессы переключения тиристорных структур, особенно в цепях низкоомной нагрузки, требуют учета влияния паразитных индуктивностей схемы. Как показывают аналитические расчеты с учетом эффекта обратной связи между входной и выходной цепью тиристорного ключа (рис. 4.30), переходный процесс включения можно рассчитывать по формулам, аналогичным (4.56) и (4.58), заменяя постоянные времени на эквивалентные величины:
(4.61)
(4.62)
где Ls — паразитная индуктивность в анодной цепи тиристора;
Ск — барьерная емкость центрального перехода.
Напряжение открытого ключа определяется параметрами прямой ВАХ тиристора:
(4.63)
где V0 — напряжение на прямосмещенных р-n-переходах;
rDYN— динамическое сопротивление открытого тиристора.
Для однооперационных тиристоров с большой площадью структуры необходимо учитывать эффект распространения области включения. Скорость увеличения данной площади пропорциональна плотности анодного тока:
(4.64)
где к — коэффициент пропорциональности;
S(t) — площадь области включения.
Влияние
данного эффекта проявляется в относительно
медленном изменении напряжения на
открытом ключе при практически постоянном
Е токе, равном
(рис. 4.31).
На стадии переходного процесса, учитывающей эффект распространения, напряжение открытого ключа представляют как функцию изменяющегося во времени динамического сопротивления:
(4.65)
Рис. 4.30 Рис. 4.31
где SST — площадь области включения в статическом режиме.
С учетом (4.64) для остаточного напряжения тиристора можно записать:
(4.66)
Где
- параметр, зависящий от структуры
тиристора.
Значение параметра N можно определить по измеренной длительности фазы распространения tPROP, которая составляет несколько десятков микросекунд:
(4.67)
