
- •Волновая оптика. Квантовая физика. Статистическая физика.
- •Содержание
- •Введение
- •Изучение интерференции света с помощью бипризмы Френеля
- •Теоретическое введение
- •Метод Юнга.
- •Бипризма Френеля
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение дифракции монохроматического лазерного излучения на дифракционной решётке
- •Теоретическое введение
- •Дифракция на щели
- •Дифракционная решетка
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Проверка закона Малюса
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Вращение плоскости поляризации
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение зависимости показателя преломления стеклянной призмы от длины волны
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение постоянной Стефана-Больцмана
- •Теоретическое введение
- •Законы теплового излучения
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Лабораторная работа 3-07 Изучение явления внешнего фотоэффекта
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение опыта Франка и Герца.
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение поглощения света
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы.
- •Контрольные вопросы
- •Элементы классической статистики.
- •Нормальный закон распределения (закон Гаусса)
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение коэффициента вязкости воздуха и средней длины свободного пробега молекул
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение работы выхода электронов из металла
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение коэффициента линейного теплового расширения
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений и экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Исследование эффекта Зеебека
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Эффект Холла
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Экспериментальная часть
- •Измерительная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение работы полупроводникового диода
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Библиографический список
- •Волновая оптика. Квантовая физика. Статистическая физика
Экспериментальная часть
Приборы и оборудование: установка для изучения свойств p-n–перехода.
Экспериментальная установка и методика измерений
Установка для изучения p-n–перехода представлена на рис.18.3 и состоит из объектов исследования и измерительного устройства. Объект исследования выполнен в виде единого устройства 1, в котором установлены три диода и переключатель исследуемых образцов. Кнопка КН1 на измерительном устройстве предназначена для установки полярности напряжения, подаваемого на диод. Полярность фиксируется светодиодом – «прямая» или «обратная» характеристика. Кнопка КН2 переключает режим работы – снятие вольтамперной (ВАХ) или вольтфарадной (BAХ) характеристик. Кнопками «+» и «–» устанавливается величина необходимого напряжения. Кнопка КН3 предназначена для установки напряжения на нулевое значение.
Индикация величины регулируемого напряжения осуществляется измерителем напряжения (рис.18.3), а измерение силы тока – измерителем тока. Выбор режима измерения тока (мА, мкА) осуществляется автоматически.
Установка позволяет измерить электрическую ёмкость p-n–перехода. Воспользуемся формулой ёмкости плоского конденсатора:
,
(18.3)
где
– электрическая постоянная,
– диэлектрическая проницаемость
полупроводника, l
– толщина слоя объемного заряда
p-n–перехода,
S
– площадь контакта p–
и n–областей.
Толщина слоя объёмного заряда равна:
,
(18.4)
г
де
– контактная
разность потенциалов в p-n–переходе,
– приложенное к p-n–переходу
внешнее напряжение, а
и
–
концентрации основных носителей заряда
в n–
и p–областях
соответственно. Измерив ёмкость
p-n–перехода
при прямом
и обратном
внешнем напряжении, найдём их отношение
из (18.3) и (18.4):
,
(18.5)
откуда можно найти величину контактной разности потенциалов
.
(18.6)
Порядок выполнения работы
Задание 1. Снятие вольтамперной характеристики (ВАХ) p-n–перехода.
1. Ознакомиться с установкой.
2. Включить установку в сеть. Сетевой тумблер находится на задней панели.
3. Переключателем на устройстве 1 (рис.18.3) установить исследуемый диод (по заданию преподавателя).
4. Переключателем КН2 выбрать режим работы «ВАХ».
5. Переключателем КН1 выбрать режим снятия прямой характеристики.
6. Кнопками «+» и «–» установить требуемую величину напряжения (см. табл.18.1).
7. Записать в табл.18.1 соответствующую силу тока.
Таблица 18.1
Прямая характеристика |
|||||
КД521 |
КД226 |
Д9К |
|||
U, В |
I, мкА |
U, В |
I, мкА |
U, В |
I, мкА |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0.30 |
|
0.29 |
|
0.02 |
|
0.31 |
|
0.30 |
|
0.04 |
|
0.32 |
|
0.31 |
|
0.06 |
|
0.33 |
|
0.32 |
|
0.08 |
|
0.34 |
|
0.33 |
|
0.10 |
|
0.36 |
|
0.34 |
|
0.12 |
|
0.38 |
|
0.35 |
|
0.14 |
|
0.40 |
|
0.36 |
|
0.15 |
|
0.42 |
|
0.37 |
|
0.16 |
|
0.43 |
|
0.38 |
|
0.17 |
|
0.44 |
|
0.39 |
|
0.18 |
|
0.45 |
|
0.40 |
|
0.19 |
|
0.46 |
|
0.41 |
|
0.20 |
|
0.47 |
|
0.42 |
|
0.21 |
|
0.48 |
|
0.43 |
|
0.22 |
|
8. Устанавливая требуемые значения напряжения кнопками «+» и «–», записывать соответствующие значения силы тока.
9. Нажатием кнопки КН3 установить нулевое напряжение.
10. Переключателем КН1 выбрать режим снятия обратной характеристики.
11. Повторить измерения по пунктам 6÷9, данные записывать в табл.18.2.
12. Построить график зависимости I=f(U) – ВАХ исследуемого диода; при этом прямые напряжение и ток считать положительными, обратные – отрицательными.
Внимание! Следите за индикацией размерности на измерителе тока.
Таблица 18.2
Обратная характеристика |
|||
–U, В |
–I, мкА |
||
КД521 |
КД226 |
Д9К |
|
0 |
0 |
0 |
0 |
10 |
|
|
|
14 |
|
|
|
16 |
|
|
|
18 |
|
|
|
20 |
|
|
|
22 |
|
|
|
24 |
|
|
|
26 |
|
|
|
Задание 2. Снятие вольтфарадной характеристики (ВФХ) и определение контактной разности потенциалов в p-n–переходе.
1. Переключателем на устройстве 1 (рис.18.3) установить диод КД226.
2. Переключателем КН2 выбрать режим работы «ВФХ».
3. Переключателем КН1 выбрать режим снятия прямой характеристики.
4. Кнопками «+» и «–» установить требуемую величину напряжения (см.табл.18.3).
5. Записать в табл.18.3 соответствующую ёмкость.
Таблица 18.3
Прямая |
Обратная |
||
U, В |
С, пФ |
–U, В |
С, пФ |
0 |
|
0 |
|
0.10 |
|
0.1 |
|
0.20 |
|
0.3 |
|
0.30 |
|
1.0 |
|
0.40 |
|
1.3 |
|
0.50 |
|
1.6 |
|
0.60 |
|
2.0 |
|
0.70 |
|
3.0 |
|
0.80 |
|
4.0 |
|
0.90 |
|
5.0 |
|
1.0 |
|
7.0 |
|
1.1 |
|
10.0 |
|
1.2 |
|
15.0 |
|
6. Устанавливая требуемые значения напряжения (см. табл.18.3) кнопками «+» и «–», записывать соответствующие значения ёмкости.
7. Нажатием кнопки КН3 установить нулевое напряжение.
8. Переключателем КН1 выбрать режим снятия обратной характеристики.
9. Повторить измерения по пунктам 4÷7 задания 2, данные записывать в табл.18.3.
12. Построить график зависимости С=f(U) – ВФХ исследуемого диода; при этом прямое напряжение считать положительным, обратное – отрицательным.
Таблица 18.4
№ |
Uпр., В |
Спр., пФ |
Uобр., В |
Собр, пФ |
Uк., В |
Uк. ср. , В |
ΔUк., В |
ΔUк. ср., В |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
||
3 |
|
|
|
|
|
|
||
4 |
|
|
|
|
|
|
||
5 |
|
|
|
|
|
|
13. Выбрав любую пару значений ёмкости при прямом и при обратном включении Спр. и Собр, по формуле (18.6) вычислите контактную разность потенциалов Uк. При подстановке соответствующих значений Uпр. и Uобр. помните, что в формуле (18.6) используется модуль обратного напряжения.
14. Повторите вычисления Uк ещё с четырьмя парами значений ёмкостей Спр. и Собр.
15. Определите среднее значение Uк и оцените его погрешность ΔUк.
16. Все данные запишите в табл.18.4.
17. Сделайте выводы.