
- •Волновая оптика. Квантовая физика. Статистическая физика.
- •Содержание
- •Введение
- •Изучение интерференции света с помощью бипризмы Френеля
- •Теоретическое введение
- •Метод Юнга.
- •Бипризма Френеля
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение дифракции монохроматического лазерного излучения на дифракционной решётке
- •Теоретическое введение
- •Дифракция на щели
- •Дифракционная решетка
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Проверка закона Малюса
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Вращение плоскости поляризации
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение зависимости показателя преломления стеклянной призмы от длины волны
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение постоянной Стефана-Больцмана
- •Теоретическое введение
- •Законы теплового излучения
- •Экспериментальная часть
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Лабораторная работа 3-07 Изучение явления внешнего фотоэффекта
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение опыта Франка и Герца.
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение поглощения света
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы.
- •Контрольные вопросы
- •Элементы классической статистики.
- •Нормальный закон распределения (закон Гаусса)
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение коэффициента вязкости воздуха и средней длины свободного пробега молекул
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение работы выхода электронов из металла
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Определение коэффициента линейного теплового расширения
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений и экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Исследование эффекта Зеебека
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Методика измерений
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Эффект Холла
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Экспериментальная часть
- •Измерительная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Изучение работы полупроводникового диода
- •Теоретическое введение
- •Экспериментальная часть
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Используемая литература
- •Библиографический список
- •Волновая оптика. Квантовая физика. Статистическая физика
Экспериментальная часть
Приборы и оборудование: исследуемые образцы (металл, полупроводник), нагревательная печь, термометр, вольтметр, амперметр, выпрямительный мост.
Методика измерений
Температурная зависимость сопротивления полупроводника определяется формулой (см. (16.9)):
(16.13)
где Еg – ширина запрещенной зоны, k – постоянная Больцмана, R0 – постоянная величина, характеризующая свойства полупроводника (R0=R при Т→).
Проведя логарифмирование (16.13), получим:
.
(16.14)
График
зависимости
от
является прямой линией с угловым
коэффициентом
(рис.16.6). Определив тангенс угла наклона
прямой к оси абсцисс, можно найти энергию
активации (ширину запрещённой зоны)
полупроводника:
.
(16.15)
Сопротивление R вычисляется из опытных данных по закону Ома:
,
(16.16)
где I – измеренный ток, U – напряжение.
Температурный коэффициент сопротивления металла можно определить, используя формулу (16.12):
,
(16.12а)
,
(16.12б)
где R0 – сопротивление металлического образца при t=00С.
Экспериментальная установка
С
хема
экспериментальной установки представлена
на рис.16.7. Образцы помещены внутри
нагревательной печи 1. Температура
измеряется ртутным термометром 2. Печь
подключается через индуктивное
сопротивление 3 к сети переменного
напряжения 220 В. Через образцы 4, соединённые
последователь‑
но, пропускается
постоянный ток после его выпрямления
мостом 5. Тумблер 6 переключает вольтметр
на измерение напряжения либо на
полупроводниковом образце (нижнее
положение), либо на металлическом
(верхнее положение).
Порядок выполнения работы
Внимание! Нагрев начинается сразу после включения установки в сеть. Заранее подготовьте таблицы для записи опытных данных.
1. Установите тумблер 6 в нижнее положение (полупроводник).
2. Включите установку в сеть.
3. Измерьте и запишите в табл.16.1 температуру t, силу тока I и напряжение U .
Таблица 16.1
t0C |
Т, К |
Полупроводник |
Металл |
||||||
I, A |
U, В |
R, Ом |
lnR |
, К-1 |
I, A |
U, В |
R, Ом |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
30 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
40 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
50 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
60 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
70 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
80 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
90 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
100 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
110 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
120 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
αм= |
4. Переключите тумблер 6 вверх (металл).
5. Запишите значения I и U при той же температуре.
6. Когда температура достигнет 300С, снова измерьте и запишите значения I и U для обоих образцов.
7. Измеряйте и записывайте значения тока и напряжения при температурах, указанных в табл.16.1.
8. Отключите установку от сети.
9. Для каждой температуры вычислите сопротивление обоих образцов по формуле (16.16).
10. Для полупроводника определите lnR и . Все полученные данные запишите в табл.16.1.
11.
Постройте графики зависимостей: R=f(T)
– для обоих образцов и
–
для полупроводника.
12. По графику R=f(T) для металла определите R0 – сопротивление при t=00C и вычислите температурный коэффициент сопротивления αм по формуле (16.12б).
13.
Используя график зависимости
для полупроводника, определите энергию
активации
по формуле (16.15). Выразите её в джоулях
и электрон-вольтах.
14. Оцените погрешности вычисленных величин αм и . Все полученные значения запишите в табл. 16.1.