
- •Оглавление
- •Предисловие
- •Лабораторная работа №1 Электроизмерительные приборы
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №2 Изучение электронного осциллографа
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №3 Построение силовых линий и эквипотенциальных поверхностей электростатического поля
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №4 Методы измерения сопротивлений и ёмкостей
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №5 Определение работы выхода электронов из металла
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №6 Определение отношения заряда электрона к его массе методом магнетрона
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №7 Зависимость сопротивления металлов и полупроводников от температуры
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №8 Изучение процессов заряда и разряда конденсатора
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №9 Изучение электрических свойств сегнетоэлектриков
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №10 Измерение составляющих магнитного поля земли
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 11 Изучение магнитного поля соленоида с помощью датчика Холла
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №12 Изучение явления взаимной индукции
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Лабораторная работа №13 Изучение гистерезиса ферромагнитных материалов
- •Сведения из теории
- •Вопросы допуска
- •Экспериментальная часть
- •Список литературы
Вопросы допуска
Как меняется сопротивление металлов и полупроводников с изменением температуры?
Что такое энергия активации электрона в полупроводнике? Как она находится в данной работе?
Что такое температурный коэффициент сопротивления? каков геометрический смысл температурного коэффициента сопротивления? как можно найти из графика R = f (T)?
Каким методом в данной работе измеряется сопротивление
Как можно использовать изученные явления в технике, быту?
Экспериментальная часть
Приборы и оборудование
Термометр
Металлическое сопротивление – медная проволока сопротивлением 100 Ом
Полупроводник-термосопротивление ММТ – 1.12 кОм
Переключатель на 2 положения
Мост постоянного тока
Плитка лабораторная ПЭЛ (300 Вт)
Стакан из термостойкого стекла, объем 250-400 мл
ЛАТР
Схема исследования и порядок выполнения работы
5
8
6
1
7
4
2
3
Рис. 7.2
Стакан с водой поставить на плитку. Погрузить в раствор исследуемые образцы.
Собрать схему согласно рис. 7.2. Для измерения сопротивления металла и полупроводника подключить к выходу двухпозиционного переключателя мост постоянного тока.
Получив разрешение преподавателя, провести измерения температуры и сопротивления. Включить эл. плитку в сеть через ЛАТР, установить 150 В. По мере изменения температуры поочередно проводить измерения сопротивлений и температур с шагом 5 оС. Результаты занести в таблицу.
-
T, оС мет.
Rмет, Ом
T, оС п/п
Rп/п, Ом
При достижении температуры 80-85 оС прекратить измерения, выключить плитку. Показать таблицу преподавателю. Разобрать установку.
Провести расчеты всех величин в таблице. Построить графики температурной зависимости сопротивления для металла и полупроводника.
Рассчитать температурные коэффициенты сопротивлений для металла. Оценить погрешности.
Построить график lnR= f (1 / T) для полупроводника. Найти энергию активации. Оценить погрешности. Привести данные о ширине запрещенной зоны для некоторых полупроводников.
По результатам работы сделать вывод.
Для получения зачета студент должен представить отчет, уметь оценить погрешности измерений и объяснить полученные результаты.
Литература: [1], гл. 7; [2], гл. 2, с.576; [6].
Лабораторная работа №8 Изучение процессов заряда и разряда конденсатора
Цель работы: изучение кривых заряда и разряда конденсатора при различных параметрах RC электрической цепи и вычисление времени релаксации.
Сведения из теории
Рассмотрим процесс заряда конденсатора в электрической цепи, содержащей последовательно соединённые конденсатор С, сопротивление R и источник ЭДС (рис. 8.1).
Рис. 8.1
Первоначально конденсатор не заряжен. Пусть I, q, U – мгновенные значения тока, заряда и разности потенциалов между обкладками конденсатора. Полагаем, что токи и напряжения удовлетворяют условиям квазистационарности, т.е. мгновенное значение тока во всех сечениях провода и элементах цепи (рис. 8.1) одно и то же, а соотношение между мгновенными значениями I, q и U такое же, как и в цепях постоянного тока. В момент времени t = 0 ключ К замкнули и в цепи пошёл ток, заряжающий конденсатор I = dq / dt, где q – заряд конденсатора. Применим закон Ома к цепи (рис. 8.1)
(8.1)
где R – полное сопротивление цепи, включающее внутреннее сопротивление источника ЭДС. Учитывая, что разность потенциалов на пластинах конденсатора U = q / C, запишем предыдущее уравнение в виде
(8.2)
Разделим переменные и проинтегрируем это уравнение с учётом начального условия: при t = 0, q = 0
Откуда
(8.3)
где qm = C – предельное значение заряда на конденсаторе.
Напряжение на конденсаторе изменяется по закону
закон изменения тока в цепи получим дифференцированием
(8.4)
где Io = / R. Графики зависимостей q (t) и I (t) представлены на рис. 8.2.
Рис. 8.2
Рассмотрим процесс разряда конденсатора ёмкостью С, пластины которого замкнуты сопротивлением R. Пусть dq – уменьшение заряда конденсатора за время dt. При разряде конденсатора в цепи (рис. 8.3) протекает ток I = – (dq / dt).
Рис. 8.3
Известно, что q = CU, где U – разность потенциалов на конденсаторе, а, следовательно, и на сопротивлении R. По закону Ома имеем U = IR, тогда
(8.5)
Уравнение (8.5) показывает, что скорость уменьшения заряда конденсатора пропорциональна величине этого заряда. Интегрируя уравнение (8.5) при условии, что в момент времени t = 0 q = qо, получим
(8.6)
откуда
(8.7)
Функция q(t) называется экспоненциальной. График зависимости q(t) приведён на рис. 8.4.
Рис. 8.4
Закон изменения напряжения на конденсаторе в процессе разряда аналогичен (8.7), т.е.
(8.8)
где Uo = qo / C.
Произведение RC имеет размерность времени = RC и называется постоянной времени или временем релаксации . За это время заряд конденсатора уменьшается в e раз. Для определения RC часто удобно измерять время, за которое величина заряда падает до половины первоначального значения, так называемое «половинное время» t1/2. «Половинное время» определяется из выражения
(8.9)
Взяв натуральный логарифм от обеих частей уравнения (8.9), получаем t1/2 = RCln2 = RC·0.693 или
(8.10)
Способ измерения постоянной времени состоит в определении t1/2 и умножении полученной величины на 1.44. Так как экспонента асимптотически приближается к оси абсцисс, то точно установить окончание процесса разряда конденсатора (так же как и процесса заряда) не представляется возможным. Поэтому целесообразно измерять время уменьшения величины заряда в 2 раза, т.е. «половинное время». За каждый интервал времени t1/2 = RC·0.693 заряд на ёмкости уменьшается в 2 раза (рис. 8.5).
Рис. 8.5
Если обкладки конденсатора попеременно подключать к источнику тока и к сопротивлению R (рис. 8.6), то график процесса заряд-разряд конденсатора будет иметь вид, показанный на рис. 8.7.
Рис. 8.6
Рис. 8.7
Процесс заряда-разряда можно наблюдать с помощью осциллографа, подавая на вход Y напряжение с конденсатора С.