1 1. Основные схемы рассеивания CuKγ (гамма) – излучения, энергии, длины волн.

Рис. демонстрирует возникновение CuKγ рентген-овского излучения. 2р переходит на незанятую 1s оболочку. Освободившаяся при этом энергия испускается в виде рентгеновских лучей. Переход с 2р к 1s сопровождается с α-излучением с длиной волны 1,5418Ᾰ. 3р на 1s создается К_β с длиной волны 1,3922Ᾰ.

15.Задачи решаемые в ходе РСА кристаллов.Возникают 3 задачи:1)найти размеры и форму элемент.ячеек решетки кристалла и количество атома,приходящ.на элементарн.ячейку.2)определить закон симметрии,по которому атомы должны размещаться в ячейке,т.е пространственную группу симметрии кристаллов.3)найти конкретное положение(координаты)каждого симметрически независимого атома ячейки.

М-поток падающих излучений,N-поток рассеивающих излучений.а-одномерная цепочка.Сдвиг фаз для элементарной ячейки: .Сдвиг фаз для двухатомов в элемент.ячейке: Услдовие Лауэ для дифракции рентген.лучей на цепочке одномерного кристалла: .Поскольку не превосходит 1,то ,только в этом случае происх.рассеивание рентгеновск.лучей.В случае 3-мерного кристалла: . a,b,c-периоды повторяемости вдоль осей x,y,z.По физич.смыслу целые числа p,q,r равен разностям хода лучей(выраженные в длинах волн)рассеиваемых в дифракц.направлении с соседними атомами,расположенными на осях x,y,z.Вместе 3 числа p,q,r характеризует одно из направлений и наз-ся индексами дифракц.луча.Каждый луч харак-ся своим индексом p,q,r.

13. Структурная амплитуда – это амплитуда волны, рассеянной в данном направлении всеми атомами элементарной ячейки. Она обычно выражается в электронных единицах, т.е. по отношению к интенсивности рассеяния одним электроном. На структурном факторе (амплитуде) сильно сказываются кристаллографические особенности кристаллической структуры: ее элементы симметрии, тип решетки. Структурный фактор (амплитуда) есть безразмерная величина, характеризующая только кристаллическую структуру. Структурный фактор ОЦК решетки. Базис ОЦК решетки состоит из двух одинаковых атомов. Их координаты в обычной элементарной кубической ячейке равны 000 и т. е. для одного из атомов , а для другого . Структурный фактор ГЦК решетки. Базис ГЦК решетки

состоит из четырех одинаковых атомов. Их координаты в обычной элеменатрной кубической ячейке: 000; ; ; .

12. Межплоскостное расстояние d_hkl по определению равно длине перпендикуляра, опущенного из начала координат на плоскость, пересекающую оси x, у, z. в точках a/h ; .b/k ; c/l.

Рентгеновский структурный анализ с 1916 г. начал применяться для определения межплоскостных расстояний и параметров ЭЯ моно- и поликристаллических в-в. В 50-х гг. XX в. начали бурно развиваться методы этого анализа с использованием ЭВМ в технике эксперимента и при обработке рентгеновских дифракционных картин. Результаты исследований практически для всех кристаллических в-в, а также кристаллических полимеров, аморфных тел и жидкостей широко представлены как в государственных, так и в международных стандартных справочных источниках.