- •4.Решетки Бравэ
- •5. Упругие волны в кубических кристаллах.
- •3. Точечная группа симметрии
- •6. Рентгеновские харак-кие спектры и испускания.
- •10. Уравнение Лауэ. Уравнение Вульфа-Брегга.
- •17. Общий алгоритм анализа спектров.
- •16. Роль структурного фактора в определении интенсивности рентгеновских спектров
- •1 1. Основные схемы рассеивания CuKγ (гамма) – излучения, энергии, длины волн.
- •2. Матрицы симметричных преобразований.
10. Уравнение Лауэ. Уравнение Вульфа-Брегга.
Пусть две дифракционные решетки поставлены одна за другой так, что их штрихи взаимно перпендикулярны. Такая пластинка представляет собой двумерную периодическую структуру.
Впервые дифракция рентгеновских лучей от кристаллов наблюдалась в 1913 г. в опыте Лауэ.
Найдем
условия образования дифракционных
max-ов
от трехмерной структуры. Проведем в
направлениях, по которым св-ва структуры
обнаруживают периодичность, координатные
оси x,
y, z (рис.
5.11.1). Структуру можно представить как
совокупность равноотстоящих параллельных
линейных цепочек из структурных
элементов, расположенных вдоль одной
из координатных осей. Рассмотрим
действие отдельной линейной цепочки,
||, например, оси х (рис.
2). Пусть на нее падает пучок параллельных
лучей, образующих с осью х угол
.Каждый
структурный элемент явл-ся источником
вторичных волн. К соседним источникам
падающая волна приходит с разностью
фаз
,где
(d1 —
период структуры вдоль оси х).
Кроме того между вторичными волнами,
распространяющихся в направлениях,
образующих с осью х угол α (все
такие направления лежат вдоль образующих
конуса, осью которого служит
ось х ), возникает
дополнительная разность хода
Под
действием рентгеновского излучения
каждый атом кристаллической решетки
становится источником сферических
волн той же частоты, что и падающих
волн.
Запишем условия Лауэ:
;
;
;
где
β0 -
угол между падающим пучком и осью y, β
-угол, образуемый с осью y направлениями,
вдоль которых получаются дифракционные
максимумы. n1,
n2,
n3
– целочисленные индексы, соответствующие
направлению α,β,
.
Уравнения носят название формул
Лауэ.
Русский ученый Ю. В. Вульф и английские физики У. Г. и У. Л. Брэгги показали независимо друг от друга, что расчет дифракционной картины от кристаллической решетки можно провести также следующим простым способом.
Проведем
через узлы КР || равноотстоящие плоскости
(рис. 3.). В дальнейшем мы будем называть
их атомными слоями. Если падающая на
кристалл волна плоская, огибающая
вторичных волн, порождаемых атомами,
лежащими в таком слое, также будет
представлять собой плоскость. Т.o,
суммарное действие атомов, лежащих в
одном слое, можно представить в виде
плоской волны, отразившейся от усеянной
атомами поверхности по обычным законам
отражения. Плоские вторичные волны,
отразившиеся от разных атомных слоев,
когерентны и будут интерферировать
между собой подобно волнам, посылаемым
в данном направлении различными
щелями дифракционной решетки. При этом,
как и в случае решетки, вторичные
волны будут практически погашать
друг друга во всех направлениях, кроме
тех, для которых разность хода между
соседними волнами явл-ся кратной λ.
Из рис.3 видно, что разность хода
двух волн, отразившихся от соседних
атомных слоев, равна
,
где d — период идентичности кристалла
в направлении, перпендикулярном к
рассматриваемым слоям, θ
- угол, дополнительный к углу падения
и называемый углом скольжения падающих
лучей. Следовательно, направления, в
которых получаются дифракционные
максимумы, определяются условием:
.
Соотношение наз-ся формулой Вульфа
— Брэгга.
Заметим, что расчет по формулам Лауэ
и расчет по формуле Вульфа — Брэгга
приводят к совпадающим результатам.
