- •Конспект лекций по дисциплине
- •Тема 2: Проектирование полупроводниковых ис на биполярных транзисторах Конструкции биполярных транзисторов
- •Многоэмиттерный транзистор
- •Многоколлекторный транзистор
- •Транзисторы типа p-n-p
- •Составные транзисторы
- •Торцевые транзисторы
- •Транзисторы с повышенным пробивным напряжением
- •Транзисторы для быстродействующих и сверхбыстродействующих цифровых ис
- •Интегральные диоды
- •Интегральные резисторы
- •Интегральные конденсаторы
- •Конструктивно-технологические варианты изоляции элементов микросхем друг от друга
- •Функционально-интегрированные элементы бис
- •Контакты к кремнию
- •Коммутационные проводники
- •Контактные площадки и внешние выводы микросхем
- •Вспомогательные элементы интегральных схем
- •Тема 3: Проектирование п/п имс на мдп транзисторах. Конструкции мдп -транзисторов.
- •Вспомогательные элементы мдп микросхем.
- •Конструкции кмдп бис.
- •Тема 4: Проектирование п/п биполярно- полевых имс.
- •Конструктивные варианты исполнения биполярного и полевого транзисторов в одном кристалле.
- •Функционально-интегрированные биполярно-полевые структуры.
- •Биполярно-полевые структуры с мдп транзисторами.
- •Мдп элементы полупроводниковых пзу.
- •Тема 5. Проектирование гибридных (гис) и больших гибридных имс и микросборок.
- •Подложки.
- •Конструкции пленочных резисторов.
- •Резисторы сложной формы.
- •Конструкции подгоняемых резисторов.
- •Тонкопленочные конденсаторы.
- •Материалы, используемые в конструкции конденсаторов
- •Конструкции подгоняемых конденсаторов
- •Конструкции пленочных индуктивностей
- •Распределенные lc- структуры
- •Навесные компоненты гис
- •Конструкции элементов коммутации
- •Тема 7: Общие вопросы конструирования п/п и гибридных имс. Конструктивные меры защиты интегральных схем от воздействия дестабилизирующих факторов.
- •Конструктивные меры улучшения теплового режима микросхем.
Коммутационные проводники
Коммутационные проводники наносятся непосредственно на термические окислы кремния. Минимальная ширина дорожек определяется возможностями литографии и плотностями токов, протекающих через них (от 1 до 4 мкм). В связи с особенностями автоматизированного проектирования и изготовления фотошаблонов изгиб проводников возможен на 90º или 45º. Разводка может быть одноуровневой и многоуровневой. В одноуровневой разводке пересечение проводников устраняется либо прокладкой трасс поверх диффузионных резисторов или методом подныривания.
В этой конструкции сильно легированный n+ слой играет роль перемычки в месте пересечения проводников. Подныривающий проводник обязательно должен иметь положительный потенциал относительно подложки. Так как этот участок имеет значительное сопротивление (3÷5 Ом), вносит дополнительную емкость, занимая большую площадь из-за необходимости отдельной изолирующей площади, то диффузионные перемычки используют в исключительных случаях. Диффузионные перемычки неприемлемы в цепях питания и земли. В интегральных схемах с коллекторной изолирующей диффузией нижнего подныривания шина пересечения может сформироваться на этапе изолирующей диффузии на основе скрытого слоя и диффузионного n+ слоя.
В
таких конструкциях можно создавать не
только пересечения проводников, но и
целую систему разводки в приповерхностном
слое кремния, в том числе шин питания;
причем, эти проводники имеют самоизоляцию,
что приводит к существенной экономии
площади кристалла.
Такая конструкция применяется в матричных БИС. Необходимые соединения элементов матрицы осуществляются на заводе изготовителя в приповерхностном слое, а алюминиевая разводка в соответствии с принципиальной схемой устройства выполняется самим потребителем на поверхности кристалла.
Многоуровневая разводка используется в БИС и позволяет резко сократить площадь кристалла засчет площади, отводимой под разводку. Многоуровневая разводка позволяет также сократить длину межэлементных связей и задержку распространения сигналов.
Для межуровневой металлизации в основном используют алюминий. Изоляция слоев осуществляется обычно при помощи окиси кремния, фосфороселикатного стекла или полиамидного лака (выдерживающий температуру до 400 ºС).
Основная опасность при производстве многослойной разводке - это возможность дефектов диэлектрика и утончения в металлических пленках на ступеньках диэлектрических слоев.
Для устранения дефектов используют двукратное осаждение диэлектрика. Для устранения утончений используют следующие конструктивные меры:
1. отношение толщины окисла к металлу – 1 к 3;
2. сглаживание ступенек в диэлектрике у сквозных отверстий и на пересечении металлических дорожек разных уровней;
3. увеличение толщины металлических проводников более высоких уровней.
Полиамидные пленки имеют высокую механическую и радиационную стойкость и позволяют уменьшить число разрывов металлизации на ступеньках, однако полиамидная пленка дорога, поэтому используется в интегральных схемах повышенной надежности.
