
- •Введение
- •Электронно-дырочный p-n-переход и полупроводниковые диоды на основе этого перехода
- •1.2.1. Температурные свойства p-n-перехода
- •1.2.2. Частотные и импульсные свойства p-n-перехода
- •Структура контакта «Металл-полупроводник» (мп) и полупроводниковые диоды на основе этой структуры.
- •4. Математическая модель диодов, практическая ценность модели
- •5. Диоды разного функционального назначения
- •5.2. Стабисторы
- •6. Элементы интегральных схем
- •6.1.Общие сведения об интегральных схемах (ис)
- •Особенности ис
- •Теоретическое обобщение по теме 1-го раздела
Структура контакта «Металл-полупроводник» (мп) и полупроводниковые диоды на основе этой структуры.
Одна из областей такой структуры является металлом, а другая полупроводником.
Структуры МП, в зависимости от функционального назначения, могут выполнять как выпрямляющие функции p-n-перехода, так и функции обычных омических контактов.
а)
|
б) |
Рис.1.6.
На рис.1.6. показаны: условное графическое изображение диода Шоттки на схемах(рис.1.6 а), ВАХ диода Шоттки (VDШ) и выпрямительного диода (VD обычный)
В основе работы диодов Шоттки используется эффект Шоттки: ток в них образуется за счёт основных носителей, следовательно, накопления объёмного заряда не происходит, влияние диффузионной ёмкости сведено практически к нулю. Поэтому переключающие свойства электронных приборов, выполненных на основе контакта «металл-полупроводник», гораздо выше по сравнению с приборами на основе контакта «полупроводник-полупроводник».
Большой интерес представляет структура контакта полупроводника с диэлектриком (Si-SiO2), в основе которого лежит влияние свойства среды, с которой граничит полупроводник, на свойства приповерхностного слоя. Примером могут служить контакты МП, так как наличие металла на поверхности полупроводника приводит к образованию в нём обеднённого или обогащённого слоёв; если кремний имеет проводимость n-типа, то электроны, перешедшие в него из SiO2, обогащают приповерхностный слой основными носителями, образуя, при этом, n-канал («незапланированный») Возникновение таких незапланированных каналов под слоем SiO2 нормализует работу ИС.
Статические параметры диодов
Все параметры диодов перечислить невозможно (их много), да и разумнее будет назвать лишь те параметры, которые широко используются для диодов разных групп:
Iпр.макс ─ максимально допустимый прямой постоянный ток;
rдиф ─ дифференциальное сопротивление диода по переменной составляющей тока;
r0 ─ статическое сопротивление диода по постоянной составляющей тока (определяется в рабочей точке на ВАХ);
Uпр. = U* ─ падение напряжения на открытом диоде, соответствующее номинальному току;
Iобр ─ постоянный обратный ток через диод, когда он закрыт;
Uобр ─ обратное напряжение ─ наибольшая разность потенциалов, приложенная к диоду, когда он закрыт;
S ─ крутизна ─ характеризует проводимость диода на участке «анод-катод»; на крутизну ВАХ заметное влияние оказывает сопротивление, распределённое в слое базы ─ rб.
Pадоп ─ Мощность рассеяния, допустимая для определённого типа диода. Превышать её нельзя: прибор выйдет из строя.
Для силовых диодов величина токов и обратных напряжений может достигать килоампер и киловольт соответственно.
Конкретное использование выпрямительных диодов в блоках питания смотрите в разделе «Источники вторичного электропитания».
4. Математическая модель диодов, практическая ценность модели
При анализе электронных схем на ЭВМ все электронные приборы должны быть представлены их физическими и математическими моделями.
Общее определение для математической модели полупроводниковых приборов
Математической моделью полупроводниковых приборов называется система уравнений, описывающих физические процессы в приборе. В математическую модель входят физическая модель прибора и математические выражения, описывающие элементы этой модели. Один и тот же прибор можно описать несколькими математическими моделями: важна степень точности модели прибора, то есть степень соответствия прибора и модели.
Простые модели диода первого порядка полезны для выполнения анализа вручную. Такие модели дают не очень высокую точность, но они помогают понять работу схемы и обозначить её главные параметры
4.1. Модели для ручного анализа
Уравнение идеального
диода
позволяет
формировать простейшую модель диода
при ручном анализе диодных цепей
(рис.1.7)
|
Приведённая модель (рис.1.7) даёт довольно точные результаты, но имеет недостаток: имеет сильную нелинейность. |
Рис.1.7.
Для получения более точных результатов рекомендуется использование сложных моделей хотя бы второго порядка и компьютерное моделирование.
4.2. Компьютерное моделирование.
Компьютерное моделирование используется для более сложных цепей.
На рис.1.8. представлена более сложная физическая модель диода и его ВАХ. После аппроксимации ВАХ видно, что наибольшая погрешность модели приходится на участок, где U пр < U д0.
а) |
б) |
Рис.1.8.
rб ─ омическое сопротивление, распределённое в слое базы.
rут ─ сопротивление утечки реального диода.
УИТ ─ управляемый источник тока (Iд), который моделирует статическую ВАХ диода.
Этот ток можно представить выражением
Iпроб ─ источник тока, который моделирует увеличение тока через диод при обратных напряжениях, близких к пробивному (Uпроб)
Этот ток можно представить выражением
Сбар и Сдиф ─ ёмкости диода, которые отражают динамические свойства диода (или переходные процессы в диоде)
Зависимость Сбар от приложенного напряжения можно представить уравнением
где ψ; γ ─ параметры аппроксимации (ψ ≈ 1; γ ≈ 0,3…0,5)
Сбар0 ─ барьерная ёмкость при напряжении на диоде Uд = 0.
Диффузионную ёмкость, как накопитель неосновных неравновесных носителей можно представить уравнением
где τэ ─ эффективная постоянная времени.
В диодах с широкой базой τэ рассматривается как время жизни неосновных носителей в базе.
В диодах с узкой базой τэ рассматривается как время пролёта носителей через базу.
m ─ коэффициент плавности; этот параметр вводится для того, чтобы определиться ─ с резким или плавным p-n-переходом имеем дело. Для резкого перехода (когда переход от n-материала к p-материалу не имеет протяжённости) m = 0,5, а для плавного (или линейного) m = 1/3.
Вывод.
Если при анализе
электронных схем будет использоваться
приведённая на рис.11.18 динамическая
модель диода, то предварительно придётся
определить следующие параметры модели:
где I0 ─ ток насыщения; Iд ─ номинальный ток открытого диода;
φt ─ тепловой потенциал; φ0 ─ контактная разность потенциалов при нулевом смещении на переходе; φд ─ контактная разность потенциалов с учётом коэффициента эмиссии.
В качестве примера компьютерного моделирования воспользуемся стандартной PSPICE-моделью диода (ри.1.9)
Статическая ВАХ диода в PSPICE-модели моделируется нелинейным источником тока «Iпр», который описывается уравнением идеального диода
|
Рис.1.9.
При необходимости в уравнение можно ввести коэффициент эмиссии «n» («nφt»), но, как правило, он равен единице, поэтому, в данном уравнении его нет.
Резистор Rобл моделирует последовательное сопротивление, вносимое областями по обе стороны перехода: при более высоких уровнях тока, сопротивление тоже не остаётся постоянным, и поэтому напряжение Uд будет отличаться от внешнего прикладываемого напряжения. И величина тока тоже может оказаться ниже той, которую получаем из уравнения идеального диода.
Ёмкость Сд (нелинейная ёмкость) моделирует переходные процессы в диоде, связанные с эффектом накопления объёмного заряда в базе.
Данная модель не отражает такие эффекты как пробой, высокие уровни инжекции и шум, это уже эффекты второго порядка, которые могут быть отражены в более сложной модели. Моделирование простых и более сложных моделей диода можно выполнять, используя пакет PSPICE: последние десятилетия показали, что PSPICE-модель является наиболее успешной.