2. Методыизмеренияпараметровфотоэлектрическихполупроводниковыхприемников

ИзмеренияпараметровФЭППмогутпроизводитьсянанемодули-рованном,модулированномиимпульсномизлучении.Измеренияшу-ма,пороговогопотокаиобнаружительнойспособностипроводятсятолькоприиспользованиимодулированногоизлучения.

ИЗМЕРЕНИЕТЕМНОВОГО,ОБЩЕГОТОКАИФОТОТОКА

Измеренияпроводятпосхеме,изображеннойнарис.5.3.Источникизлучениявыбираютисходяизобластиспектральнойчувствительно-стиирежимаработыФЭПП.ДляФЭПП,чувствительныхввидимойобластиспектра,используютлампунакаливаниясцветовойтемпера-туройT_c2856100К,дляФЭППсчувствительностьювинфракрас-нойобластиспектра–полыеизлучатели,моделиАЧТстемпературойполостиT_АЧТ127315КиT_АЧТ5002К.

Всостависточниковизлучениямогутвходитьтакжеоптическиеэлементы:зеркала,линзы,объективы,аттенюаторыит.д.Темновой

4

1 2 5 6

3

Рис.5.3.Схемаизмерениятоков:

1–источникизлучения;2–ФЭПП;3–светозащитныйэк-ран;4–измерительтока;5–измерительнапряжения;6–источникпитания

токизмеряетсяприполнойэкранировкеФЭППотизлучения,затемизмеряетсяполныйток,текущийчерезФЭППприпадениинанегоизлучения,афототокопределяетсякакI_фI_общI_т.

РАСЧЕТПОТОКАИЗЛУЧЕНИЯИСТАТИЧЕСКОЙТОКОВОЙЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ

Статическаятоковаячувствительностьопределяетсяпоизмерен-номуфототокуирассчитанномупотокуизлучения:

S_II_фФ,

гдеФ–потокизлучения,измеренныйвваттах(Вт)дляэнергетическойсистемыивлюменах(лм)дляфотометрическойсистемы.

Потокизлученияприиспользованиилампынакаливанияиаппара-туры,невключающейвсебяоптическиеэлементы,вычисляетсяпоформуле

ФЕА_эф

(лм),

где

^Аэф

–эффективнаяплощадьФЭПП,м²;Е–освещенность,изме-

ряемаявлюксах(лк)ивычисляемаяпоформуле

2

EI_свl,

гдеl–расстояниемеждуцентромтеланакалаисточникаиплоско-

стьюфоточувствительногоэлементаФЭПП;

ряемаявканделах(кд).

^Iсв

–силасвета,изме-

ПотокизлученияприиспользованиимоделиАЧТрассчитывается

поформуле

_₁Т^4₂Т⁴_А_эфF

1 2

2

Ф_э

l

(Вт),

где

^1,2

–коэффициентизлученияполостиАЧТидискамодулятора

соответственно;

4

Т

1,2

–температураполостиАЧТидискамодулятора

соответственно;F–площадьотверстиядиафрагмы,м².

Вслучаемодуляциипотокаизлученияегодействующеезначение

рассчитываетсякак

Ф_э1Ф_эβ,где–коэффициентмодуляции,ко-

торыйдляэлектромеханическихмодуляторовсвращающимисядис-камиспрорезямизависитотформыпрорезииееразмераизадаетсятаблично.

ИЗМЕРЕНИЕНАПРЯЖЕНИЯ(ТОКА)ФОТОСИГНАЛАИНАПРЯЖЕНИЯ(ТОКА)ШУМАФЭПП

Дляпроведенияуказанныхизмеренийиспользуетсясхема,изобра-женнаянарис.5.4.

1 2 3 4

5 6

Рис.5.4.Схемаизмерениянапряжения(то-ка)фотосигналаинапряжения(тока) шума:

1–источникизлучения;2–модулятор;3–ФЭПП;4–усилительноеустройство;5–источ-никпитания;6–регистрирующееустройство

Обычнодлямодуляциипотокаизлученияприменяютэлектромеха-ническиемодуляторысвращающимисядискамии100%-йглубиной

модуляции.Частотамодуляциидолжнабытьравна

f_мод80012

Гц.

Конструкциямодуляторадолжнабытьтакой,чтобызаконизмененияпотокаприближалсяксинусоидальному.Вкачествеусилительныхуст-ройствприменяюткакселективные,такиширокополосныеусилители.

Еслиприменяетсяселективныйусилитель,тооннастраиваетсяначастотумодуляциипотокаизлучения.Эквивалентнаяшумоваяполоса

пропусканияусилителя(f_экв)должнаудовлетворятьусловию