
- •Вопрос 1(разновидность компонентов)
- •Вопрос 2(фхп литографии)
- •Вопрос 3
- •5 Вопрос(получение монокристов
- •5) Основы получения монокристаллических слитков полупроводников
- •Вопрос8(диффузия)
- •Вопрос11(основные положения окисления)
- •30Вопрос(роль вакуума)
- •Вопрос 6(раздедение на пластины)
- •26Вопрос(ис)
- •Вопрос 4(фхп неразъемных)
- •32Вопрос(узлы вакуумных систем)
- •Вопрос 7(пп плоскопарралельные пластины)
- •Вопрос9(фхп граница Me)
- •21Вопрос(рост пленок электрохим зараждение)
- •Вопрос19(катодное распыление
- •Вопрос10(фхп силициды)
- •Вопрос12(рост термического оксида)
- •14Вопрос(радиационные дефекты)
- •18Вопрос(электронные пучки)
- •17Вопрос(электроннолучевое распыление)
- •20Вопрос(тонкие пленки реактивно)
- •27(Виды ис)
- •22Вопрос(эпитаксиальные слои гомо)
- •29Вопрос(тонкие пленки лазерное распыление)
- •31Вопрос(пленки ионно-плазменное)
- •33Вопрос(электрохим осаждение пленок)
- •2.1. Физические основы.
- •2.2. Принципиальная схема установки и характеристики метода.
- •Вопрос28(разновидность элементарных пп)
- •34Вопрос(реактивные процессы пленок)
- •25Вопрос(этапы развития пп)
- •Вопрос24(резка пластин на кристы)
- •Очистка поверхности газовым травлением
- •Плазменные методы удаления материала с поверхности твердого тела. Сущность и классификация методов обработки поверхности
- •15 Вопрос(ионная иплантация)
- •16Вопрос(термическое испарение)
18Вопрос(электронные пучки)
Способ получения электронного пучка заключается в:
1.проведении в непрерывном или импульсном режиме высоковольтного разряда в разрядном промежутке между катодом и анодом (в объеме разрядной камеры, заполненной газом),
2.ускорении и извлечении электронного пучка через отверстия в аноде,
3.осуществлении подачи на катод светового потока, вызывающего фотоэффект, от внешнего по отношению к разрядному промежутку источника излучения при проведении высоковольтного разряда, (при этом если увеличивают напряжение, то понижают давление газа в разрядной камере, причем в качестве внешнего по отношению к разрядному промежутку источника излучения используют дрейфовое пространство за анодом, вблизи катода формируют протяженную область с низким градиентом потенциала, а в объеме разрядной камеры между протяженной областью с низким градиентом потенциала и анодом используют вставку с диэлектрическими каналами, в которых осуществляют ускорение электронов, причем в качестве анода используют плоскую пластину с просверленными отверстиями). Величину подаваемого в непрерывном режиме напряжения варьируют от 1,5 до 10 кВ. Применение данного способа для получения электронных пучков дает возможность получать их с высокой эффективностью и продлевать срок службы катода.
17Вопрос(электроннолучевое распыление)
Данным способом получают самые чистые пленки. Юзая низкий ток и высокое нарпяжение можно распылить практически любой материал в широком диапазоне скоростей. Можно испарять несколько материалов и получать несколько слоев пленок. Испарение происходит из испаряемого материала.
20Вопрос(тонкие пленки реактивно)
Технология ионно-плазменного нанесения (ИПН) основана на процессе физического распыления поверхности материала (мишени), из которого необходимо создать пленку, ионами инертного газа, генерируемыми в контактирующей с распыляемым материалом низкотемпературной газоразрядной плазме. Поток распыленных частиц осаждается на приемную подложку, формируя пленочное покрытие. Процесс образования и роста пленки сопровождается бомбардировкой подложки атомами и ионами инертного газа, а также электронами и фотонами, т. е. стимулируется плазменным разрядом. Если плазма создана в смеси инертного и химически активного (реактивного) газов, то технологию называют реактивным ионно-плазменным нанесением (РИПН). В этом случае подложку кроме распыленных частиц и частиц инертного газа бомбардируют химически активные частицы (ХАЧ) или же ХАЧ образуются на самой подложке при диссоциации адсорбированных молекул реактивного газа под стимулирующим воздействием плазмы. Такие условия процесса приводят к формированию пленок химических соединений: оксидов, нитридов и карбидов материала мишени.
27(Виды ис)
совмещенная интегральная схема, в к-рой все активные элементы (напр., диоды, транзисторы) выполнены в объёме и на поверхности ПП подложки по пленарной технологии, а пассивные элементы (напр., резисторы, конденсаторы) и межэлементные соединения нанесены в виде плёнок на поверхность сформированной монолитной структуры
Гибридная интегральная схема,— интегральная схема, в которой наряду с элементами, неразъёмно связанными на поверхности или в объёме подложки, используются навесные микроминиатюрные элементы (транзисторы, полупроводниковые диоды, катушки индуктивности, вакуумные электронные приборы, кварцевые резонаторы и др.).
Твердотельная интегральная схема – это законченный функциональный электронный узел, элементы которого конструктивно не разделены и изготавливаются в едином технологическом процессе, в объеме и на поверхности полупроводникового кристалла.( но в конспекте такое определение – ИС, в которой активные и пассивные элементы находятся внутри объема твердого тела)
Толстопленочными называются интегральные микросхемы с толщиной пленок 10—70 мкм, изготавливаемые методами трафаретной печати (сеткография).