3.8 Оформление результатов поверки

3.8.1 При выполнении операций поверки оформляются протоколы произ­вольной формы.

3.8.2 Результаты поверки оформляются путем выдачи “Свидетельства о поверке” или “Извещения о непригодности”, в соответствии с ПР 50.2.006-94.

4 Текущий ремонт

4.1 Текущий ремонт тестера производится потребителем в соответствии с таблицей 8.

Таблица 8

5 Транспортирование и хранение

5.1 Транспортирование

Транспортирование тестера производится в упакованном виде автомобильным транспортом (закрытый брезентом), в закрытых железнодорожных ва-­гонах, негерметизированных кабинах самолетов и вертолетов, трюмах речного транспорта при температуре от минус 50 до плюс 50 °С и относительной влаж­ности воздуха до 80 % при температуре плюс 25 °С.

5.2 Хранение

Тестер в упакованном виде устойчив к хранению его в течение 12 мес (с момента отгрузки тестера, включая срок транспортирования) в складских неотапливаемых помещениях при температуре от минус 50 до плюс 50 °С, среднемесячном значении относительной влажности 80 % при температуре плюс 20 °С.

Допускается кратковременное повышение влажности воздуха до 98 % при температуре до плюс 25 °С без конденсации влаги, но суммарно не более 1 мес в год.

Перечень принятых сокращений

В настоящем руководстве по эксплуатации приняты следующие обозначения и сокращения:

АГ-71 – плата анализатора и генератора тестового сигнала 2 Мбит/с;

ВТЧ – выделитель тактовой частоты;

ЖКИ – жидкокристаллический индикатор;

ЗГ – задающий генератор;

ЗУ-71 – плата зарядного устройства и питания;

КИ – канальный интервал;

КУ-71 – плата контроля, управления и индикации;

ОЗУ – оперативное запоминающее устройство;

ПСП – псевдослучайная последовательность;

ПЭВМ – персональная ЭВМ;

AIS – прием сигнала аварийной сигнализации;

BER – коэффициент ошибок больше 1x10^-3;

BIT (ERBIT) – битовая ошибка;

CODE (ERCODE) – кодовая ошибка;

FAS – ошибка цикловой синхронизации;

LOF – потеря цикловой синхронизации;

LOM – потеря сверхцикловой синхронизации;

LOS – потеря сигнала 2 Мбит/с на входе тестера;

MREM – авария сверхцикловой синхронизации на дальнем конце;

NPAT – несоответствие информационной структуры тестового сигнала на передаче и приеме;

REMT – авария цикловой синхронизации на дальнем конце;

SLIP – проскальзывание;

frm – структура цикла;

off – выключено;

on – включено;

unfrm – отсутствует структура цикла.

П риложение а

Резисторы: R1, R3 - С2-33Н-0,125-67,5 Ом±5 %,

R2, R4 - С2-33Н-0,125-3 Ом±5 %.

Трансформатор: Сердечник ферритовый 2000НМ, диаметр 20 мм, высота 5 мм, количество витков 8-10, обмотки 1 и 2 образуют линию с волновым сопротивлением 120 Ом.

Рисунок 11 – Переход 120 Ом (симметричный вход) на 50 Ом (несимметричный выход), затухание - 11 дБ