
- •2.Место и роль плазменных процессов в технологии микроэлектроники.
- •4.Сечение процесса. Функция распределения электронов по энергиям и определяющие ее параметры. Л1(§1.3, подробности про ур. Больцмана можно опустить), лекции
- •5. Гибель (рекомбинация) нейтральных и заряженных частиц. Л1(§1.4, в конце. Вся математика нужна!), лекции
- •6.Транспорт активных частиц плазмы. Амбиполярная диффузия.
- •7.Транспорт активных частиц плазмы. Плавающий потенциал.
- •15. Способы генерации плазмы. Сравнительная характеристика различных систем.
- •16. Плазменное травление: область применения, типовые реакторы, зависимости скорости от внешних параметров процесса.
- •17 Радикальное травление: область применения, типовые реакторы, зависимости скорости от внешних параметров процесса
- •18 Ионно-плазменное травление: область применения, типовые реакторы, зависимости скорости от внешних параметров процесса.
- •19 Реактивное ионно-плазменное травление: область применения, типовые реакторы, зависимости скорости от внешних параметров процесса.
- •20 Стимулированное травление: область применения, типовые реакторы, зависимости скорости от внешних параметров процесса.
- •21 Методы контроля параметров плазмы и процессов плазменного травления.
1.Неравновесная низкотемпературная газоразрядная плазма: основные понятия, определения, свойства. Л1 (введение, §1.1), лекции, интернет. Вывод формулы Дебаевского радиуса экранирования в этом вопросе, см. §1.2.
Плазма - состояние вещества, характеризующееся высокой степенью ионизации и равенством концентраций положительных и отрицательных зарядов (квазинейтральностью). Газ в состоянии плазмы находится в следующих видах разряда:положительный столб тлеющего и дугового разряда; дуговой разряд низкого давления с накаленными электродами; отдельные области высокочастотного и сверхвысокочастотного разрядов.Плазма в общем случае состоит из электронов, ионов и нейтральных частиц - атомов и/или молекул (радикалов), находящихся как в основном, так и в возбужденных (вращательных, колебательных, электронных) состояниях. Низкотемпературная неравновесная газоразрядная плазма представляет собой слабоионизованный газ при давлениях 10-1 – 103 Па со степенью ионизации 10-5 – 10-3. Параметры плазмы – набор физико-химических величин, однозначно определяющих состояние плазменной системы. Внешние (задаваемые): Тип плазмообразующего газа, Давление газа и скорость его потока через зону плазмы, Мощность, вкладываемая в плазму (расходуемая на ее поддержание). Внутренние: Приведенная напряженность поля E/N, Энергетические распределения и средние энергии (температуры) частиц, Концентрации и потоки частиц. Существование стационарной ННГП возможно при выполнении четырех основных условий:1) Квазинейтральность(равенство суммарного положительного и отрицательного зарядов частиц плазмы в больших объемах и за большие промежутки времени) 2)Дебаевский радиус(L>>rd)(Дебаевский радиус определяет величину пространственного разделения зарядов в плазме, которая не приводит к нарушению квазинейтральности) 3) Дебаевская сфера(Nd>>1) 4) Коллективное поведение.
ВЫВОД РАДИУСА ДЕБАЯ: Для количественного определения масштабов расстояний, на которых возможно отклонение от квазинейтральности, рассмотрим простую модель. Предположим, что газ первоначально электрически нейтрален и что электроны и ионы распределены в пространстве равномерно. В начальный момент времени концентрации электронов и ионов равны: ne nn . Определим, какую работу необходимо совершить для перемещения всех электронов в направлении оси Y на расстояние d . Очевидно, что эта работа будет равна работе по созданию слоя положительного объемного заряда между плоскостями y0 и yd. Пусть y0 - некоторое промежуточное смещение электронов, тогда напряженность электрического поля E, возникшая при появлении объемного заряда плотностью ρne , в общем виде определится уравнением Пуассона:
∇⋅E ρ/ ε0, Предполагая, что до смещения электрическое поле отсутствовало, и Ey yявляется непрерывной функцией, в рамках рассматриваемой одномерной модели имеем:
y ≤ 0:dEy/dy 0 ⇒Ey 0
0≤y≤y0: dEy/dy=ne/ ε0⇒Ey y *( ne/ ε0)
yy0 : dEy/dy 0 ⇒Ey Ey y0 y0 *( ne/ ε0)
Рис. 1.2.1. Работа, необходимая для создания области положительного объемного заряда: а-начальное положение; б-промежуточное положение
В
области плазмы справа от точки y0
электрическое
поле, действующее на каждую частицу,
составляет Ey
y0
,
при этом работа, необходимая для
перемещения каждого дополнительного
электрона на расстояние dy0
,
равна dW
eEy
y0
dy0
.
Полная работа по разведению зарядов на
расстояние d
определится выражением W=
В частности, если энергия, затрачиваемая на разделение зарядов, равна средней энергии теплового движения частиц (kT 2), то соответствующее смещение d λD называется дебаевским радиусом экранирования:
2.Место и роль плазменных процессов в технологии микроэлектроники.
Л1(§1.1 – мало!), лекции, интернет
Использование ННГП в практических целях сосредоточено, в основном, в секторе производства изделий электронной техники: Осаждение покрытий. Органика осаждается с помощью Плазменно-стимулированной полимеризации(плюсы: Высокая плотность сшивок, Контролируемая структура, Точное и равномерное распределение примесей). Неорганика осаждается с помощью плазменно-стимулированного осаждения. Модификация поверхности- изменение свойств тонкого поверхностного слоя(Изменение реакционной способности, Улучшение адгезии, Сшивка (упрочнение), Изменение физико-хим. свойств, Новые функцион. группы ). Очистка- удаление органических и неорганических загрязнений с поверхности (например удаляют: Фоторезист, Органические загрязнения, Комплексы металлов, Металлы, Естесвенные и искусственные окислы). Травление: 1)Ионное травление(Физ. распыление ионами благородных газов Ei = 100 – 1000 eV) Ионное травление подразделяется на Ионно-плазменное и Ионно-лучевое.
2) Реактивное ионное травление (Комбинация физ. распыления и химических реакций). Реактивное ионное травление делится на Реактивное плазменное и реактивное лучевое. 3) Плазмохимическое травление (Хим. реакции с образованием летучих продуктов) этот вид травления делится на плазменное и радикальное.
3. Активные частицы плазмы. Реакции под действием электронного удара, их типы и кинетические характеристики.Л1(§1.3 – типы механизмов и §1.4, вторая часть, – подробности про каждый механизм), лекции (классификация активных частиц).
Любые эффекты взаимодействия плазмы с обрабатываемой поверхностью формируются под действием потоков на эту поверхность активных частиц плазмы. Под активными частицами следует понимать любые частицы, не характерные для данного газа в нормальных условиях, но образующие и существующие непосредственно в условиях плазмы. (свободные атомы и радикалы в основном и возбужденном состояниях, колебательно- и электронно возбужденные молекулы, положительные и отрицательные ионы, электроны и кванты собственного УФ излучения плазмы. ). Активные частицы делятся на 2 типа:1)Химически активные частицы(Химически реагируют с обрабатываемой поверхностью с образованием летучих продуктов взаимодействия) (Молекулы, Атомы, радикалы, Ионы хим. активных частиц). 2) Энергетически активные частицы (Химически инертны по отношению к обрабатываемой поверхности, но являются носителями энергии >> kТ) (Возбужденные нейтральные частицы, Ионы, электроны, УФ кванты).
Основной механизм образования активных частиц в условиях ННГП – процессы под действием электронного удара (элементарные процессы). Процесс под действием электронного удара – это любой процесс приводящий к изменению энергетического или химического состояния сталкивающихся частиц. Соударения электронов с молекулами газа делятся на упругие и неупругие. При упругих соударениях происходит перераспределение кинетической энергии взаимодействующих частиц без изменения их внутренней энергии. Максимальная доля энергии, передаваемой при упругом соударении, пропорциональна отншению масс сталкивающихся частиц X=2*(me/M). где me - масса электрона; М - масса молекулы газа. Данное выражение строго справедливо если молекула газа неподвижна. Если энергией молекул газа пренебречь нельзя по сравнению с энергией электронов, то выражение для Х принимает вид: X=2*(me/M)*(1-(Eg/E)) где ε и εg - энергии электрона и «тяжелой» частицы, соответственно. При неупругих столкновениях столкновение электронов с атомами или молекулами сопровождается изменением внутренней энергии или химического состояния последних. Неупругие соударения могут быть первого рода и второго рода. При неупругих соударениях первого рода происходит передача энергии от электронов к атомам или молекулам газа. Неупругие соударения второго рода сопровождаются передачей энергии от возбуждённых атомов или молекул к электронам.