- •Введение
- •Спецификой оптоэлектроники являются
- •Глава 1. Введение в оптоэлектронику.
- •1. 1.Оптический диапазон электромагнитного излучения.
- •1. 2. Эволюция представления о свете.
- •1. 3. Основные понятия фотометрии.
- •Глава 2. Источники излучения оптического диапазона.
- •2. 1. Тепловые источники излучения.
- •2. 2. Газосветные источники излучения.
- •2. 3. Люминесценция. Спонтанное и вынужденное излучения.
- •2. 4. Оптические квантовые генераторы - лазеры. Светоизлучающие диоды.
- •Наличие активной среды,
- •Создание уровня с инверсной заселенностью носителей,
- •Наличие “обратной связи”.
- •Глава 3. Приемники излучения оптического диапазона, их основные характеристики. Шумы внешние и собственные шумы приёмников излучения.
- •3. 1. Основные характеристики приёмников излучения.
- •3. 2. Тепловые приемники излучения. Физические основы их работы.
- •3. 2. 1. Болометр.
- •3. 2. 2. Сверхпроводящие болометры.
- •3. 2. 3. Термоэлектрические явления. Термопара.
- •3. 2. 4. Оптико-акустический (пневматический) приемник
- •3. 2. 5. Пироэлектрические детекторы.
- •3. 3. Фотонные приемники излучения оптического диапазона. Физические основы их работы.
- •3. 3. 1. Краткие сведения из физики твёрдого тела.
- •3. 3. 2. Внешний фотоэффект. Фотоэлементы. Фотоэлектронные умножители (фэу).
- •3. 3. 3. Фотоэффект внутренний, фотопроводимость. Механизмы рекомбинации. Фотосопротивления.
- •3. 3. 4. Фотоэффект на р-n-переходе. Вольт-амперная характеристика перехода.
- •3. 3. 5. Вентильные фотоэлементы и фотодиоды.
- •3. 3. 6. Лавинные фотодиоды, фотодиоды Шоттки, фотодиоды с гетероструктурой.
- •З. 3. 7. Фотоприёмники с зарядовой связью. Пзс – структуры.
- •3. 3. 8. Приёмники излучения для ультрафиолетовой области спектра.
- •3. 3. 9. Приёмники излучения на основе квантово-размерных эффектов.
- •3. 4. Фотоэлектромагнитый эффект. Эффект Дембера.
- •Глава 4. Методы модуляции лучистого потока
- •Глава 5. Тепловидение. Тепловизор. Фокальные, «смотрящие» матрицы излучения.
- •5. 1. Основы тепловидения.
- •5. 2. Тепловизор.
- •5. 3. Фокальные, «смотрящие» матрицы.
- •Глава 6. Оптическая связь. Основы волоконной оптики. Интегральная оптика.
- •6. 1. Оптическая связь.
- •6. 2. Основы волоконной оптики.
- •6. 3. Интегральная оптика.
- •Глава 7. Голография.
- •Заключение.
- •Рекомендуемая литература.
- •Глава 1. Введение в оптоэлектронику. 4
- •Глава 2. Источники излучения оптического диапазона. 11
- •Глава 3. Приемники излучения оптического диапазона, их основные характеристики. Шумы внешние и собственные шумы приёмников излучения. 19
3. 3. 5. Вентильные фотоэлементы и фотодиоды.
Освещаемый p-n-переход используется в двух режимах работы: в режиме генерации фото-ЭДС (вентильном) и в фотодиодном режиме.
Фотовольтаический или фотогальванический, вентильный режим работы. В фотодиоде под действием света генерируется ЭДС без внешнего источника питания. Возникает напряжение – положительный потенциал на конце р-типа, отрицательный – на конце n-типа.
Фотодиодный. К p-n-переходу подключается внешний источник питания в направлении запирания. Ток, проходящий во внешней нагрузке, изменяется в зависимости от освещенности р-n-перехода. Фотодиод включается в электрическую сеть последовательно с внешним источником питания, как полупроводниковый диод с обратным смещением. Измеряют увеличение напряжения при освещении фотодиода. Фотоэлементы, работающие в фотодиодном режиме, обладают большей чувствительностью, чем вентильный фотодиод.
На рис. 24 представлены схематическое изображение фотодиодов и схемы включение обоих типов приемников в сеть.
Рис. 24. Включение фотодиода в фотодиодном (а) и вентильном (б)
режимах работы.
Спектральная характеристика фотодиодов подобна той, что наблюдается у фоторезисторов. Коротковолновая граница чувствительности зависит от толщины базы и от скорости поверхностной рекомбинации. Спад фоточувствительности в области длинных волн соответствует краю собственного поглощения полупроводника (ширине запрещённой зоны).
Приёмники излучения на основе p-n-перехода обладают малой инерционностью. Быстродействие фотодиода определяется процессами разделения носителей заряда полем p-n-перехода, возникающих при поглощении света, а также ёмкостью p-n-перехода. Разделение фотоносителей заряда полем p-n-перехода происходит после того, как соответствующий носитель из места возникновения продиффундирует к p-n-переходу. Время пролёта носителей через p-n-переход пропорционально его толщине и обратно пропорционально максимальной скорости движения носителей в электрическом поле. Например, в германии и кремнии максимальная скорость дрейфа носителей заряда равняется ~ 5.106 см/с; толщина p-n-перехода обычно составляет менее 5 мкм. Следовательно, время пролёта носителей заряда через p-n-переход равняется ~ 10-10 с.
Фотодиоды на основе p-n-перехода обычно изготавливают методом диффузии примесей р-типа в базу n-типа или наоборот. Концентрация носителей заряда равняется 1016 - 1017 см-3. Излучение падает на полупроводник р-типа, что позволяет создать большее количество электронно-дырочных пар, т.к. оптическое поглощение в полупроводнике p-типа почти на порядок величины больше, чем в материале n-типа. Толщина p-слоя подбирается такой, чтобы носители заряда успели дойти до р-n-перехода, не успев рекомбинировать.
Важным параметром фотоэлемента в дополнение к параметрам, характеризующим фотодиод, при использовании его в качестве источника энергии является к.п.д. Он характеризуется отношением максимальной мощности электрического тока, которую можно получить от фотоэлемента, к мощности излучения, падающего на фотоэлемент. Снижение к.п.д. происходит из-за потерь на отражение падающего света от поверхности элемента; кроме этого следует учитывать, что часть носителей, возбуждённых светом, рекомбинирует, не доходя до p-n-перехода.
Обычно вентильные фотоэлементы используются для преобразования солнечной энергии в электрическую. Они имеют применение на космических станциях, квантовая эффективность их составляет ~ 20 %. К.п.д. будет тем больше, чем большая часть спектра солнечного света участвует в генерации носителей тока. В настоящее время фотоэлементы изготавливаются в основном из кремния и арсенида галлия. Перспективным является соединение AlGaAs, фотоэлементы их которых позволяют получить элементы с к.п.д. до 20%. Величина вентильной фото-ЭДС пропорциональна ширине запрещенной зоны материала.
Рис. 25. Вольт-амперные характеристики германиевого p-n-перехода
при различных температурах (а) и характеристики из
различных материалов при температурах 20оС.
На рис. 25 представлены вольт-амперные характеристики р-n-перехода в зависимости от ширины запрещенной зоны полупроводника (германий, Еg=0.68 эВ; кремний, Еg= 1.1 эВ; арсенид галлия, Еg=1.43 эВ) и вольт-амперные характеристики германиевого p-n-перехода при различных температурах.
Основные параметры фотодиодов.
Вентильный фотоэлемент.
S = до 5 В/Вт,
D* = (5×1010-5×1011) см×Гц1/2×Вт-1,
t = 10-6 с,
h = 0.2 – 1.0.
Фотодиоды.
S ~ 102 В/Вт,
D* ~ (1012 – 1013) см×Гц1/2×Вт,
t ~ до 10-9 с.
Шумы имеют небольшие значения. Кроме уже известных, наблюдается шум перехода, связанный со случайным характером прохождения барьера и диффузией носителей в смежные области.
