Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Vvedenie_v_optotehniku_lab_raboty.doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.03.2025
Размер:
863.74 Кб
Скачать

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ

_______________________________________________________________________________________

Филиал ФЕДЕРАЛЬНОГО государственного

БЮДЖЕТНОГО образовательного учреждения

высшего профессионального образования

«НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МЭИ»

в г. Смоленске

ВВЕДЕНИЕ В ОПТОТЕХНИКУ

Методические указания к

лабораторным работам по дисциплине

«ВВЕДЕНИЕ В ОПТОТЕХНИКУ»

Смоленск 2011 г.

УДК 535.6(076.5)

О-62

Утверждено учебно-методическим Советом филиала ФГБОУВПО «НИУ«МЭИ» в

г. Смоленске в качестве методических указаний для студентов, обучающихся по направлению "Оптотехника"

Подготовлено на кафедре оптико-электронных систем

Рецензент

к.т.н., доц. кафедры ОЭС филиала ФГБОУВПО «НИУ«МЭИ» в г. Смоленске В. В. Нюбин

О-62 ВВЕДЕНИЕ В ОПТОТЕХНИКУ.

Методические указания к лабораторным работам по дисциплине «Введение в оптотехнику» / Сост.: В. А. Гавриленков, М. В. Беляков. — Смоленск: РИО филиала ФГБОУВПО «НИУ«МЭИ» в г. Смоленске, 2011. — 36 с.

Учебное издание

Гавриленков Владимир Андреевич

Беляков Михаил Владимирович

ВВЕДЕНИЕ В ОПТОТЕХНИКУ

Методические указания к

лабораторным работам по дисциплине

«Введение в оптотехнику»

Технический редактор М.А. Андреев

Корректор Л.И. Чурлина

_______________________________________________________________________

Темплан издания филиала ФГБОУВПО «НИУ«МЭИ» в г. Смоленске, 2011 г., метод.

Подписано в печать 24.12.2011 г.

Формат бумаги 6084 1/16 . Тираж 25 экз. Печ.л. 1,5. Усл. печ. л. 1,4.

__________________________________________________________________

Издательский сектор филиала ФГБОУВПО «НИУ«МЭИ» в г. Смоленске

214013 Г. Смоленск, Энергетический проезд, 1

© Московский энергетический институт, филиал в г. Смоленске, 2011.

ОБЩИЕ МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ ПО ПОДГОТОВКЕ, ВЫПОЛНЕНИЮ И ОФОРМЛЕНИЮ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ

При подготовке к лабораторной работе следует изучить соответству-ющие разделы лекционного курса и рекомендуемую литературу, а также задание на соответствующую лабораторную работу.

Необходимо подготовить бланк протокола стандартного формата и миллиметровую бумагу для построения графиков. Бланк протокола должен содержать все необходимые формулы и расчеты, а также таблицы с необходимым количеством строк и столбцов для записи и обработки результатов измерений. Весь материал должен быть расположен в порядке, определяемым рабочим заданием. Допуск к работе осуществляется по результатам собеседования.

При наличии допуска студент осуществляет подготовку лабораторного стенда к работе, осуществляет сборку схемы измерения и производит необходимые измерения. Подключение каких-либо внешних источников и приборов, не предусмотренных описанием стенда, не допускается. При выполнении лабораторной работы особое внимание следует обратить на полноту и правильность полученных результатов.

Оформление отчёта по работе должно производиться строго по результатам измерений, отраженным в протоколе. На титульном листе должны быть указаны: номер и название работы, группа, фамилия студента.

Защита лабораторной работы осуществляется в индивидуальном порядке при наличии отчета, подписанного преподавателем.

В процессе выполнения работы необходимо:

а) строго соблюдать заданный электрический режим источников света и правила работы с приборами;

б) бережно относиться к лабораторному оборудованию и оптическим деталям (не ударять и не царапать их, не класть рабочими поверхностями на стол, не брать руками за рабочие поверхности и т.п.);

в) по окончании работы на установке привести рабочее место в порядок и сдать преподавателю раздаточные материалы.

Запрещается:

а) выполнять работу в отсутствие преподавателя или лаборанта;

б) самостоятельно устранять повреждения в системе электрического питания;

в) находиться в лаборатории в верхней одежде;

г) класть одежду, портфели и сумки на лабораторные стенды и приборы.

В аварийной ситуации (пробой напряжения на корпус и т.п.) необходимо выключить рубильник сетевого напряжения и немедленно сообщить о случившемся преподавателю или лаборанту.

Лабораторная работа № 1

Изучение принципов построения микроскопа и его применение

Введение

Целью настоящей работы является изучение принципов построения микроскопов (включая измерительные) и приобретение навыков работы с подобными приборами, обработки и оформления результатов измерений.

Микроскопом называют оптическую систему (ОС), предназначенную для наблюдения близко расположенных микрообъектов с большим увеличением. Основными компонентами микроскопа (рис.1.1) являются объектив и окуляр. Принцип действия микроскопа определяется следующими факторами.

Рисунок 1.1 – Оптическая схема микроскопа:

1 – объектив; 2 – окуляр

Исследуемый предмет y находится на малом расстоянии от переднего фокуса объектива 1, который строит действительное, увеличенное и перевернутое изображение предмета y' в плоскости, совпадающей с передней фокальной плоскостью окуляра 2. Окуляр строит вторичное увеличенное, мнимое изображение предмета на большом расстоянии от глаза (от 250 мм до ). Это означает, что предмет находится вблизи переднего фокуса микроскопа (или совмещен с ним).

К основным характеристикам микроскопа относятся: видимое увеличение Гм, линейное поле 2y, диаметр D' и вынос ар' выходного зрачка; числовая апертура NA; разрешающая способность R, глубина изображаемого пространства и др.

Фокусное расстояние микроскопа согласно теории идеальной ОС может быть вычислено по формуле

f 'м = -(f '1·f '2)/Δ, (1.1)

где отрезок Δ – называют оптической длиной тубуса микроскопа.

Видимое увеличение микроскопа вычисляют по формуле:

Гм = 250/f 'м, (1.2)

откуда, подставляя f 'м из (1.1), находим:

Гм = 250Δ/(f '1·f '2) = βоб·Гок . (1.3)

Наряду с основными компонентами (объективом и окуляром) ОС микроскопа, как правило, включает апертурную (АД) и полевую (ПД) диафрагмы.

Апертурная диафрагма определяет входной и выходной зрачки микроскопа, апертурный угол σА и числовую апертуру NA микроскопа:

NA = n·sin А, (1.4)

где n – показатель преломления среды в пространстве предметов.

В микроскопе АД устанавливают обычно между последней поверхностью и задним фокусом объектива. Иногда (в измерительных микроскопах для обеспечения телецентрического хода лучей) АД устанавливают в задней фокальной плоскости объектива. В этом случае входной зрачок микроскопа расположен на бесконечности и в пространстве предметов обеспечивается телоцентрический ход главного полевого луча.

Выходной зрачок микроскопа расположен вблизи заднего фокуса окуляра и для него можем записать:

D'= 2n·f 'м·tg А (1.5)

Полевая диафрагма, установленная в плоскости промежуточного действительного изображения (в передней фокальной плоскости окуляра), определяет линейное поле микроскопа 2y:

2y = Dпдоб . (1.6)

При решении измерительных задач, наряду с информационными широкое применение находят измерительные микроскопы. Отличается измерительный микроскоп от наблюдательного наличием отсчетного устройства, выполненного в виде плоскопараллельной пластинки со шкалой или отсчетного устройства с микрометром.

Отдельную группу измерительных микроскопов составляют отсчетные микроскопы, применяемые в сложных оптических измерительных приборах для считывания показаний по шкалам с относительно большими делениями и имеющие точное отсчетное устройство, позволяющее оценивать долю деления основной шкалы грубого отсчета с высокой точностью.

К основным характеристикам измерительного микроскопа (кроме названных выше) относятся также метрологические характеристики отсчетного устройства: цена деления шкалы, диапазон показаний, диапазон измерений, инструментальная погрешность и др.

Видимое увеличение измерительных микроскопов не велико и лежит в пределах 50...100×, тогда как у наблюдательных микроскопов видимое увеличение может достигать 1000× и более.

При решении измерительных задач также находят применение автоколлимационные микроскопы. Автоколлимационный микроскоп может быть получен из двухкомпонентного микроскопа заменой второго компонента автоколлимационным окуляром. Схема автоколлимационного микроскопа с окуляром – кубиком приведена на рис. 1.2.

Здесь объектив 4 и поворотное зеркало (диагональная грань кубика 3) строят изображение марки 2 на зеркале 5, установленном в предметной плоскости микроскопа. Отраженные лучи снова попадают в объектив 4, который строит автоколлимационное изображение марки 2 в плоскости сетки 6, установленной в плоскости полевой диафрагмы микроскопа. Полевая диафрагма совмещена с передней фокальной плоскостью окуляра 7, и наблюдатель будет видеть совмещенными сетку 6 (шкалу или марку) и изображение марки 2 (рис. 1.2, б).

Рисунок 1.2 - Схема автоколлимационного микроскопа (а) и вид поля (б):

1 – источник света; 2 – марка; 3 – призма-куб; 4 – объектив; 5 – зеркало; 6 – шкала; 7 – окуляр

В последнее время широкое распространение находят фотоэлектрические микроскопы с матричными приемниками излучения, которые подобно глазу выполняют функцию анализа изображения.

Для расширения спектрального диапазона в область ультрафиолетовых и инфракрасных излучений применяют специальные ультрафиолетовые и инфракрасные микроскопы.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]