
- •2. Методи контролю цифрових пристроїв
- •2.1. Апаратні методи функційного контролю
- •2.2. Тестовий контроль
- •3. Методи діагностування цифрових, мікропроцесорних пристроїв і пк
- •3.1. Основні поняття і завдання технічної діагностики обчислювальних пристроїв і систем
- •3.2. Цифрові і мікропроцесорні пристрої як об'єкти діагностування
- •4. Засоби діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв
- •4.1. Апаратні засоби діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв
4. Засоби діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв
Для визначення місця прояву несправностей з метою їх подальшого усунення застосовують апаратні, програмні або змішані засоби діагностування Ц і МПП. Усі вони, залежно від випадку, тією чи іншою мірою придатні для діагностування ОД. Отже, необхідно проаналізувати кожен з них. На перших етапах розвитку обчислювальної техніки найбільшого поширення набули апаратні засоби діагностування Ц і МПП. Тому їх слід розглянути насамперед.
4.1. Апаратні засоби діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв
Сьогодні важко надати перевагу апаратним або програмним засобам діагностування Ц і МПП. Найкращий результат дає їх комбінація, оскільки програмні засоби діагностування, зокрема діагностичні програми, мають відпрацьовуватись за допомогою апаратних засобів. Розгляд апаратних засобів слід почати з їх класифікації.
Класифікація апаратних засобів контролю і діагностування
Апаратні засоби діагностування Ц і МПП поділяють на зовнішні і вбудовані. Зовнішні засоби конструктивно від'єднані від ОД, а вбудовані входять до його складу.
До зовнішніх апаратних засобів контролю і діагностування Ц і МПП належать: контрольно-вимірювальні прилади, пульти, стенди; аналізатори і тестери; контрольно-діагностичні комплекси і системи.
Контрольно-вимірювальні прилади, пульти і стенди. їх використовують для ремонтів, сервісного обслуговування, вхідного і вихідного контролю при ручному (неавтоматизованому) способі та слабко вираженій автоматизації цих процесів.
Аналізатори і тестери. Застосовують для параметричного, функційного, тестового або комбінованого контролю і діагностування ІС, у тому числі ВІС і НВІС, а також змонтованих на їх базі вузлів, пристроїв, що розміщують на друкованих платах. За допомогою більшості цих засобів процес контролю автоматизують, а самі вони можуть бути як універсальні, так і спеціалізовані. Керування їхньою роботою та оброблення діагностичної інформації здійснює вмонтована в них мікроЕОМ.
183
Існує багато критеріїв класифікації апаратури контролю і діагностування обчислювальних пристроїв. Серед них можна виокремити: функційне призначення; види контролю і діагностування; ступінь автоматизації процесу контролю і діагностування; етапи контролю і діагностування; конструктивне виконання засббів контролю і діагностування.