
- •Разновидности контактных режимов асм
- •1 Включение микроскопа
- •2 Подготовка образца
- •3 Установка кантилевера в держатель
- •4 Настройка лазера
- •5 Установка образца на сканирующий столик
- •Подвод образца
- •7 Сканирование поверхности
- •8 Снятие зависимостей силы от расстояния между поверхностью и иглой
- •9 Обработка полученных изображений
5 Установка образца на сканирующий столик
В процессе подготовки и установки образца не касайтесь его поверхности руками, это может привести к загрязнению и повреждению поверхности
- Подберите столик для образца таким образом, чтобы величина зазора между кантилевером и магнитным держателем механического блока приблизительно равнялась сумме высот образца и столика
- Приклейте образец к столику с помощью двустороннего скотча или клея. Следите, чтобы наклон поверхности образца к поверхности столика был минимальным
- Столик с образцом разместите на магнитном держателе механического блока
Подвод образца
Приподнимите головку и попробуйте поставить ее над образцом так, чтобы игла кантилевера не коснулась поверхности образца. Если этого не получается, то нужно отвести образец вниз (используйте кнопку перемещение образца в программе ФемтоСкан (Переместить образец вниз). В появившемся окне нажатием на кнопки наберите необходимую длину перемещения и выберите направление движения образца.
Сдвигая головку, выберите место для сканирования (наиболее чистый и гладкий участок поверхности)
Осуществите грубый подвод иглы с помощью кнопки перемещения образца (Переместить образец вверх), расстояние между иглой и образцом контролируйте визуально. После окончания грубого подвода должен оставаться видимый зазор между иглой кантилевера и образцом
В окне параметры выберите на левой панели режим сканирования АСМ, на правой панели на закладке поверхность режим топография.
Для выбора опорного значения силы откройте окно фотодиода. Центр красного кружка соответствует текущему значению силы (на рис. 5 текущее значение силы -7 нН). Выберите значение силы при подводе:
а. оно должно быть больше текущего значения силы
б. значение силы должно быть выбрано из верхней полуплоскости фотодиода немного выше центра.
Для случая, показанного на рис. 5, в поле Сима на закладке Параметры следует установить 5 нН
Установите значения звеньев обратной связи равными 1
Осуществите окончательный подвод образца (в меню старт
опция подвод). Индикатор текущего положения образца (бегунок в центре окна параметры) должен приподняться при приближении образца к игле кантилевера.
7 Сканирование поверхности
На закладке Поверхность окна Параметры выберите канал 1 - Высота, канал 2 - Отклонение или Трение. Выбрав канал Отклонение, Вы будете получать информацию о сигнале ошибки (разнице между текущим значением силы и опорным), выбрав канал Трение, Вы получите в дополнение к топографии изображение распределения латеральных сил
Размер первого кадра лучше выбрать максимальным, а частоту сканирования - 2.4 Гц. Запустите сканирование (меню старт (SPM/Start) , Z(X,Y)).
Варьируя звенья обратной связи и другие параметры, добейтесь четкого изображения поверхности. Руководствуйтесь следующими правилами:
а. При большой силе возможно повреждение образца иглой
б. При уменьшении размера поля следует увеличивать частоту сканирования для сохранения постоянной скорости
в. При увеличении скорости сканирования следует увеличивать значения звеньев обратной связи
г. При маленьких звеньях обратной связи изображение будет расплывчатым. При больших звеньях будет наблюдаться автогенерация в цепи обратной связи
д. Сложный профиль иглы (например, двойное острие) может приводить к удвоению элементов рельефа поверхности. Радиус закругления острия определяет разрешающую способность микроскопа