
- •Введение
- •1.Вязкость жидкостей и газов
- •2. Измерение коэффициента вязкости жидкости по методу стокса
- •3. Описание установки
- •4.Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение отношения теплоемкости газа при постоянном давлении к теплоемкости при постоянном объеме
- •Теплоемкость идеального газа
- •Метод клемана - дезорма
- •3. Работа при адиабатическом процессе
- •4. Описание установки. Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения работы
- •5. Вычисление работы адиабатического расширения воздуха
- •6. Контрольные вопросы
- •Опытная проверка распределения максвелла
- •Введение. Понятие о статистическом распределении
- •2. Распределение максвелла
- •Величина (5)
- •3. Экспериментальное изучение распределения электронов по модулям скоростей
- •4. Описание лабораторной установки
- •5. Порядок проведения измерений
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •Изучение распределения Максвелла
- •1. Электрический ток в металлах
- •2. Расчет моста уитстона на основе правил кирхгофа
- •3. Применение реохорда в схеме моста уитстона
- •4. Контрольные вопросы
- •5. Описание рабочей схемы
- •6. Порядок выполнения работы
- •Движение электронов в магнетронЕе
- •2. Вывод расчетной формулы
- •3. Контрольные вопросы
- •5. Порядок выполнения работы
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе № 28
- •Определение длины волны света при помощи колец Ньютона
- •1. Интерференция света
- •2. Интерференция при отражении света
- •3. Определение длины волны света при помощи колец Ньютона
- •4. Bывод расчетной формулы
- •5. Установка для наблюдения колец ньютона
- •6. Порядок выполнения работы
- •Расчет значений а
- •2. Графический метод определения длины волны
- •График строится на миллиметровой бумаге и по нему определяется
- •1. Дифракция света
- •Дифракционная решетка
- •3. Описание установки
- •4. Порядок выполнения работы
- •4.1. Определение длины волны спектральных
- •4.2. Расчет характеристик дифракционной решетки
- •5. Kонтрольные вопросы
- •Приложение форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе 29 Изучение дифракционных решеток. Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
- •Характеристики дифракционной решетки
- •Исследование полупроводникового резистора
- •1. Зонная модель собственных полупроводников
- •2. Исследование температурной зависимости сопротивления терморезистора и определение ширины запрещенной зоны в собственном полупроводнике
- •3. Порядок выполнения работы
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •1. Оптические спектры
- •2. Энергетические уровни атома натрия
- •3. Определение постоянной планка спектроскопическим методом
- •4. Описание установки
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •Приложение форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе № 24 Определение постоянной Планка спектроскопическим методом
- •Измерение спектральных линий натрия
- •Исследование - распада радиоактивного изотопа плутония
- •1. Радиоактивный -распад ядер
- •2. Взаимодействие движущихся -частиц с веществом
- •2.1. Ионнизационные потери
- •2.2. Потери энергии на образование ядер отдачи
- •2.3. Радиационные потери
- •3. Кривая поглощения -частицы в веществе
- •4. Экспериментальная часть
- •4.1. Описание установки
- •4.2. Принцип действия сцинтилляционного счетчика
- •4.2. Порядок выполнения работы
- •5. Контрольные вопросы
Форма отчета
Титульный лист
У Г Т У - У П И
Кафедра физики
ОТЧЕТ
по лабораторной работе № 33
Исследование полупроводникового резистора
Студент_________
Группа_______________
Дата_________________
Преподаватель…………………..
Основная расчетная формула:
где Eg – ширина запрещенной зоны в полупроводнике,
k = 0.862´10-4 эВ/К - постоянная Больцмана,
R1, R2 - сопротивления резистора при температурах T1 и T2, соответственно.
2.Результаты измерений:
Таблица 1
Нагрев
T, oC |
T, K |
1000/T, K-1 |
R, Ом |
lnR |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Таблица 2
Охлаждение
T, oC |
T, K |
1000/T, K-1 |
R, Ом |
lnR |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3. Расчет ширины запрещенной зоны в исследуемом полупроводнике по графику lnR = f(1/T)
Eg = . . .эВ ( при нагреве), Eg = . . .эВ (при охлаждении)
4. Оценка погрешностей
Среднее квадратичное отклонение:
S<Eg> = 0,02эВ
Граница абсолютной погрешности:
DEg = tS<Eg> = . . . . . .эВ, коэффициент Стьюдента t равен 2,1.
5. Окончательный результат:
Eg= <Eg> ± DEg = (…….±…....) эВ (нагрев), P=0.95
Eg= <Eg> ± DEg = (…….±…....) эВ (охлаждение) P=0.95
8. Выводы (сравнить измеренную ширину запрещенной зоны с ее табличным значением, проанализировать погрешности и т.д.).
Л а б о р а т о р н а я р а б о т а № 24
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОСТОЯННОЙ ПЛАНКА СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИМ МЕТОДОМ
1. Оптические спектры
Излучение энергии атомами, ее дальнейшее распространение в пространстве и взаимодействие с веществом происходит в виде определенных порций (квантов), локализованных и перемещающихся как целое со скоростью света с. Эти порции энергии можно представить как элементарные световые частицы - фотоны.
Энергия фотона пропорциональна частоте излучения:
(1)
Коэффициент пропорциональности h называется постоянной Планка и имеет размерность "энергия - время". В механике величины с такой размерностью называют действием. Поэтому постоянную Планка иногда называют квантом действия.
Постоянная Планка входит во многие физические соотношения и может быть определена различными методами. Один из таких методов - спектроскопический - основан на измерениях длин волн в спектрах излучения или поглощения газов.
В данной работе измеряются длины волн в спектре излучения атомарного натрия. Любое излучение можно представить как набор монохроматических (с определенной длиной волны ) излучений. Такой набор излучений называется спектром. Атомы вещества, находящиеся в возбужденном состоянии, самопроизвольно переходят в более низкие энергетические состояния, испуская при этом спектр, состоящий из отдельных спектральных линий (линейчатый спектр). Возбудить атомы, т.е. сообщить им добавочную по отношению к основному состоянию энергию, можно за счет нагревания, воздействия электрическим полем и т.д.
В спектре излучения натрия, как и в спектрах других атомов, наблюдаются сериальные закономерности, т.е. спектральные линии располагаются с определенной закономерностью в ряды или серии.