
- •Введение
- •1.Вязкость жидкостей и газов
- •2. Измерение коэффициента вязкости жидкости по методу стокса
- •3. Описание установки
- •4.Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение отношения теплоемкости газа при постоянном давлении к теплоемкости при постоянном объеме
- •Теплоемкость идеального газа
- •Метод клемана - дезорма
- •3. Работа при адиабатическом процессе
- •4. Описание установки. Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения работы
- •5. Вычисление работы адиабатического расширения воздуха
- •6. Контрольные вопросы
- •Опытная проверка распределения максвелла
- •Введение. Понятие о статистическом распределении
- •2. Распределение максвелла
- •Величина (5)
- •3. Экспериментальное изучение распределения электронов по модулям скоростей
- •4. Описание лабораторной установки
- •5. Порядок проведения измерений
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •Изучение распределения Максвелла
- •1. Электрический ток в металлах
- •2. Расчет моста уитстона на основе правил кирхгофа
- •3. Применение реохорда в схеме моста уитстона
- •4. Контрольные вопросы
- •5. Описание рабочей схемы
- •6. Порядок выполнения работы
- •Движение электронов в магнетронЕе
- •2. Вывод расчетной формулы
- •3. Контрольные вопросы
- •5. Порядок выполнения работы
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе № 28
- •Определение длины волны света при помощи колец Ньютона
- •1. Интерференция света
- •2. Интерференция при отражении света
- •3. Определение длины волны света при помощи колец Ньютона
- •4. Bывод расчетной формулы
- •5. Установка для наблюдения колец ньютона
- •6. Порядок выполнения работы
- •Расчет значений а
- •2. Графический метод определения длины волны
- •График строится на миллиметровой бумаге и по нему определяется
- •1. Дифракция света
- •Дифракционная решетка
- •3. Описание установки
- •4. Порядок выполнения работы
- •4.1. Определение длины волны спектральных
- •4.2. Расчет характеристик дифракционной решетки
- •5. Kонтрольные вопросы
- •Приложение форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе 29 Изучение дифракционных решеток. Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
- •Характеристики дифракционной решетки
- •Исследование полупроводникового резистора
- •1. Зонная модель собственных полупроводников
- •2. Исследование температурной зависимости сопротивления терморезистора и определение ширины запрещенной зоны в собственном полупроводнике
- •3. Порядок выполнения работы
- •Форма отчета
- •Кафедра физики
- •1. Оптические спектры
- •2. Энергетические уровни атома натрия
- •3. Определение постоянной планка спектроскопическим методом
- •4. Описание установки
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •Приложение форма отчета
- •Кафедра физики
- •По лабораторной работе № 24 Определение постоянной Планка спектроскопическим методом
- •Измерение спектральных линий натрия
- •Исследование - распада радиоактивного изотопа плутония
- •1. Радиоактивный -распад ядер
- •2. Взаимодействие движущихся -частиц с веществом
- •2.1. Ионнизационные потери
- •2.2. Потери энергии на образование ядер отдачи
- •2.3. Радиационные потери
- •3. Кривая поглощения -частицы в веществе
- •4. Экспериментальная часть
- •4.1. Описание установки
- •4.2. Принцип действия сцинтилляционного счетчика
- •4.2. Порядок выполнения работы
- •5. Контрольные вопросы
2. Исследование температурной зависимости сопротивления терморезистора и определение ширины запрещенной зоны в собственном полупроводнике
После логарифмирования выражения (5) получим
(6)
где Eg - ширина запрещенной зоны.
Следовательно, задача экспериментатора сводится к точному измерению сопротивления полупроводникового резистора при различных температурах. Сопротивление резистора определяется либо с помощью омметра, либо вычисляется по закону Ома по значениям напряжения на резисторе и току в нем. На рис.2 в качестве примера приведены опытные данные измерения сопротивления R германиевого резистора. Видно, что повышение температуры всего на 44 К приводит почти к десятикратному снижению сопротивления. Напомним, что в металлах при постоянной концентрации свободных электронов сопротивление с ростом температуры линейно повышается, при этом подобное увеличение температуры приводит к росту сопротивления всего на несколько процентов.
Рис.2. Зависимость электрического сопротивления резистора
от температуры
Результаты измерений заносят в таблицу, затем строят график, откладывая по оси ординат логарифм сопротивления lnR, а по оси абсцисс - обратную температуру 1/T. График, построенный по экспериментальным точкам, аппроксимируют прямой линией, наиболее близкой к этим точкам (рис. 3).
Рис. 3. Зависимость логарифма сопротивления lnR
полупроводника от обратной температуры 1/T
Тогда ширина запрещенной зоны будет пропорциональна тангенсу угла наклона этой прямой к оси абсцисс:
(7)
где k - постоянная Больцмана; k=0.862´10-4 эВ/К; lnR1, 1/T1 и lnR2, 1/R2 - координаты двух произвольных, но не слишком близких точек, лежащих на полученной прямой. Погрешность DEg определения ширины запрещенной зоны оценивается по формуле:
(8)
Среднее квадратическое отклонение S<Eg> рассчитывается по методу наименьших квадратов или задается преподавателем (в нашем случае его следует принять равным 0,02 эВ), t – коэффициент Стьюдента (t=2,1). Систематической погрешностью приборов в данной работе пренебрегают в виду ее малости.
3. Порядок выполнения работы
В лаборатории физического практикума кафедры физики УГТУ-УПИ объектом исследования служит терморезистор из чистого германия, помещенный внутри электрического нагревателя. Вначале измеряют сопротивление образца при комнатной температуре, затем включают нагреватель и по мере нагрева терморезистора фиксируют его сопротивление с интервалом 4-6оС до температуры 70оС. В работе применяются омметр и термометр и используется вышеописанная методика расчета искомых величин.
В компьютерном варианте данной работы достаточно точно моделируются условия проведения опытов, при этом на экране монитора чертится график зависимости сопротивления R германиевого терморезистора от температуры: красный график - при нагреве, синий - при охлаждении. Следующим кадром предлагается таблица полученных экспериментальных данных, которые нужно перенести в отчет и обработать по вышеприведенной методике.
Работа состоит из нескольких этапов. Изучение теоретической части данного руководства, методики измерений и расчетов ширины запрещенной зоны в полупроводнике. Тестовый контроль по содержанию работы, проведение измерений. Обработка опытных данных, построение графиков и расчет искомых величин – ширины запрещенной зоны в германии, погрешностей измерений. Оформление отчета (форма отчета приводится ниже).
1. Навести курсор на «Начало работы», а затем на «Измерения», нажать левую клавишу мышки. При этом на экране монитора появится модель экспериментальной установки: германиевый резистор, нагревательный элемент, вентилятор, приборы, регистрирующие температуру (термопара) и электросопротивление (омметр). Кроме того, здесь же приведен график зависимости сопротивления R от температуры Т, который будет начерчен компьютером в процессе измерения.
Нажать клавишу F1, при этом начнется нагрев образца, а результаты измерения будут представлены в виде графика красного цвета. Всего 17 точек.
Нажать клавишу F2 и F3 – измерения будут проходить в режиме охлаждения (график синего цвета). Фиксируется 11 точек.
4. Полученные результаты занести в отчет и построить на миллиметровой бумаге два графика (нагрев и охлаждение), откладывая по оси ординат логарифм сопротивления lnR, а по оси абсцисс - обратную температуру 1/T.
5. Рассчитать по формуле (7) численное значение ширины запрещенной зоны Eg в данном полупроводнике (нагрев и охлаждение), оценить по формуле (8) абсолютную погрешность DEg ее определения. Ширину запрещенной зоны в полупроводниках принято выражать в электронвольтах (эВ). В случае значительного расхождения теоретического и экспериментального значения энергий Eg следует проверить правильность построения графиков и расчетов или повторить измерения.
Сделать выводы по работе, оформить отчет и сдать его на проверку преподавателю.
ПРИЛОЖЕНИЕ