- •Глава 1. Контрольные карты
- •Теоретические основы применения и построения контрольных карт
- •Объем, частота взятия и количество выборок
- •Контрольные карты по количественному признаку
- •Основные виды контрольных карт по количественному признаку.
- •Контрольные карты Шухарта для и s в случае неравных объемов выборок
- •Контрольные карты индивидуальных значений
- •Контрольные карты скользящих размахов
- •Постепенное увеличение или уменьшение среднего значения
- •Изоляция совокупностей
- •Контрольные карты по альтернативному признаку
- •Биномиальное распределение (Теоретическое распределение доли дефектных единиц продукции при постоянных п и р)
- •Стабилизированная контрольная р-карта (t-карта)
- •Распределение Пуассона (Теоретическое распределение числа дефектов)
- •Контрольная с-карта
- •Контрольная u-карта (Контрольная -карта для выборок разного объема)
- •Контрольные карты кумулятивных сумм
- •Ккнс для среднего
- •1.5.2 Ккнс для выборочных размахов
- •1.5.3 Ккнс для выборочных дисперсий
- •1.5.4 Ккнс для числа пр или доли р дефектных изделий
- •1.5.5 Ккнс для числа дефектов с, основанная на распределении Пуассона
- •Контрольные карты приемочного контроля
- •Средняя длина серии
- •Рекомендации по использованию контрольных карт
- •Глава 2. Статистическое регулирование технологических процессов
- •Задачи статистического регулирования технологических процессов
- •Предварительный анализ состояния тп
- •2.1.2 Виды контрольных карт, применяемые для статистического регулирования тп
- •Метод управления и интерпретация контрольных карт
- •Статистическое регулирование по количественному признаку
- •Серии в контрольных картах
- •Статистическое регулирование по альтернативному признаку
- •Глава 3. Статистический приемочный контроль
- •3.1 Кривые для планов контроля
- •3.2 Статистический приемочный контроль по количественному признаку
- •3.3 Статистический приемочный контроль по альтернативному признаку
- •3.3.1 Классификация дефектов
- •3.3.2 Числовые характеристики одноступенчатых планов
- •3.3.3 Числовые характеристики двухступенчатых планов
- •3.3.4 Сравнение одноступенчатого, двухступенчатого и многоступенчатого контроля
- •3.4 Стандартизация планов статистический приемочный контроль
- •Глава 4. Выборочный контроль при исследовании надежности
- •4.1 Основные понятие в области технического обеспечения надежности
- •4.2 Показатели надежности
- •4.3 Выборочный контроль
- •Приложения
- •Уровни контроля
- •Уровни дефектности
- •Содержание
- •Глава 1. Контрольные карты.
- •1.1. Теоретические основы применения и построения контрольных карт.
- •Глава 2. Статистическое регулирование технологических процессов.
- •Глава 3. Статистический приемочный контроль
- •Глава 4. Выборочный контроль при исследовании надежности.
Рекомендации по использованию контрольных карт
Контрольные карты по количественному признаку.
Контрольная карта
состоит из КК
,
обеспечивающей контроль за изменениями
,
и КК R,
осуществляющей контроль за изменением
разброса показателей качества. Карта
применяется для контроля количественных
показателей качества, таких как длина,
масса, время и т.д. Для каждого
контролируемого параметра требуется
отдельная карта
.
Рекомендуется применять для одного,
наиболее ответственного показателя
(параметра).Контрольная карта
представляет сочетание контрольной
карты
,
осуществляющей контроль за изменением
медианы, и КК R.
Применяют ее в тех же случаях, что и
карту
.
Однако карта
по сравнению с карта
более проста, но менее точна.Вместо карты можно применять карта
.
Она более точно отражает величину
разброса, но при этом расчеты усложняются.
Контрольные карты по альтернативному признаку.
Контрольная карта доли дефектных изделий р применяется для контроля, анализа и регулирования ТП путем проверки изделий и разделения их на годные и брак. При этом не учитывается, сколько дефектов в каждом изделии. Особенно удобна р-карта при приемочном контроле сложных изделий, когда перед отправкой потребителю проверяется вся продукция; контролируются функциональные характеристики.
Контрольная карта числа дефектных изделий (карта np) применяется при постоянном объеме проверяемых изделий (n = const).
Контрольная карта суммарного числа дефектов С используется, когда контролируется число дефектов, обнаруженных при проверке постоянного объема изделий.
Контрольная карта числа дефектов на единицу продукции (u-карта) применяется, как С-карта, когда контролируется число дефектов. Однако u-карта можно также применять, когда n переменно.
Глава 2. Статистическое регулирование технологических процессов
Задачи статистического регулирования технологических процессов
Основная задача статистического регулирования ТП состоит в том, чтобы на основании результатов выборочного контроля малого объема принимать решение "ТП налажен" или "ТП разлажен". Как известно, разладки ТП происходят в случайные моменты времени, и эти события подчиняются определенным статистическим закономерностям; такая задача решается методами теории вероятности и математической статистики. Рассмотрим простейшую схему такой задачи. Предполагаются две гипотезы: нулевая гипотеза Но – ТП налажен, если параметр θ распределения контролируемого показателя качества X равен θ0 , и альтернативная гипотеза Н1 – ТП разлажен, если параметр θ равен θ1. В общем виде это записывается следующим образом:
Н0:θ=θ0 (ТП налажен);
Н1:θ=θ1 (ТП разлажен).
На основании результатов контроля единиц продукции из выборки Х1, Х2, ..., Хn можно с помощью определенных статистических критериев принять одну из этих двух гипотез.
Случайная величина (СВ) X может быть непрерывной или дискретной. Например, диаметр втулки представляет собой непрерывную СВ, которая теоретически может принимать все значения в интервале, ограниченном допуском, например, между 23,5 и 24,5 мм. Практически эти значения ограничиваются несовершенством измерительных средств, допускающих лишь определенную точность измерений. Непрерывную величину мы получим при контроле ТП по количественному признаку с помощью измерительных средств, позволяющих получить значение контролируемого параметра с большой точностью.
Дискретную величину мы получаем, например, при контроле ТП по альтернативному признаку, т.е. признаку "годен" или "негоден". В результате такого контроля мы подсчитываем число дефектных единиц продукции или число дефектов. При этом нас не интересует истинное значение параметра X, достаточно лишь установить, соответствует ли оно установленному требованию или нет. Например, укладывается ли значение X в допуск или соответствует ли изделие установленному образцу.
При решении задач статистического регулирования ТП наиболее часто применяемым распределением непрерывной СВ X является нормальное распределение, определяющееся двумя параметрами: математическим ожиданием μ и дисперсией σ2.
При статистическом регулировании ТП при нормальном распределении СВ X проверяют гипотезы:
Н0: μ=μ0 (ТП налажен);
Н1: μ=μ1 (ТП разлажен),
если разладка связана с изменением математического ожидания μ. Если же разладка связана с увеличением дисперсии σ2, то в этом случае проверяют гипотезы:
Н0: σ = σ0 (ТП налажен);
Н1: σ = σ1 (ТП разлажен).
При статистическом регулировании в качестве средних значений обычно используют выборочное среднее арифметическое или выборочную медиану , а в качестве меры рассеяния – выборочное среднее квадратичное отклонение S или выборочную дисперсию S2, или размах R. При выборе между средним арифметическим и медианой, а также между средним квадратичным отклонением и размахом следует учитывать следующие соотношения. Среднее арифметическое является более эффективной статистикой, чем медиана, это позволяет при равных исходных условиях использовать объем выборки примерно в полтора раза меньший. Точно так же среднее квадратичное отклонение является более эффективной статистикой, чем размах, что также позволяет использовать существенно меньший объем выборки. Однако вычисление медианы и размаха проще, чем среднего арифметического и среднего квадратичного отклонений, поэтому первым двум статистикам иногда отдают предпочтение.
В случае, когда контролируемым показателем является дискретная СВ, подчиняющаяся биноминальному или пуассоновскому законам распределения, разладка процесса характеризуется увеличением доли дефектной продукции от значения Ро до значения Р1. В этом случае проверяют гипотезы:
Н0: Р = Ро (ТП налажен);
Н1: Р = Р1 (ТП разлажен).
