1.5.5 Ккнс для числа дефектов с, основанная на распределении Пуассона
Границы регулирования ККНС для числа дефектов зависят от констант:
(1.5.12)
Координаты точек контрольной карты равны:
(1.5.13)
где xi — число дефектов в выборке i. На рисунке 1.5.9 показан пример ККНС для числа дефектов в случае двустороннего критерия. Чтобы вычислить θ' и d' нужно подставить в формулы (1.5.12) μ1’ (< μo) вместо μ1.
Рисунок 1.5.9 – ККНС для числа дефектов (с)
Пример 1.5.4. Пример с-карты для числа дефектов взят из той же статьи, что и пример 1.5.3. Данные приведены в таблице 1.5.7.
Таблица 1.5.7 – Число дефектов после полировки
-
Номер
выборки
т
Число
дефектов
с
Накопленная
сумма дефектов
Номер выборки
т
Число
дефектов
(исправленное)
с
Накопленная
сумма
дефектов
1
1
1
11
4
14
2
2
3
12
2
16
3
2
5
13
2
18
4
1
6
14
3
21
5
0
6
15
2
23
6
0
6
16
2
25
7
0
6
17
1
26
8
2
8
18
1
27
9
0
8
19
2
29
10
2
10
20
2
31
Для демонстрации применения ККНС числа дефектов в каждой исходной выборке, начиная с 11 и по 20, был добавлен один дефект.
В
целях наглядности среднее
и
границы регулирования вычислялись
по первым десяти выборкам. Для стандартной
карты они равны:
= 1,00; ВГР = 4,00, НГР = 0.
При построении ККНС нужно выбрать μ0, μ1 и α. Положим μ0 =1,0; μ1 = 2,0; 2α = 0,0027 (двусторонние 3σ - пределы).
Находим значения констант θ = 55°16' и d = 6,61.
На риунке. 1.5.10 показана ККНС для с.
Рисунок 1.5.10 – Контрольная карта для числа дефектов