- •Глава 1. Контрольные карты
- •Теоретические основы применения и построения контрольных карт
- •Объем, частота взятия и количество выборок
- •Контрольные карты по количественному признаку
- •Основные виды контрольных карт по количественному признаку.
- •Контрольные карты Шухарта для и s в случае неравных объемов выборок
- •Контрольные карты индивидуальных значений
- •Контрольные карты скользящих размахов
- •Постепенное увеличение или уменьшение среднего значения
- •Изоляция совокупностей
- •Контрольные карты по альтернативному признаку
- •Биномиальное распределение (Теоретическое распределение доли дефектных единиц продукции при постоянных п и р)
- •Стабилизированная контрольная р-карта (t-карта)
- •Распределение Пуассона (Теоретическое распределение числа дефектов)
- •Контрольная с-карта
- •Контрольная u-карта (Контрольная -карта для выборок разного объема)
- •Контрольные карты кумулятивных сумм
- •Ккнс для среднего
- •1.5.2 Ккнс для выборочных размахов
- •1.5.3 Ккнс для выборочных дисперсий
- •1.5.4 Ккнс для числа пр или доли р дефектных изделий
- •1.5.5 Ккнс для числа дефектов с, основанная на распределении Пуассона
- •Контрольные карты приемочного контроля
- •Средняя длина серии
- •Рекомендации по использованию контрольных карт
- •Глава 2. Статистическое регулирование технологических процессов
- •Задачи статистического регулирования технологических процессов
- •Предварительный анализ состояния тп
- •2.1.2 Виды контрольных карт, применяемые для статистического регулирования тп
- •Метод управления и интерпретация контрольных карт
- •Статистическое регулирование по количественному признаку
- •Серии в контрольных картах
- •Статистическое регулирование по альтернативному признаку
- •Глава 3. Статистический приемочный контроль
- •3.1 Кривые для планов контроля
- •3.2 Статистический приемочный контроль по количественному признаку
- •3.3 Статистический приемочный контроль по альтернативному признаку
- •3.3.1 Классификация дефектов
- •3.3.2 Числовые характеристики одноступенчатых планов
- •3.3.3 Числовые характеристики двухступенчатых планов
- •3.3.4 Сравнение одноступенчатого, двухступенчатого и многоступенчатого контроля
- •3.4 Стандартизация планов статистический приемочный контроль
- •Глава 4. Выборочный контроль при исследовании надежности
- •4.1 Основные понятие в области технического обеспечения надежности
- •4.2 Показатели надежности
- •4.3 Выборочный контроль
- •Приложения
- •Уровни контроля
- •Уровни дефектности
- •Содержание
- •Глава 1. Контрольные карты.
- •1.1. Теоретические основы применения и построения контрольных карт.
- •Глава 2. Статистическое регулирование технологических процессов.
- •Глава 3. Статистический приемочный контроль
- •Глава 4. Выборочный контроль при исследовании надежности.
1.5.4 Ккнс для числа пр или доли р дефектных изделий
Диаграмма границ регулирования та же, что и в случае размаха и дисперсии. Линия PQ на рисунке, который выглядит аналогично рисунку 1.5.7, наклонена под углом θ* к оси порядковых номеров выборок, а Р находится на расстоянии d* вправо от последней точки на графике. При этом:
θ*
(1.5.8)
d*
Рисунок 1.5.7 – ККНС для числа дефектных изделий
Опять масштаб по осям таков, что длина k единиц ординаты равна длине одной единице абсциссы. На ККНС наносятся точки с координатами
(1.5.9)
где ni – объем i-й выборки и хi – число дефектных изделий в ней. На рисунке 1.5.7 показан пример ККНС для доли дефектных изделий р с координатами точек
(m, ∑xi) (1.5.10)
и одинаковыми объемами выборок п. При указанном выше масштабе значения θ** и d** равны
θ** = arctg(ntg θ*), (1.5.11)
d** = d*/n.
Пример 1.5.3. Построим np - карту для данных таблицы 1.5.6. По оси абсцисс откладывается сумма объемов выборок, а по оси ординат - суммарное число дефектных изделий. Не предполагается, что объемы выборок ni равны.
Таблица 1.5.6 - Число дефектных изделий
-
Номер выборки
Объем выборки ni
Число
дефектных
изделий xi
Процент
дефектных
изделий
Накопленный
объем
выборок ∑ ni
Накопленное
число
дефектных
изделий
∑ xi
1
900
29
3,22
900
29
2
650
20
3,07
1550
49
3
750
15
2,00
2300
64
4
450
6
1,33
2750
70
5
275
5
1,81
3025
75
6
700
5
0,71
3725
80
7
450
9
2,00
4175
89
8
800
8
1,00
4975
97
9
1200
3
0,25
6175
100
10
1200
6
0,50
7375
106
11
600
2
0,33
7975
108
12
1300
4
0,30
9275
112
13
600
2
0,33
9875
114
Желательно проверить гипотезу о наличии 1% брака с уровнем значимости (ошибкой первого рода) α = 0,005, допуская возможность обеих альтернатив.
Данные представлены на рисунке 1.5.8.
Рисунок 1.5.8 – ККНС для числа дефектных изделий
Заметим, что сразу же обнаруживается „вышедшая из-под контроля" точка – вторая выборка. Если поместить вершину угла шаблона на расстоянии d* по горизонтали вправо от нее, первая точка окажется за границами регулирования. [Напомним, что границы регулирования зависят от α, р0, р1 (или р1’) и проводятся от последней нанесенной точки.] Выборка 10 [с координатами (7375, 106)] также выходит за границы. Однако здесь наблюдается уменьшение брака по сравнению с 1%-ным уровнем. Выборки 11 – 13 не включены в анализ. Напомним, что если точка вышла за границы, естественно начать карту заново.
Для определения границ регулирования воспользуемся формулами (1.5.8). Необходимо, однако, учесть еще и масштабный коэффициент k. Он равен 1/50. Для обнаружения увеличения процента дефектных единиц положим α=0,005, р0 = 0,01 и р1 = 0,02. Это дает:
d*1 = 522,
θ*1 = 35°49'.
Для обнаружения уменьшения доли брака примем α = 0,005, p0 = 0,01, р1’= 0,005. Получим
d*2 = - 1051 (отрицательное направление),
θ*2 =19°51’.
