Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский университет «МИЭТ»

Реферат на тему

«Применение компьютерных технологий в научном исследовании нпк «технологический центр»

Выполнил: Грудцов В.П.

студент группы ЭКТ-59м

Проверил: Козлов А.В.

Москва, 2012

Оглавление.

1. Введение…………………………………………………………………………..3

2. Теоретическая часть……………………………………………………………...4

3. Цель и задачи научного исследования………………………………………….7

4. Применение компьютерных технологий в научном исследовании…………..8

1. Вход в программу и главное окно.....................…………………………………8

2. Вкладка Application Test .......…………………………………………..………12

3. Вкладка Classic Test ………………………………………......................……...14

4. Вкладка Quick Test ……………………………………………………………..14

5. Заключение………………………………………………………………………16

6. Список используемых источников…………………………………………….17

1. Введение.

Микроэлектроника - это раздел электроники, охватывающий исследования и разработку качественно нового типа электронных приборов - интегральных микросхем - и принципов их применения.

Роль микроэлектроники в современной науке и технике трудно переоценить. Она справедливо считается катализатором научно-технического прогресса. Спектр ее применения простирается от фундаментальных исследований до прикладного использования. Микроэлектроника влияет на все народное хозяйство, но не непосредственно, а через целый ряд специфических отраслей, таких как вычислительная техника, информационно-измерительные системы, робототехника, микропроцессоры. Микроэлектроника, очередной исторически обусловленный этап развития электроники и одно из ее основных направлений, обеспечивает принципиально новые пути решения назревших задач.

В ведущих мировых странах государственная поддержка развития микроэлектроники рассматривается как самый эффективный способ повышения конкурентоспособности национальной экономики и вхождения в мировой рынок. Среди таких мер следует отметить не только участие государства в финансировании разработок изделий микроэлектроники, в строительстве современных микроэлектронных производств, но и формирование плановой политики развития путем введения определенных преференций для микроэлектронных производств.

2. Теоретическая часть.

Научно-производственный комплекс (НПК) "Технологический центр" основан как университетский исследовательский центр при Московском институте электронной техники в июне 1988 г. Запуск основного комплекта технологического оборудования осуществлен в середине 1989 г., а выпуск (изготовление по полному КМОП кремниевому технологическому маршруту) первых микросхем - в начале 1990 г. В июне 1994 г. - постановлением Правительства Российской Федерации - присвоен статус Государственного научного центра.

Научно-исследовательская, проектная и производственная база предприятия:

1. Площадь помещений полупроводникового производства: 2200 м2; в том числе 1000 класса "100" (обеспечены энергетической cтруктурой и системой мониторинга микроклимата);

2. Технологические возможности:

- изготовление фотошаблонов;

- изготовление пластин по технологиям КМОП БИС (1,2 мкм), биполярные БИС(1,5 мкм), тензорезистивные микродатчики (3, мкм) для серийного производства и ОКР, технологии КМОП, Бип, КБиМОП (1,0 мкм) для исследований;

3. Производственные возможности - до 2000 пластин диаметром 100 мм в месяц. Кристальное производство аттестовано на право изготовления изделий специального назначения (Свидетельство об аттестации №МО 024 от 8.12.97);

4. Сборка - металлокерамические корпуса для БИС, корпуса собственной разработки для микродатчиков. В настоящее время действует комплексная программа подготовки НПК ТЦ к аттестации системы гарантии качества на соответствие стандарту ISO 9001-1994 (Модель обеспечения качества при проеатировании, разработке, производстве, монтаже и обслуживании);

5. Измерения пластин, микросхем, микросенсоров:

- НР 82000

- АИК ТЕСТ2 - 2 шт.

- комплекты измерительной и испытательной аппаратуры для СБИС и полупроводниковых сенсоров;

6. Исследования физической структуры и электрофизических характеристик БИС:

- просвечиваюшая и растровая электронная микроскопия с получением компьтерных файлов изображения;

- НР 4145А, Agilent B1500A - аналитические измерения ВАХ;

- установка электронно-лучевого тестирования ЕВ Tester "Advantest" (ЕВ 1340);

7. Средства САПР и информационно-вычислительные системы:

- рабочие станции и персональные компьютеры (уровня Pentium) - свыше 100 шт.

в том числе серверы 3 шт.

- все компьютеры объединены в локальную сеть с выходом в ИНТЕРНЕТ по радиоканалу 2 Мбит/сек.

- САПР БИС СОМРАSS, CADENCE, "Ковчег".

- САПР ПЛИС .Altera, Xilinx.

- САПР приборно-технологического моделирования ISE TCAD;

8. На предприятии действует политика в области качества.

В данный момент на предприятии проводятся следующие исследования:

- разработка технологий современных СБИС, включая технологию самоформирования элементов, которая позволит при 1-2 микронных проектных нормах получать размеры между элементами в десятые доли микрона;

- исследования и разработка элементной базы прецизионных аналоговых и аналого-цифровых БИС и вентильных матриц, что обеспечит создание однокристальных систем обработки информации и управления;

- разработка ряда унифицированных базовых матричных кристаллов с единой САПР и библиотекой элементов, доступной разработчикам систем и вычислительных устройств, что даст возможность значительно сократить сроки и стоимость разработок;

- исследования и разработка микроэлектронных сенсоров и датчиков физических величин (давления, ускорения, силы, магнитного поля), включая конструктивно-технологическое исполнение датчиков, интеграцию сенсоров и БИС обработки сигналов на одном кристалле и на основе многокристальных модулей для получения серии современных микроэлектронных датчиков тензочувствительности;

- создаются экспериментальные образцы датчиков утечек водорода, аммиака, сероводорода.

- разрабатываются системы автоматизированного проектирования БИС на основе базовых матричных кристаллов, позволяющих на персональном компьютере типа IBM PC провести весь цикл разработки БИС от формирования технического задания до подготовки документации для изготовления БИС. Системы имеют низкую стоимость, удобны и просты в эксплуатации, позволяют легко проводить переподготовку разработчиков промышленных предприятий, с успехом используются в учебном процессе ряда вузов страны.