2.2.9 Лабораторная работа № 16

«Измерение шероховатости поверхности детали»

2.2.9.1 Цель работы

Получение навыков в области измерения параметров шероховатости различных поверхностей.

2.2.9.2 Содержание работы

Контроль шероховатости поверхности путем сравнения с образцом.

Объект контроля – стальная деталь с плоской или цилиндрической поверхностью с мкм.

Средство контроля – образцы шероховатости поверхности, набор № 1 или 2.

1) Измерение высоты неровностей профиля поверхности по десяти точкам .

Объект измерения – деталь с плоской или цилиндрической поверхностью с мкм.

Средство измерения – двойной микроскоп Линника МИС-11.

2) Измерение высоты неровностей профиля поверхности по десяти точкам .

Объект измерения – деталь с плоской или цилиндрической поверхностью с мкм.

Средство измерения – микроинтерферометр МИИ-4.

3) Ознакомление с устройством профилометра-профилографа

«АБРИС-ПМ 7.2».

2.2.9.3 Экспериментальное оборудование

Образцы шероховатости, набор №1 или 2; двойной микроскоп Линника МИС-11; микроинтерферометр МИИ-4.

2.2.9.4 Подготовка к работе

Самостоятельная подготовка студентов к выполнению лабораторной работы осуществляется по следующим разделам:

– понятие о шероховатости [6, 15, 20, 25];

– нормируемые параметры шероховатости, связанные с высотными свойствами [20, 21, 25];

– параметры шероховатости, связанные с формой неровностей поверхностей [20, 21, 25];

– выбор параметров шероховатости и их числовые значения [6, 20];

– обозначение шероховатости поверхностей [15, 20];

– бесконтактные средства измерения шероховатости [4, 21, 25];

– щуповые приборы для определения шероховатости поверхности [4, 20, 21, 26].

2.2.9.5 Теоретическая часть

а) Краткие сведения о критериях шероховатости

Шероховатость поверхности по ГОСТ 2789 оценивается следующими критериями: средним арифметическим отклонением профиля , высотой неровностей профиля по десяти точкам , наибольшей высотой шероховатостей профиля , средним шагом неровностей , средним шагом неровностей по вершинам и относительной опорной длиной профиля , где Р – числовое значение уровня сечения профиля.

ГОСТ 2789 устанавливает 14 классов (условно) шероховатости, причем для классов 6...12 шероховатость оценивается по , для классов 1...5 и 13...14 – по ; классы 6...14 дополнительно делятся на разряды – .

Числовые значения шероховатости поверхности определяют от единой базы, за которую принята средняя линия профиля m, т.е. базовая линия, имеющая форму номинального профиля и проведенная таким образом, что в пределах базовой длины среднее квадратическое отклонение профиля до этой линии минимально. Такая система оценки параметров шероховатости получила название системы М.

Простейшим способом контроля неровности поверхности в цехе является визуальное сравнение обработанной поверхности детали с образцовой деталью или образцами шероховатости. Образцы выпускаются в виде наборов для сталей и для чугуна, причем комплекты от­личаются по виду обработки и по форме обработанных поверхностей.

Сопоставление поверхности детали с рабочими образцами, которое проводится на глаз, с помощью лупы или специального микроскопа сравнения, не дает числовой оценки шероховатости и может быть рекомендовано только для поверхностей до 6-го класса шероховатости.

б) Двойной микроскоп МИС-11

Средства измерения параметров шероховатости поверхности подразделяют на оптические u контактные. Контактные средства измерения более надежны в цеховых условиях работы.

Оптические средства измерения (оптические приборы) предназначены для определения трех параметров шероховатости: R_z, R_max и S в плоскости, нормальной к направлению неровностей поверхности.

ГОСТ 9847-79 устанавливает пять типов оптических приборов для измерения параметров шероховатости поверхности: ПТС – прибор теневого сечения, предназначенный для измерения шероховатости грубо обработанных поверхностей; ПСС – прибор светового сечения (двойной микроскоп); МОМ – микроскоп однообъективный муаровый, основанный на измерении искривления муаровых полос, вызванного неровностями поверхности; МИИ – микроскоп интерференционный, использующий при измерении двулучевую интерференцию света; МПИ – микроскоп-профилометр, действие которого основано на интерференции света с образованием полос равного хроматического порядка.

в) Двойной микроскоп Линника МИС-11

Этот микроскоп относят к приборам типа ПСС, он состоит из проецирующего и наблюдательного микроскопов, оси которых расположены под углом , а биссектриса угла перпендикулярна к контролируемой поверхности.

Если свет от источника 3 направить через узкую щель 16 прямоугольного сечения и спроецировать объективом 5, то на контролируемую поверхность 4 поступит пучок света в виде узкой полосы, который деформируется шероховатостью поверхности 4 и, отразившись от нее, спроецируется объективом 5 наблюдательного микроскопа 2 в фокальную плоскость винтового окулярного микроскопа 7 (рису- нок 55, а). Измерив амплитуду Rimax отклонения свето­вого пучка от прямолинейности, определяют высотные параметры шероховатости контролируемой поверхности.

1 – проецирующий микроскоп; 2 – наблюдательный микроскоп; 3 – источник;

4 – контролируемая поверхность; 5 – объектив; 6 – кронштейн;

7– окулярный микроскоп; 8 – основание; 9 – держатель; 10 – гайка; 11, 12 – маховики;

13 – микрометрические головки; 14 – винт; 17 – шкала;

а – оптическая схема; б – общий вид;

в – схема определения цены деления барабана микроскопа.

Рисунок 55 – Двойной микроскоп МИС-11

Микроскоп устроен следующим образом (рисунок 55, б): по колонке, закрепленной в основании 8 микроскопа, перемещается кронштейн 6 с держателем 9 тубусов проецирующего 1 и наблюдатель-ного 2 микроскопов. Перемещение кронштейна осуществляется при освобожденном винтe кронштейна с помощью гайки 10. В верхней части микроскопa 1 установлен осветитель, а у микроскопа 2 – окулярный винтовой микрометр 7. Для фокусировки микроскопов на контролируемое изделие служит маховик 11 грубой подачи и маховик точной (микрометрической) подачи. С помощью двух микрометрических головок 13 столик с изделием может передвигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях, а также поворачиваться вокруг вертикальной оси и фиксироваться винтом 14.

К двойному микроскопу МИС-11 прилагаются четыре пары сменных объективов, которые не всегда идентичны. Поэтому перед измерениями должна быть определена цена деления круговой шкалы бара-бана 15 винтового окулярного микроскопа 7. Это осуществляется с помощью образцовой стеклянной шкалы 17 (рисунок 55, в) объект-микрометра, устанавливаемого на измерительный столик. Микроскоп 7 поворачивают вокруг своей оси таким образом, чтобы изображение шкалы совмещалось с изображением щели и при вращении барабана 15 располагалось параллельно краю щели, а деления шкалы 17 объект-микрометра должны находиться перпендикулярно к краю щели.

Перекрестие микроскопа 7 совмещают с одним из крайних штрихов шкалы 17 объект-микрометра и осуществляют отсчет по шкале барабана 15. Затем перекрестие с помощью барабана перемещают на другой крайний штрих объект-микрометра и проводят второй отсчет. Находят разность n отсчетов по шкале объект-микрометра с ценой деления 0,01 мм и разность k двух отсчетов по шкале барабана 15, полученных при совмещениях перекрестия со штрихами шкалы 17 объект-микрометра.

Цена деления (мм) шкалы окулярного микроскопа 7

.

После определения цены деления с окулярного микроскопа на столик 8 (рисунок 55, б) устанавливают измеряемое изделие 4 и фокусируют микроскоп на поверхности изделия, вращая махо- вики 12 и 11.

Винтовой окулярный микроскоп 7 поворачивают вокруг оси так, чтобы горизонтальная линия перекрестия была установлена параллельно световой щели, и в этом положении фиксируют. Вращением микрометрического барабана 15 окулярного микроскопа совмещают горизонтальную нить перекрестия с выступом, например с выступом верхней границы изображения световой полосы (положение I на рисунке 55, а), и записывают отсчет показаний по шкале микрометрического барабана 15. Затем эту нить перекрестия совмещают со впадиной изображения световой полосы (положение II на рисунке 55, а) и записывают второй отсчет.

Определяют высоту первой неровности профиля (выступа, сопряженного с впадиной)

,

где N – разность отсчетов по шкале барабана окулярного микроскопа;

с – цена деления шкалы барабана микроскопа.

Аналогично измеряют высоты остальных наибольших по величине неровностей профиля на базовой длине в зависимости от ожидаемого значения параметра . Параметр шероховатости поверхности

.

г) Микроинтерферометры

Микроинтерферометры предназначены для измерения профильным методом неровностей поверхности высотой от 0,03 до 1 мкм деталей, обладающих достаточной отражательной способностью.

Оптическая схема типичной модели двухлучевого микроинтер­ферометра МИИ-4 показана на рисунке 56, а.

От лампы 1 через конденсор 2, апертурную диафрагму 3, полевую диафрагму 4 и объектив 5 пучок лучей падает на пластину 8 с полупрозрачным слоем и разделяется на два пучка когерентных лучей примерно одинаковой интенсивности.

Конденсор представляет собой систему линз или других оптических деталей, собирающую лучи от источника света на предметы, рассматриваемые или проектируемые с помощью оптических приборов. Апертурная диафрагма – непрозрачная преграда, наиболее сильно ограничивающая световой пучок, падающий на оптическую сис-тему.

Полевая диафрагма (диафрагма поля зрения) определяет, какая часть пространства может быть изображена данной оптической системой; она в большей степени препятствует прохождению через оптическую систему лучей, выходящих из точек, удаленных от оптической оси системы.

1 – лампа; 2 – конденсор; 3, 4 – диафрагмы; 5, 13, 15 – объективы;

6, 10 – микрообъективы; 7 – испытуемая поверхность; 8, 9 – пластины;

11, 14, 17 – зеркало; 12 – окуляр; 16 – окно; 18 – контролируемая деталь;

19 – отсчетное устройство; 20 – механизм; 21, 22, 23 – головки; 24 – основание;

25 – фотокамера; 26 – тубус; 27 – кольцо; 28 – осветитель; 29 – столик;

а – оптическая схема; б – интерференционные полосы

в поле зрения окуляра; в – общий вид;

г – поле зрения окулярного микрометра .

Рисунок 56 – Микроинтерферометр МИИ-4

Нить лампы 1 проектируется конденсором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 3. Объектив 5 и пластина 8 проектируют изображение апертурной диафрагмы в плоскости зрачков входа одинаковых микрообъективов 6 и 10, а изображение полевой диафрагмы – в бесконечность.

Входной зрачок (зрачок входа) – изображение апертурной диафрагмы в пространстве предметов. Выходной зрачок (зрачок выхода) – изображение апертурной диафрагмы в пространстве изображений. Апертурная диафрагма может находиться в пространстве предметов, т. е. перед оптической системой, и тогда она сама будет служить зрачком входа; если она будет находиться в пространстве изображений, т. е. позади системы, то она будет служить зрачком выхода. Она определяет угол раскрытия прямолинейно ограниченного конуса, внутри которого распространяется свет; угол этого конуса обозначают 2и, где u – апертура, причем произведение синуса u на показатель преломления среды перед оптической системой называют числовой апертурой.

Даваемые объективами 6 и 10 вторичные изображения полевой диафрагмы проектируются на испытуемую поверхность 7 и зер- кало 11. Компенсационная пластина 9 уравнивает длины хода в стекле двух пучков лучей. Отразившись от испытуемой поверхности и зеркала, пучки лучей, вновь пройдя микрообъективы 6 и 10, соединяются полупрозрачной пластиной 8 и объективом 13 вместе с зеркалом 14 направляются в окуляр 12, в фокальной плоскости которого и наблюдается изображение испытуемой поверхности и система интерференционных полос, образованная соединившимися пучками когерентных лучей. При фотографировании интерференционной картины зер- кало 14 выводят из хода лучей и с помощью объектива 15 и зеркала 17 лучи направляют на фотопленку, помещенную в кадровом окне 16. Разность хода когерентных световых пучков создается децентрированием объектива 10. Оно вызывает разделение зрачков выхода оптической системы и тем самым создает в поле интерференции переменный наклон пучков, которые разделяет и собирает в фокальной плоскости объектив 13.

Ширину интерференционных полос изменяют путем децентрирования объектива 10, а их поворот в поле зрения – поворотом того же объектива вокруг его оси. При наличии неровностей на испытуемой поверхности интерференционные полосы, как было отмечено выше, соответственно искривляются. Отношение величины искривления А к ширине В интерференционной полосы оценивают визуально или с помощью винтового окулярного микрометра, а затем определяют размер Н неровности поверхности по формуле , где А и В – высота неровностей и ширина интерференционной полосы (расстояние между серединами или краями двух соседних темных или светлых полос) в делениях круговой шкалы барабана винтового окулярного микрометра; – длина волны света, применяемого при измерениях ( мкм). Для повышения точности измерений ширину В часто измеряют 3-4 раза в разных местах и используют среднее значение из результатов измерений, что особенно важно, если следы обработки беспорядочны.

При измерениях микроинтерферометр МИИ-4 устанавливают вдали от источников вибраций на основании 24 (см. рисунок 56, в) с демпфирующей подкладкой. Контролируемую деталь 18 кладут на координатный предметный столик 29 измеряемой поверхностью вниз. Установку объектива 6 (см. рисунок 56, а) против нужного участка измеряемой поверхности можно выполнять либо перемещением детали на столике 29 (см. рисунок 56, в), либо сообщением тому же столику продольного и поперечного перемещений посредством микрометрических отсчетных устройств 19, имеющих цену деления круговых шкал барабанов, равную 0,005 мм, и диапазоны перемещений от нуля до 10 мм. Осветитель 28 включается в сеть переменного тока через трансформатор (127–220 В)/8 В. Мощность лампы – 9 Вт.

Перед фокусировкой перекрывают пучок лучей, идущих в го­ризонтальной ветви прибора к объективу 10 (см. рисунок 56, а), с помощью накатанной головки 22 (см. рисунок 56, в), управляющей соответствующей шторкой. При этом кольцо 27 должно быть повернуто так, чтобы пучок лучей через окуляр направлялся в тубус 26 визуального наблюдения поверхности.

Фокусировку объектива 6 осуществляют (при отсутствии интерференции) с помощью накатанной микрометрической головки 23, управляющей вертикальным перемещением всей оптической системы, включающей объектив 6. Цена деления шкалы барабана го- ловки 23 равна 3 мкм. После этого поворотом головки 22 включают горизонтальную ветвь прибора и получают изображение измеряемой поверхности и систему интерференционных полос на ней в поле зрения винтового окулярного микрометра, надетого на тубус 26. Изменение ширины интерференционных полос осуществляют поворотом головки 21 вокруг ее оси, а поворот интерференционных полос – поворотом головки 21 вокруг оси механизма 20.

Если требуется сфотографировать интерференционную картину с помощью фотокамеры 25, то поворотом кольца 27 направляют интерферирующие пучки лучей в кадровое окно 16 (см. рисунок 56, а). Выдержку обычно приходится подбирать опытным путем. Рекомендуется применять пленку высокой чувствительности.

д) Профилометр-профилограф модели 201

Прибор предназначен для измерения параметра R_a шероховатости в пределах от 0,04 до 8 мкм и записи неровностей высотой в пределах от 0,05 до 20 мкм на прямолинейных трассах поверхностей (плоскостей, образующих цилиндров, конусов и т. п.). Эти операции выполняются на сменных опорных колодках с радиусами закругления R₁ = 50 мм и плоской опорной колодке. Нагрузка на колодку – 0,5 Н. Кроме того, с помощью приспособления с внешней опорой на профилометре-профилографе, можно проверять волнистость совместно с шероховатостью при шаге более 2,5 мм, а также, применив промежуточный щуп с радиусом сферы 2 мм, – волнистость без шероховатости.

Наименьший диаметр проверяемого отверстия равен: 8 мм при глубине 10 мм, 20 мм при глубине 100 мм, 40 мм при глубине 125 мм и 4 мм при глубине 100 мм с приспособлением, несущим внешнюю опору.

Указанные выше пределы измерения обеспечиваются вертикальными увеличениями (в тысячах): 1, 2, 4, 10, 20, 40, 100 и 200 (восемь ступеней). Каждой из этих ступеней вертикального увеличения (кроме 200 000) соответствует ступень предела измерения R_a по шкале показывающего прибора, а именно: 8; 4; 2; 0,8; 0,4; 0,2 и 0,08 мкм (семь ступеней). Нужное горизонтальное сжатие обеспечивается 10 ступенями горизонтальных увеличений от 2 до 4000.

Погрешность вертикального увеличения должна лежать в пределах , а погрешность показаний при измерении R_a – в пределах . Радиус закругления ощупывающей иглы составляет или мкм.

Измерительное усилие ощупывающей иглы не превышает Н, а градиент усилия – не более Н/мкм. Скорость трассирования профилографа – 0,2; 1,0; 10 мм/мин. Скорость трассирования профилометра – 42 мм/мин (0,7 мм/с). Из этих данных следует, что прибор обладает удовлетворитель­ными параметрами в отношении недоощупывания, деформаций и безотрывности огибания.

Запись профилограмм производится электротермическим способом на профилографной графитизированной ленте шириной 80 мм в прямоугольных координатах.

Наибольшая длина трассы при записи составляет 40 мм, а при измерениях R_a длина участка измерения может устанавливаться тремя ступенями: 1,6; 3,2 и 6,0 мм при отсечках шага (обеспечивающих применение стандартизованных базовых длин) 0,08; 0,25; 0,8 и 2,5 мм.

Прибор питается от сети переменного тока 50 Гц напряжением 127 или 220 В. Масса прибора 80 кг.

Волнистость поверхности с шагами, большими 2,5 мм, а также неровности поверхности в отверстиях диаметром от 4 мм при глубине до 10 мм записывают и измеряют по параметру R_a с помощью приспособления для проверки волнистости.

е) Профилометр-профилограф, основанный на индуктивном принципе

Данный прибор позволяет производить запись профилограммы, а также оценку шерохо­ватости поверхности по показывающей шкале в величинах Н_СК и R_a для 5 – 12-го классов. Благодаря применению иглы с малым радиусом закругления ( мкм) и малой скорости трассирования (скорость датчика при записи профилограммы мм/мин, а при работе показывающего прибора мм/с прибор обладает высокой разрешающей способностью.

Вертикальное увеличение прибора равно 2000 – 120000, горизонтальное – 50 – 1800. Малое измерительное усилие (0,1 г) и малый градиент усилия (не более 0,001 г/мкм) ощупывающей иглы обеспечивают возможность измерения шероховатости не только поверхности цветных металлов, но и всевозможных неметаллических поверхностей и покрытий. Наибольшая длина хода иглы – 6 мм.

Измерение с помощью показывающего прибора осуществля­ется за один проход иглы. Отсчет показаний производится по шкале прибора при неподвижной стрелке, автоматически оста­навливающейся после прохождения трассы измерения.

Электрическая часть прибора состоит из индуктивного датчика 2, усилитель­ного блока 5, показывающего 6 и записывающего 9 приборов (рисунок 57, а). Магнитная система датчика состоит из Ш-образного сердечника 3 с двумя катушками. Катушки датчика и две половины первичной обмотки входного дифференциального трансформатора 4 образуют мост, питание которого осуществляется от генератора звуковой частоты.

При перемещении датчика по контролируемой поверхности алмазная игла 1 совершает колебательное движение, которое передается якорю 10 (рисунок 57, б). Возникающие вследствие этого на выходе трансформатора колебания напряжения поступают через усилитель в записывающий или показывающий прибор или шлейфовый осциллограф 7, включаемый через магазин сопротивлений 8. Перемещение датчика осуществляется посредством электродвигателя.

В качестве самописца используется амперметр постоянного тока. Запись профилограммы производится чернилами на движущейся бумажной ленте. Показывающий прибор магнитоэлектрического типа интегрирует по времени поступающее с усилителя напряжение.

1 – игла; 2 – датчик; 3 – сердечник; 4 – трансформатор;

5 – усилительный блок; 6 – показывающий прибор; 7– осциллограф;

8 – магазин сопротивлений; 9 – записывающий прибор; 10 – якорь;

11 – пружины; 12 – опора; 13 – коромысло.

Рисунок 57 – Принципиальная схема

профилометра-профилографа,

основанного на индуктивном принципе

Для того чтобы показывающий прибор измерял микронеров­ности в единицах , необходимо, чтобы рабочая точка вольт-амперной характеристики используемых в приборе выпрямителей была перенесена в криволинейную часть, которая весьма близка к параболической. Если зависимость между выпрямленным током и напряжением будет линейной, то показание прибора будет пропорционально среднему значению измеряемой величины.

Настройка прибора производится по образцовой детали. В конструкции ощупывающей части датчика алмазная игла 1 закреплена на конце коромысла 13, контактирующего с ножевой опорой 12. С коромыслом жестко связан якорь 10. Измерительное усилие, регулируемое с помощью пружин 11, не должно превышать 0,1 Г. Датчик подвешен на крестообразном пружинном шарнире (на рисунке не показан). Сила тяжести датчика уравновешивается при помощи специальной пружины таким образом, чтобы сила давления опоры 14 на контролируемую поверхность не превышала 60 Г.

2.2.9.6 Контрольные вопросы

1. Что такое шероховатость?

2. Нормируемые параметры шероховатости и их определение. Что такое базовая длина? Что такое средняя линия профиля?

3. На чем основан принцип бесконтактного измерения шероховатости?

4. Принцип действия контактных средств измерения шероховатости.

5. Что такое профилограф и профилометр и их эксплуатационные возможности?

6. Что такое профилограмма поверхности?

7. Напишите формулы для определения параметров шерохова-тости.

2.2.9.7 Порядок выполнения работы

1. Определить класс шероховатости поверхности детали путем визуального сравнения с образцами шероховатости.

2. Ознакомиться с устройством двойного микроскопа Линника (МИС-11).

3. Подготовить прибор к измерениям:

– определить цену деления окулярного микрометра;

– установить проверяемую деталь на столике прибора так, чтобы следы обработки были перпендикулярны к изображению проектируемой щели;

– наблюдая в окуляр, установить изображение щели в центр поля зрения;

– вращением маховичка 6 (см. рисунок 55) добиться резкого изображения щели;

– освободить стопорный винт и развернуть окулярный микро- метр 4 таким образом, чтобы горизонтальная линия перекрестия сетки встала строго параллельно линии щели;

– добиться отсутствия перекосов детали в поперечном и продольном направлениях.

4. Вращением барабана 5 окулярного микрометра вначале подвес­ти горизонтальную линию перекрестия к вершинам (выступам) изображения изгибающейся щели. Снять по барабану окулярного микрометра первый отсчет и записать его в бланк отчета.

5. Подвести горизонтальную линию перекрестия в положение впадин с той же стороны щели. Снять второй отсчет и зафиксировать его.

6. Определить по барабану окулярного микроскопа 5 разность отсчетов А в данном сечении.

7. Перемещая винтом продольного перемещения стола изображение щели на другие участки детали, определить по изложенной выше методике значение А в других сечениях. Подсчитать значение А_ср.

8. Подсчитать значения (мкм): , где N – увеличение объектива. Коэффициент 10 введен для получения значения в мкм, а коэффициент 1/2 учитывает наклон тубуса микроскопа и разворот окулярного микрометра.

9. Определить класс шероховатости контролируемой детали.

10. Ознакомиться с устройством микроинтерферометра МИИ-4.

11. Убедиться, что одна нить перекрестия сетки окулярного микроскопа совпадает с направлением интерференционных полос, а другая – с направлением следов обработки нa испытуемой поверхности.

12. Вращением барабана окулярного микрометра установить нить сетки на край одной из полос (см. рисунок 56) и снять по барабану отсчет А₁.

13. Переместить нить на край соседней полосы и снова по барабану снять отсчет А₂. Разность отсчетов А₁ – А₂ определяет интервал b между двумя полосами.

14. Установить нить перекрестия на противолежащий край второй интерференционной полосы и снять отсчет А₃. Величина а изгиба интерференционной полосы равна pазности A₃ – A₂.

15. Измерения величин а и b произвести в разных точках 5 раз, результаты измерений записать в бланк отчета и подсчитать значения а_ср и b_ср.

16. Подсчитать в долях интервала между полосами значение высоты прогиба полос С_ср= а_ср/ b_ср.

17. Определить значение по формуле .

18. Cопоcтавить найденное значение со стандартным и определить класc шероховатости проверяемой поверхности (таб- лица 2.62) [6].

19. Выразить параметр через параметр R_a (таблица 2.63) [6].

20. Зная номинальный размер контролируемой детали и значение R_a, определить квалитет точности и относительную геометрическую точность детали [6].

21. Определить вид обработки контролируемой детали [6].

22. Ознакомиться с устройством и работой профилометра-профилографа «АБРИС-ПМ 7.2».

2.2.9.8 Оформление отчета по работе

Отчет оформляется в соответствии с п. 1.4. Отчет по экспериментальной части включает: данные об объекте измерения; результаты контроля шероховатости; результаты измерений параметров шероховатости; указать вид обработки поверхности детали.