Моделювання характеристик діодів в ппп «MicroCap»
Рис.7. Приклад результатів моделювання прямої вольт-амперної характеристики при ітерації паразитного опору RS діодної структури
Рис.9. Приклад результатів моделювання прямої вольт-амперної характеристики при ітерації температури
6. ЗМІСТ ЗВІТУ
1. Мета та завдання роботи.
2. Схема дослідження характеристик.
3. Параметри моделей.
3. Результати дослідження та моделювання характеристик.
4. Висновки.
7. Список літератури
1. Фізичні основи електронної техніки: Підручник / З.Ю. Готра, І.Є. Лопатинський, Б.А. Лукіянець, З.М. Микитюк, І.В. Петрович – Львів: Видавництво „Бескид Біт”, 2004. – 880 с.
2. Викулин И.М., Стафеев В.И. Физика полупроводниковых приборов. М.: Радио и связь. 1990.
3. Sah C.-T. Fundamentals of solid-state electronics // C.-T. Sah. World Scientific, 1991. 1011 p.
4. Бубенников А.Н., Садовников А.Д. Физико-технологическое проектирование биполярных злементов кремниевых БИС. М.: Радио и связь, 1991.-288с.
5. Пасынков В.В., Чиркин Л.К., Шинков А.Д. Полупроводниковые приборы. М.: Высшая школа. 1987.