6.10 Патентные исследования

Патентные исследования являются обязательной, необъемлемой и составной частью при выполнении научно-исследовательских, опытно-конструкторских и проектно-конструкторских работ. Такой же обязательной частью они становятся сегодня при выполнении дипломных проектов, поскольку сегодняшний дипломник завтра становится инженером, участвующим в вышеперечисленных работах.

Патентные исследования – это исследования технического уровня и тенденций развития объектов техники, их патентоспособности и патентной чистоты на основе патентной и другой научно-технической литературы. На их основе выясняются аналоги и прототипы разрабатываемого устройства или системы, способы решения задач, подобных заданной. Целью патентного исследования в дипломном проекте является по­вышение научно-технического уровня применяемых технических реше­ний.

При патентном исследовании проводится поиск решений по выбран­ной теме, выполненных в основных промышленно развитых странах (США, ФРГ, Франция, Великобритания, Япония, РФ) за последние десять лет по патентной литературе. Проводится их сравнительный анализ и выбор наиболее эффективного решения в условиях, оговоренных заданием, для использования в разрабатываемом дипломном проекте.

По результатам патентных исследований этот раздел оформляется в виде патентного обзора. В конце раздела «Патентный поиск» дипломник указывает, какое из проанализированных технических реше­ний становится ближайшим прототипом и используется в дипломном проекте.

Существенным для патентной документации является сравнительная легкость ее поиска и обработки благодаря единой международной систематизации с помощью МПК (Международная патентная классификация, англ. International Patent Classification - IPC), где принята лаконичная и унифицированная форма изложения.

В большинстве БД можно проводить поиск по следующим критериям:

• систематический поиск (по индексам МКИ);

• лексический поиск (по ключевым словам);

• авторский поиск (по имени автора);

• фирменный поиск (по имени заявителя);

• поиск по публикационным данным (по номеру и дате публикации);

• поиск по приоритетным данным (по номеру и дате конвенционной заявки);

Проведение патентного поиска является сложной и долгой процедурой, но существуют бесплатные Интернет-ресурсы, которые могут помочь в достаточно сжатые сроки достигнуть наиболее эффективных результатов и получить точную информацию.

Наиболее быстрым является использование поисковых систем. Например, поисковая система http://www.google.ru/patents содержит свыше восьми миллионов патентов. Её достоинством является моментальный вывод патентов по ключевому слову. Так например, при запросе по варикапам на арсениде галлия (GaAs varicaps) было получено 79 патентов США. Однако полученные патенты следует внимательно сортировать – поисковая система не отличила материал GaAs от среды, в которой производятся варикапы – gas.

Патенты Российской федерации можно найти по адресам:

• http://ru-patent.info/

• Федеральный институт промышленной собственности http://www.fips.ru.

• Международный центр научной и технической информации (МЦНТИ) http://www.icsti.su/,

• Всероссийский научно-технический информационный центр (ВНТИЦ) http://s1.vntic.org.ru/h2.htm

Иностранные базы данных:

• Соединенные штаты Америки -http://www.uspto.gov/web/menu/search.html

• Япония (на английском языке) -

http://www.jpo.go.jp/shiryou_e/index.htm

• БД AIPN (Advanced Industrial Property Network - Japanese Patent Office) содержит патентные документы Японии, опубликованные с 1995 г., а также документы США (с 1987 г.), ЕПВ (с 1994 г.) и ВОИС (с 1994 г.) -

http://www.intellogist.com/wiki/Main_Page.

• Через сайт Европейской патентной организации можно произвести поиск патентных документов: Европейской патентной организации (EPO), Всемирной организации интеллектуальной собственности (WIPO), Японии, Австрии, Бельгии, Франции, Германии, Швеции, Англии -

http://www.espacenet.com/access/index.en.htm

• Через сайт Всемирной организации интеллектуальной собственности (WIPO) можно произвести поиск патентных документов: Японии, Канады, США, Европейской патентной организации (EPO), Франции, Индии, Китая

http://www.wipo.int/ipdl/en/search/pct/search-adv.jsp.

Образец патентных исследований приведен в Приложении XVII.