4. 2. Порядок выполнения работы

ОБОРУДОВАНИЕ:

1.Универсальный цифровой измеритель-мультиметр типа М 832, М 838.

2. Набор не менее 30шт дискретных элементов – резисторов, конденсаторов, транзисторов и т.п., (тип элементов определяется преподавателем).

ХОД РАБОТЫ

1. Получить у преподавателя измерительный прибор - мультиметр и исследуемые элементы, проверить их количество.

2. Установить переключатель пределов измерения прибора в нужное положение и провести измерения контролируемых параметров элементов, записывая результаты измерений в таблицу по форме табл. 1.5 (лабораторная работа №1).

3. Окончив измерения, сдать мультиметр и исследуемые элементы преподавателю.

4. В соответствии с заданием преподавателя в качестве исходных данных могут использоваться результаты измерений сопротивлений выборки резисторов, полученные в лабораторной работе №1. В этом случае новые измерения не проводятся.

Обработка результатов измерений

Для построения контрольных карт по альтернативному признаку также как и в предыдущей лабораторной работе используются результаты измерений выборки резисторов объемом не менее 30 шт., полученные в лабораторной работе №1. Предполагается, что порядок записи результатов в таблице измерений представляет собой имитацию строгой временной последовательности изъятия резисторов и проведения измерений их сопротивлений в ходе технологического процесса. Процесс обработки результатов измерений проводится в том же порядке, что и в лабораторной работе №3.

1. Имеющаяся «временная последовательность» измерений сопротивлений резисторов (табл.1.5, лаб.раб. №1) разбивается на N групп. В данной лабораторной работе N = 10. Результаты группирования заносятся в таблицу по форме табл. 4.1, в которую далее заносятся и результаты расчетов.

Таблица 4.1

Результаты группирования измерений и расчетов параметров контрольных карт по альтернативному признаку для технологического процесса производства резисторов

№ группы	R1	R2	…	Rm	Объем группы	Количество дефектов в группе	Доля дефектов в группе	Количество дефектов на единицу продукции
1
2
…
j
…
N

2. Для определения количества дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) в группе используется прием, имитирующий образование дефектов.