3. 2. Порядок выполнения работы
ОБОРУДОВАНИЕ:
1.Универсальный цифровой измеритель-мультиметр типа М 832, М 838.
2. Набор не менее 30шт дискретных элементов – резисторов, конденсаторов, транзисторов и т.п., (тип элементов определяется преподавателем).
ХОД РАБОТЫ
1. Получить у преподавателя измерительный прибор - мультиметр и исследуемые элементы, проверить их количество.
2. Установить переключатель пределов измерения прибора в нужное положение и провести измерения контролируемых параметров элементов, записывая результаты измерений в таблицу по форме табл. 1.5 (лабораторная работа №1).
3. Окончив измерения, сдать мультиметр и исследуемые элементы преподавателю.
4. В соответствии с заданием преподавателя в качестве исходных данных могут использоваться результаты измерений сопротивлений выборки резисторов, полученные в лабораторной работе №1. В этом случае новые измерения не проводятся.
Обработка результатов измерений
Предполагается, что порядок записи результатов измерений в таблице представляет собой имитацию строгой временной последовательности изъятия элементов, в данном случае резисторов, и проведения измерений их сопротивлений в ходе технологического процесса. Процесс обработки результатов измерений проводится в следующем порядке.
1. Имеющаяся «временная последовательность» измерений сопротивлений резисторов разбивается на N групп. В данной лабораторной работе N = 10. Группы образуются следующим образом: при объеме выборки n = 30 каждая группа будет иметь три результата измерения (резистора). При этом в первую группу войдут результаты измерений под номерами 1, 2, 3, во вторую группу под номерами 4, 5, 6 и т.д. Результаты группирования заносятся в таблицу по форме табл.3.3, в которую далее заносятся и результаты расчетов.
Далее последовательно рассчитываются и строятся , R и S карты.
2. При расчете
параметров
-
карты в
качестве значения ЦЛ используется
номинальное значение резистора R
ном
(значение указанное на корпусе резистора).
Таблица. 3..3
Результаты группирования измерений и расчетов параметров контрольных карт по количественному признаку для технологического процесса производства резисторов
-
№ группы
R1
R2
…
Rm
Среднее значение
RсрJ
Размах
Среднее квадратическое отклонение
1
2
…
j
…
N
Для определения
возможного систематического изменения
контролируемого параметра (сдвига от
ЦЛ) определяется среднее арифметическое
значение по формуле
,
которое на контрольной карте изображается линией параллельной ЦЛ.
ВГР рассчитывается по формуле
ВГР = Rсрj + А2 R ном
НГР рассчитывается по формуле
ВГР = Rсрj - R ном
3. При расчете R и S карт используются формулы, приведенные в п.3.1.3.
4. После каждого расчета , R и S карт строятся соответствующие графики.
5. Проводится анализ контрольных карт и делаются соответствующие выводы.