
- •1. Поняття про розсіювання електронів.
- •2. Пружне розсіювання.
- •3. Наслідки не пружного розсіювання.
- •4. Втрати енергії електроном пучка.
- •5. Поняття про область взаємодії.
- •6. Суть методу Монте-Карло.
- •7. Вплив атомного номера на розміри та форму області взаємодію.
- •8. Залежність розмірів області взаємодії від енергії пучка.
- •9. Пояснити залежність розмірів області взаємодії від кута падіння пучка.
- •10. Довжина пробігу електронів згідно Бете.
- •11. Довжина пробігу електронів згідно з Канайє-Окаяме
- •12. Порівняння значення довжини пробігу з даними про розміри області взаємодії.
- •13. Поняття про відбиті електрони, ймовірність їх утворення, коефіцієнт відбиття.
- •14. Залежність коефіцієнта відбиття від атомного номера, енергія пучка та кута нахилу.
- •15. Розподіл відбитих електронів.
- •16. Вторинні електрони.
- •17. Безперервне рентгенівське випромінювання.
- •18. Механізм утворення характеристичного рентгенівського випромінювання.
- •20. Ймовірність виникнення характеристичного рентгенівського випромінювання.
- •21. Інтенсивність рентгенівського випромінювання.
- •22. Глибина генерації та густина характеристичного рентгенівського випромінювання.
- •23. Катодолюмінісценція.
- •25. Блок схема рем
- •26. Електронно-оптична та детекторна система
- •27. Побудова зображення
- •28. Збільшення.
- •29. Глибина фокуса.
- •30. Спотворення зображення.
- •31. Загальна характеристика детекторів.
- •32. Детектор типу сцинтилятор-фотопомножувач.
- •33. Твердотільний детектор.
- •34. Зразок у якості детектора.
- •35. Поняття про контраст, рівняння яскравості та порогове рівняння, їх аналіз.
- •36. Обмеження на зображення у рем.
- •38. Спектрометр із дисперсією за довжинами хвиль
- •39. Рентгенівський спектрометр із дисперсією за енергіями.
34. Зразок у якості детектора.
Рисунок 2.13 – Ілюстрація вхідних та вихідних струмів зразка
Зразок являє собою вузол (рис. 2.13), у який входять (івх=із) та виходять (івих=ів+іве+іп) електричні струми (ів, іве, іп – струми відбитих, вторинних та тих, що пройшли мішень електронів).
Якщо зразок не електропровідний або не заземлений провідник, то у цьому випадку івх>івих, тобто він буде заряджатися. Стікання заряду можна забезпечити за допомогою звичайного заземлення. У цьому випадку струм електронів іп (його часто називають струмом мішені) становитиме із-ів-іве. Таким чином, баланс струмів матиме той вигляд, який задовольняє закон Кірхгофа, а саме: івх= івих; із= ів+іве+іп..
Щоб позбутися струму вторинних електронів, на зразок подають потенціал +50 В. Тоді баланс струмів матиме вигляд із= ів +іп.
35. Поняття про контраст, рівняння яскравості та порогове рівняння, їх аналіз.
При малих атомних номерах отримане зображення буде темним, а при великих – світлим. Відносна зміна інтенсивності сигналу у двох сусідніх точках обумовлює контраст (С) на зображенні (2.7)
За величиною сигналу можна розрахувати контраст та отримати певну інформацію про зразок, але наявність флуктуацій (шумів) її обмежує (2.8). Дозволяє для заданого струму пучка розрахувати найменше значення контрасту, що можна спостерігати.
Поряд із пороговим рівнянням для розрахунку параметрів оптимального зображення у РЕМ використовують рівняння яскравості (2.9)
(2.8) та (2.9) показує, що для відображення низького рівня контрасту потрібно істотно збільшити струм пучка, щоб задовольнити порогове рівняння. Але при цьому виникає необхідність працювати з великим діаметром пучка, що, у свою чергу, призводить до втрати інформації у тонкій структурі на зображенні.
36. Обмеження на зображення у рем.
На якість зображення може впливати ряд обмежень, що пов’язані: 1) з роботою електронно-оптичної системи; 2) з контрастом, що створюють зразок та детекторна система; 3) з областю генерації у зразку; 4) з природою вторинних електронів.
Коротко зупинимося на зазначених обмеженнях.
При максимальному контрасті (100%) і досить високій ефективності збору (25%) інформації мінімальний розмір зонда на рівні 5 нм.
Для більшості зразків, які створюють контраст від 1 до 10 %, розмір просторових неоднорідностей лежить у межах 23 – 230 нм. У даному випадку сам зразок обмежує можливість приладу.
Розглянемо міжфазну межу у твердому тілі (рис. 2.17), де мішень являє собою стик двох матеріалів з різко відмінними атомними номерами. Хоча межа між матеріалами різко виражена, але на зображенні вона буде розмитою. Таким чином, можливість визначення положення межі обумовлена природою взаємодії електронного пучка із мішенню.
Положення пучка на лінії сканування
Рисунок 2.17 – До пояснення впливу розміру області взаємодії на зміну сигналу
Інший фактор, який впливає на обмеження зображення, полягає у наступному. Вторинні електрони утворюються падаючим пучком електронів при вході в мішень, а також електронами, що емітуються із мішені. У першому випадку електрони дають інформацію про мікро-неоднорідності або тонку структуру мішені. Електрони, утворені відбитими електронами, створюють шум. Це означає, що обмеження на зображення тонкої структури обумовлюється природою виникнення вторинних електронів.
37. Методи обробки сигналу.
Зворотний
контраст.
Досягається завдяки відніманню від
певного фіксованого значення вхідного
сигналу (Sвх).
Причому воно повинно відповідати
максимальному сигналу (Smax).
Таким чином, вихідний сигнал буде
визначатися так:
. (2.10).
У результаті цієї процедури на екрані,
ділянки, що спостерігалися світлими та
темними, будуть зображатися темними та
світлими відповідно. Вик. коли природа
сигналу від детектора така, що контраст
має протилежний знак стосовно до
очікуваного (наприклад, зразок
використовується як детектор).
Диференційне підсилення.
Рисунок 2.19– До пояснення диференційного підсилення
Недолік методу полягає в можливості отримання насичених абсолютно білого або абсолютно чорного сигналів, що призводить до часткової втрати інформації (позиція (г)).
Диференціювання сигналу – це метод оброблення, який дозволяє підкреслити високочастотні компоненти на зразку та відповідно згладити низькочастотні. Вх. сигнал диференціюється за часом і на виході подається як Sвих=dSвх/dt. Операція ефективна лише в тому випадку, коли відношення сигнал/шум істотне.
Змішування
сигналів. Кінцевий
сигнал на екрані ЕПТ може являти собою
суму сигналів, наприклад, від двох
детекторів. Можна скомбінувати їх таким
чином, щоб вихідний сигнал визначався
за співвідношенням
, (2.11),
де a>0,
b<1.
Завдяки другому доданку контраст на краях (межі зерен, міжфазні межі тощо) буде підсилений, а перший доданок відповідає за збереження загальної інформації про об’єкт.
Y-модуляція.
Рисунок 2.21 – Схема утворення зображення у режимі Y-модуляції: 1, 2 - області сканування по зразку та по екрану ЕПТ; 3 - сигнал від попереднього сканування F(x,y,t), 4 - положення горизонтального рядка
На зразку розгортка по осях х та у здійснюється за допомогою відповідного генератора. На екрані ЕПТ положення точки по горизонталі визначається горизонтальним положенням при скануванні впродовж лінії. Положення по вертикалі на екрані визначається величиною сигналу у кожній конкретній точці. Тобто відхилену котушку у напрямку у подають сигнали від генератора розгортки та сигнал від одного із детекторів.
Цінність Y-модуляції полягає у тенденції підсилювання дрібномасштабної структури, яка може поліпшити видимість рельєфу поверхні зразка.