
- •Загальні методичні вказівки до лабораторних робіт
- •Методика опрацювання результатів лабораторних досліджень
- •Лабораторна робота № 1 дослідження питомих об’ємного та поверхневого опорів твердих діелектриків
- •1.1 Основні теоретичні відомості
- •1.2 Опис лабораторного обладнання
- •1.3 Послідовність виконання роботи
- •1.3.1 Вимірювання об'ємного опору
- •1.3.2 Вимірювання поверхневого опору
- •1.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •1.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 2 дослідження поляризації діелектриків та діелектричних втрат при високих частотах резонансним методом
- •2.1 Основні теоретичні відомості
- •2.2 Опис лабораторного обладнання
- •3.3 Послідовність виконання роботи
- •3.3.1 Налаштування куметра е9-4
- •3.3.2 Вимірювання ємності та добротності
- •2.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •2.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 3 дослідження діелектричних втрат та визначення діелектричної проникності електроізоляційних матеріалів при високій напрузі промислової частоти
- •3.1 Основні теоретичні відомості
- •3.2 Опис лабораторної установки
- •3.3 Послідовність виконання роботи
- •3.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •3.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 4 дослідження поляризації сегнетоелектриків
- •4.1 Основні теоретичні відомості
- •4.2 Опис лабораторного обладнання
- •4.3 Послідовність виконання роботи
- •4.3.1 Визначення масштабів горизонтального та вертикального відхилень променя осцилографа
- •4.3.2 Визначення характеристик сегнетоелектрика
- •4.3.3 Визначення температури точки Кюрі сегнетоелектричного конденсатора
- •4.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •4.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 5 визначення електричної міцності діелектриків
- •5.1 Основні теоретичні відомості
- •Опис лабораторної установки
- •5.2.1 Вимоги до зразків матеріалів та електродів
- •5.3 Послідовність виконання роботи
- •5.3.1 Дослідження пробою газоподібних діелектриків
- •5.3.2 Дослідження пробою рідких діелектриків
- •5.3.3 Дослідження пробою твердих діелектриків
- •5.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •5.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 6 дослідження електричних властивостей провідникових матеріалів
- •6.1 Основні теоретичні відомості
- •6.2 Опис лабораторної установки
- •Амперметра – вольтметра
- •6.3 Послідовність виконання роботи
- •6.4 Опрацювання результатів вимірювань та оформлення звіту
- •6.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота №7 дослідження властивостей феромагнітних матеріалів
- •7.1 Основні теоретичні відомості
- •7.2 Опис лабораторної установки
- •7.3 Послідовність виконання роботи
- •7.4 Опрацювання результатів вимірювань та офорлення звіту
- •7.5 Контрольні запитання
- •Лабораторна робота № 8 визначення магнітної проникності та втрат в феритах
- •8.1 Основні теоретичні відомості
- •8.2 Опис лабораторної установки
- •8.3 Послідовність виконання роботи
- •8.4 Опрацювання результатів вимірювань
- •8.5 Контрольні запитання
7.2 Опис лабораторної установки
При дослідженнях використовують зразки досліджуваних матеріалів у формі тороїда з рівномірно розподіленими намагнічуючою та вимірювальною обмотками.
Схема лабораторної установки наведена на рисунку 7.3.
Рисунок 7.3 – Електрична схема лабораторної установки для дослідження феромагнітних матеріалів
Динамічну криву намагнічування Bm(Hm) визначають методом амперметра та вольтметра. На обмотку намагнічування з кількістю витків W1 подається синусоїдна напруга заданої частоти від звукового генератора ЗГ. Активний опір кола обмотки намагнічування малий порівняно з його індуктивним опором, тому магнітна індукція в зразку буде синусоїдною, а струм намагнічування – несинусоїдним.
Для визначення амплітуди напруженості магнітного поля Hm вимірюють амплітудним вольтметром V1 максимальне значення U1m напруги на резисторі R1. Тоді
[А/м],
(7.6)
де lсер = dсер.
Індукцію в зразку визначають за синусоїдною ЕРС е2, що індукується у вимірювальній котушці з кількістю витків W2. Виміривши вольтметром V2 діюче значення цієї ЕРС (напруги), обчислюють індукцію за формулою:
[Тл],
(7.7)
де U2 показ вольтметра V2; Sзр – площа перерізу зразка.
Для одержання динамічної петлі гістерезису використовується осцилографічний метод. До входів X, Y осцилографа підводять дві напруги, пропорційні відповідно напруженості магнітного поля Н та магнітній індукції В в матеріалі.
На пластини горизонтального відхилення X з резистора R1 подається напруга
(7.8)
де Нt – миттєве значення напруженості магнітного поля. Таким чином, горизонтальне відхилення променя осцилографа пропорційне напруженості магнітного поля в зразку.
Для одержання напруги, пропорційної магнітній індукції В, на виході вимірювальної обмотки W2 увімкнена інтегруюча ланка R2С. У вимірювальній обмотці наводиться ЕРС
де Ф – магнітний потік у зразку.
Оскільки R2 >> 1C, то
Напруга на конденсаторі
(7.9)
пропорційна миттєвому значенню магнітної індукції В в зразку. Ця напруга подається на пластини вхід вертикального відхилення променя осцилографа.
Таким чином, при одночасному прикладенні напруг u1 та uс до пластин осцилографа на екрані відображається петля магнітного гістерезису.
7.3 Послідовність виконання роботи
1 Ознайомитися з обладнанням лабораторної установки, вивчити інструкції з експлуатації приладів.
2 Скласти лабораторну установку за схемою, наведеною на рисунку 7.3, з заданим зразком феромагнітного матеріалу для дослідження.
3 Увімкнути та налагодити осцилограф.
4 Зняти динамічну криву намагнічування досліджуваного матеріалу при частоті 50 Гц. Для цього встановити на звуковому генераторі частоту 50 Гц та змінювати струм намагнічування І1 від нуля до максимального значення, при якому досягається гранична петля гістерезису. Зняти покази вольтметрів V1 та V2. Результати вимірювань записати в таблицю 7.1.
5 Повторити вимірювання при частотах, заданих викладачем.
Таблиця 7.1 – Результати вимірювань та обчислень точок динамічної кривої намагнічування
№ з/п |
f, Гц |
R1, Ом |
Вимірювання |
Обчислення |
|||
|
|
|
|
|
|||
1 |
50 |
|
|
|
|
|
|
6 Зняти граничну динамічну петлю гістерезису при частоті 50 Гц, для чого:
плавно підвищувати струм намагнічування до досягнення стану магнітного насичення зразка. Регуляторами коефіцієнтів підсилення каналів X, Y осцилографа досягти максимального розміру зображення петлі гістерезису на екрані;
зарисувати петлю гістерезису та за її крайніми точками визначити масштаби по горизонтальній та вертикальній осях:
[А/ммм
],
(7.10)
[Тл/мм
],
(7.11)
де X, Y – відхилення променя осцилографа відповідно по горизонталі та вертикалі, мм.
7 Підтримуючи значення струму намагнічування постійним, виконати вимірювання згідно пункту 6 для частот, вказаних викладачем. Результати вимірювань за пунктами 6, 7 записати в таблицю 7.2.
8 Необхідні для розрахунків дані зразків магнітних матеріалів записати в таблицю 7.3.
Таблиця 7.2 – Результати вимірювань та обчислень точок граничної динамічної кривої намагнічування
№ з/п |
f, Гц |
R1, Ом |
Вимірювання |
Обчислення |
||||||
U1m, В |
U2, В |
X, мм |
Y, мм |
mX, А/мм |
mY, Тл/мм |
Sпет, мм2 |
Рпит, Вт/кг |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Таблиця 7.3 – Дані зразків феромагнітних матеріалів
Матеріал |
Dзовн, мм |
Dвнутр, мм |
W1, витків |
W2, витків |
, кг/м3 |
|
|
|
|
|
|