
- •Изучение температурной зависимости сопротивления металла и полупроводника
- •Описание метода исследования
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Обработка результатов измерений
- •Оценка погрешностей измерений
- •По лабораторной работе «Изучение температурной зависимости сопротивления проводника и полупроводника»
- •Средства измерений и их характеристики
- •Результаты измерений
- •Результаты расчетов
По лабораторной работе «Изучение температурной зависимости сопротивления проводника и полупроводника»
Исполнитель студент(ка) гр._____
Цель работы: ...
Краткое описание метода исследования: ...
Расчетные формулы: (объяснить входящие в формулы физические величины и указать единицы их измерения в СИ) …
Оборудование: ...
Средства измерений и их характеристики
Таблица 4.2
-
Наименование
прибора
Предел допускаемой относительной
погрешности (в % от измеренного значения)
Омметр
=0,8 %
Термометр
=1,0 %
Результаты измерений
Таблица 4.3
№ |
t, ºC |
Т, К |
1/T, К–1 |
Rпр, Ом |
Rпп, Ом |
lnRпп |
1 |
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
… |
… |
|
|
|
|
|
N |
70 |
|
|
|
|
|
Результаты расчетов
1. k1 = … = … Ом/ºС; (4.8)
2
Написать
формулу, показать расчёт и записать
результат!
3. t = … = … 1/ºC; (4.10)
4. = … = … %; (4.11)
5. k1 = … = … Ом/ºС; (4.13)
6. R0 = … Ом; (4.14)
7. = … = … %; (4.12)
8. E = … = … %; (4.15)
9. t = … = … 1/ºC; (4.16)
10. Окончательный результат: t = … ± … 1/ºС, Е = … %;
11. k2 = … = … К; (4.9)
12.
W
= … = … Дж = … эВ. (4.7) (1
эВ
Дж).
13. Оценка погрешностей ширины запрёщенной зоны W исследуемого полупроводника.
14. Вывод.
Примечание. К отчёту прилагаются два графика, построенные по данным табл. 4.3.
Температурный Ширина запрещённой зоны
коэффициент сопротивления веществ
Таблица 4.4 Таблица 4.5
-
Вещество
t10–3 К–1
Вещество
DW, эВ
(при 20 ºС)
Al
W
Cu
Pb
Ag
Нихром
4,5
5,1
4,3
4,2
4,1
0,2
C (алмаз)
Se
Ge
Si
GaAs
InAs
5,40
1,79
0,66
1,11
1,43
0,36