отчет Synopsys
.docxМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра РТЭ
отчет
по практической работе №4
по дисциплине «Основы проектирования электронной компонентной базы»
Тема: Работа в среде Synopsys Sentaurus TCAD
Студент гр. 5207 |
|
Иванов А.Д. |
Преподаватель |
|
Синев А.Е. |
Санкт-Петербург
2018
Цель работы: знакомство со средой Synopsys TCAD; моделирование полупроводниковых приборов, распределения поля в них и получение вольт-амперных характеристик.
Обработка результатов
-
Полупроводниковый резистор на полуизолирующей подложке GaAs
Для расчетов была смоделирована следующая топология:
Для подложки np=1014 см-3
Для канала ne=1017 см-3
Для контактов ne=1019 см-3
Рисунок 1 – Топология резистора
В ходе расчетов была получена следующие ВАХ, распределения полей, потенциалов, токов:
Рисунок 2 – ВАХ полупроводникового резистора
Рисунок 3 – Плотность электронного тока
Рисунок 4 – Распределение потенциала в структуре
Рисунок 4 – Распределение поля в структуре
Рисунок 5 – Распределение подвижности электронов в структуре
Рисунок 6 – ПСХ GaAs
Выводы: ВАХ резистора на GaAs можно объяснить с помощью рисунков 4-6 и формулы . Ограничивая скорость электронов с помощью команды HighFieldSaturation, мы ограничиваем подвижность электронов, а т.к. , то и ток выходит на насыщение. Сопоставляя рисунки 4 и 5, видно, что наибольшая подвижность наблюдается в тех местах, где поле немного больше 1,5*104 В/(см*с), что соответствует максимуму на ПСХ .
-
Диод Шоттки на подложке GaAs
n1_dat_des расчитан для Ug = 1 B, n2_dat_des для Ug = -1 B
Рисунок 7 – ВАХ на затворе
Рисунок 8 – Распределение поля в структуре
Рисунок 9 – Распределение потенциала в структуре
Рисунок 10 – Распределение плотности тока в структуре
Выводы: при подаче обратного напряжения на затвор обедненная зона под ним увеличивается, перекрывает канал, за счет этого уменьшается ток (рис.10). Меньше электронов = больше сопротивление, поэтому весь потенциал резко падает на подзатворной области (рис.9), а т.к. , то отсюда мы получаем сильные поля в этой области (рис.8) относительно этой же структуры, но с положительным напряжением на затворе.
-
Редактирование командного файла
-
Получить ВАХ резистора без учета скорости насыщения
-
Рисунок 11 – ВАХ с учетом скорости насыщения (зеленый) и без (красный)
Рисунок 12 – Распределение подвижности электронов с учетом скорости насыщения (справа) и без (слева)
Рисунок 13 – Скорость электронов в структуре
Рисунок 14 – Распределение поля в структуре
3.2 Получить обратную ВАХ для диода Шоттки с учетом лавинной генерации и без нее.
Для этого в код нужно внести следующий фрагмент:
Physics {Mobility (DopingDependence)
Recombination (Avalanche (Eparellel))}
Рисунок 15 – Обратная ВАХ диода Шоттки с учетом лавинной генерации и без нее
Выводы: HighFieldSaturation ограничивает скорость электронов.
Убирая этот параметр, снимается ограничение в (рис.13), мы получаем зависимость только от легирования (рис.12).
– линейная зависимость (рис.11)
-
Построить выходные ВАХ ПТШ
Рисунок 16 – Выходные ВАХ ПТШ
Рисунок 17 – Распределение потенциала в структуре для Ug = 1V (слева) и Ug = -2V (справа)
Рисунок 18 – Распределение поля в структуре для Ug = 1V (слева) и Ug = -2V (справа)
Выводы: наибольшее сужение канала наблюдается у стока (рис.18 справа), что обусловлено градиентом потенциала поля между истоком и стоком , где U(x) — локальное значение потенциала в проводящем канале ПТШ на расстоянии x от стокового конца затвора (рис.17).
Начальный участок ВАХ при Ug = 1V можно объяснить тем, что влияние потенциала затвора больше, чем стока, поэтому большинство электронов идут не в сток, а в затвор, поэтому наблюдается ток меньше нуля.
-
Построить выходные ВАХ HEMT
Рисунок 19 - Выходные ВАХ HEMT
При -2..-3В выходная характеристика не была построена полностью при данном коде:
Solve { #-initial solution:
Poisson
Coupled { Poisson Electron }
Quasistationary ( MaxStep=0.02
Goal{ Name=”gate” Voltage=Vg } )
{ Coupled { Poisson Electron } }
Quasistationary ( MaxStep=0.02 MinStep=1e-8
Goal{ Name=”drain” Voltage=Vd } )
{ Coupled { Poisson Electron } } }
Когда был убран параметр, отвечавший за скорость насыщения “HighFieldSaturation”, ВАХ была построена (рис.19).
Рисунок 20 – Энергетическая диаграмма HEMT
Рисунок 21 – Передаточные характеристики HEMT и ПТШ
- значение порогового напряжения HEMT, определенное Synopsys
- значение порогового напряжения ПТШ, определенное Synopsys
Выводы: Пороговое напряжение HEMT меньше, крутизна больше на напряжениях от порогового до -0.6В (рис.21), далее, вероятно, электронам хватает энергии покинуть потенциальную яму и они попадают в область AlGaAs, где их подвижность меньше. Вообще, полностью доверять полученным результатам нельзя – нужной самому анализировать полученный результат и, по возможности, сравнивать его с результатами работы реальных устройств.
Наибольшая концентрация электронов как раз приходится на область потенциальной ямы (рис.20).