
- •Теория и расчет полупроводниковых приборов и интегральных схем Раздел: Полевые транзисторы
- •Часть II
- •Аннотация
- •I. Цель работы
- •II. Введение
- •Входная емкость определяется как емкость затвор-исток
- •III. Описание измерительной установки
- •IV. Задание
- •V. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности.
- •VI. Литература
- •VII. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8
- •I. Цель работы
- •II. Введение
- •Таким образом, с помощью анализа реальных вольт-фарадных характеристик мдп-структур и сравнения их с идеальными можно определить:
- •III. Методика измерения и измерительная установка
- •IV. Задание
- •V. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •VI. Обработка результатов эксперимента
- •VII. Содержание отчета
- •Основные параметры мдп-структуры
- •Экспериментальные значения емкости мдп-структуры
- •VIII. Контрольные вопросы
- •II. Введение
- •III. Методика измерения и измерительная установка
- •IV. Задание
- •V. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •VI. Обработка результатов эксперимента
- •VII. Содержание отчета
- •VII. Контрольные вопросы
- •I. Цель работы
- •II. Введение Физические ограничения предельной частоты полевого транзистора
- •III. Методика измерения и измерительная установка
- •IV. Задание
- •V. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •VI. Обработка результатов эксперимента
- •VII. Содержание отчета
- •VIII. Контрольные вопросы
- •Литература
- •Основные параметры мдп-транзисторов Приложение 1
- •Содержание
- •Часть II
I. Цель работы
Изучение статических вольт-амперных характеристик и определение основных параметров полевых транзисторов с затвором в виде p-n перехода и барьера Шоттки.
II. Введение
Полевой транзистор с p-n переходом в качестве затвора выполняет функцию резистора, управляемого напряжением. Проводимость канала полевого транзистора с p-n переходом в качестве затвора определяется основными носителями, поэтому его также называют «униполярным» транзистором. Принцип действия полевого транзистора типа металл – полупроводник (МП-транзистор) идентичен принципу работы полевого транзистора с p-n переходом в качестве затвора. Разница состоит лишь в том, что в МП-транзисторе в качестве затвора использован выпрямляющий контакт металл-полупроводник (барьер Шоттки).
На рис.1 представлены схемы неуправляемого резистора (рис.1, а), полевого транзистора с p-n переходом (рис. 1,б) и МП-транзистора (рис.1,в).
Особенностью работы полевых транзисторов с p-n переходом и МП-транзисторов является то, что управление выходным током осуществляется за счет изменения геометрических размеров канала, а, следовательно, его полной проводимости.
Полевые транзисторы обладают достоинствами при их использовании в аналоговых переключателях, усилителях с высокоомным входом, СВЧ-усилителях и интегральных схемах. Они имеет более высокое входное сопротивление, чем биполярные транзисторы. Так как полевые транзисторы являются униполярными приборами, они не чувствительны к эффектам накопления неосновных носителей, и поэтому имеют более высокие граничные частоты и скорости переключения.
Полевой транзистор с p-n переходом в качестве затвора представляет собой проводящий канал с двумя омическими контактами – стоком и истоком. Третий электрод структуры – затвор – образует выпрямляющий с каналом p-n переход. Сопротивление канала будет изменяться с изменением толщины области пространственного заряда (ОПЗ), распространяющейся в канал. Рассмотрим основные режимы работы ПТ на модели проводящего n-канала, ограниченного двумя р+областями.
а) Напряжения прикладываемые к электродам:UС-напряжение поданное на электрод сток; UЗ-напряжение поданное на затвор; UИ-напряжение на истоке. На рис.2а указаны основные размеры, характеризующие рассматриваемую структуру: длина канала L; его толщина a, а также локальная ширина обедненного слоя h и соответствующая локальная толщина проводящего канала b при условии, что UС=UЗ=UИ=0. В отсутствии напряжений смещения прибор находится в термодинамическом равновесии, и все токи равны нулю. Ширина ОПЗ в этом случае определяется только контактной разностью потенциалов и уровнем легирования областей n и р+: WОПЗ1=f(k).
б) UС = UИ = 0, UЗ<0 (рис.2 б). Полярность приложенных напряжений соответствует n-канальному полевому транзистору (для p-канального прибора полярность напряжений питания должна быть противоположной). В этом случае р+n переход оказывается обратно смещенным и WОПЗ2= f(k+UЗ) > WОПЗ1 и, следовательно, толщина канала уменьшилась.
в) UИ = 0, UС>0, UЗ<0 (рис.2 в). При таком режиме работы транзистора ширина ОПЗ (и следовательно толщина канала) со стороны стока и истока будет разной, поскольку: со стороны истока р+n переход будет находится под потенциалом k+UЗ и WОПЗ= f(k+UЗ), а со стороны стока добавляется потенциал стока (обратное смещение р+n переход) на и WОПЗ= f(k+UЗ+UС). При фиксированном напряжении на затворе (нулевом или отрицательном) и дальнейшем увеличении напряжения на стоке возникает момент, когда область пространственного заряда занимает весь канал (рис.2 г). Напряжение на стоке в этом случае называется напряжением стока насыщения UCнас, а протекающий в канале ток – током стока насыщения IСТ НАС.
Напряжение отсечки при котором канал перекрывается областью пространственного заряда равно: Uотс=k+UЗ+UСнас. При дальнейшем увеличении напряжения на стоке ток стока изменяется слабо и остается примерно равным току насыщения до тех пор, пока не начнется лавинный пробой p+n-диода затвор-канал, после чего ток стока резко возрастает при увеличении напряжения.
Типичные вольт-амперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом представлены на рис. 3. На этих характеристиках следует различать четыре области: линейную (при малых напряжениях на стоке), где ток стока пропорционален напряжению на стоке; переходную область, более слабого роста тока из-за полевой зависимости подвижности; область насыщения, где ток стока IC не зависит от напряжения стока; область пробоя, где ток стока стремительно растет при сравнительно небольших приращениях напряжения на стоке.
Проведем анализ вольт-амперных характеристик длинноканального (L>>a) полевого транзистора с p-n переходом, воспользовавшись следующими предположениями:
приближением плавного канала;
независимостью подвижности носителей заряда от электрического поля.
Учитывая симметрию модели ПТ-транзистора с р+-n переходом, рассмотрим только верхнюю половину полевого транзистора (рис. 4).
Приближение плавного канала состоит в том, что для распределения потенциала в обедненном слое можно записать одномерное уравнение Пуассона, решив которое можно найти потенциал в любой плоскости области пространственного заряда:
(1)
где Ey – поперечное электрическое поле;
(y) – распределение плотности зарядов, зависит от распределения легирующей примеси, (y)=qf(ND). Например, для равномерно легированного донорами с концентрацией ND канала (y)=qND.
Интегрируя выражение (1) получим выражение для поля Еy:
Константа определяется из условия резких границ: поле существует только в области пространственного заряда, вне его поле равно нулю: y=h, Eh=0:
,
т.е.
Обозначив
получим, после второго интегрирования
выражение для потенциала в любой
плоскости y-U(y):
и при y=h, то есть на границе области пространственного заряда:
Если ширина области пространственного заряда занимает всю толщину канала, y=a, то напряжение при котором реализуется этот случай называется напряжением отсечки:
(2)
Для вывода и анализа ВАХ воспользуемся дифференциальным законом Ома: jст=(y)Ex, где jст - плотность тока, протекающего через канал, который называется током стока, (y)=qn(y)n – удельная электропроводность канала, зависящая от распределения электронов по толщине канала.
Интеграл плотности тока по всей толщине проводящего канала от y=h до y=a определяет полный ток стока
(3)
где z – ширина канала.
После некоторых преобразований, выражение для плотности тока запишется в виде:
,
(4)
где
,
для однородно легированного канала
(5)
При фиксированном напряжении на затворе - UЗ максимальное значение тока (ток насыщение IС.НАС) равно:
Рассмотрим физическую модель возникновения тока насыщения. С увеличением напряжения стока до UС.НАС электрическое поле в канале со стороны стока достигает критического значения ЕКРИТ, скорость электронов – скорости насыщения, а ток транзистора начинает насыщаться. При дальнейшем увеличении напряжения стока (UC>UС.НАС) область пространственного заряда расширяется к стоку, а место, где электроны впервые достигают скорости насыщения, смещается в противоположном направлении, т.е. к истоку. По мере продвижения от истока к стоку потенциал в канале растет, ширина ОПЗ увеличивается, а проводящий канал сужается. Но поскольку скорость электронов в этой области уже не зависит от электрического поля и равна скорости насыщения, для компенсации этого сужения канала и обеспечения сохранения полного тока концентрация электронов здесь увеличивается и становится больше концентрации доноров. Таким образом, часть канала, где скорость электронов равна скорости насыщения, оказывается отрицательно заряженной, а примыкающая к ней со стороны стока область из-за нехватки электронов – положительно. Следовательно, часть напряжения стока, избыточная над UС.НАС, падает на дипольном слое, который расширяется в стоковой части канала при дальнейшем росте напряжения на стоке.
Крутизна характеристики полевого транзистора определяется как изменение тока стока при изменении напряжения на затворе. В данном случае от напряжения на затворе (при постоянном напряжении на стоке) зависят положения границ области пространственного заряда h1 и h2. Поэтому
Рассчитывая частные производные, получаем общее выражение для крутизны полевого транзистора
Проводимость канала определяется, как изменение тока стока при изменении напряжения на стоке при постоянном напряжении на затворе
В линейной области вольт-амперной характеристики (UC0) проводимость канала определяется выражением:
(6)
В области насыщения крутизна стокозатворной характеристики равна:
(7)
Отметим полную идентичность выражений (6) и (7).
На рис.5 изображены вольтамперные характеристики реального n-канального полевого транзистора КП313. Как видно из этих характеристик при увеличении отрицательного напряжения на затворе напряжение, соответствующее началу насыщения UС.нас, уменьшается. Это обусловлено тем, что напряжение отсечки, равное Uотс=k+UЗ+UС.нас не должно меняться.
Переходные стокозатворные характеристики, рис. 6, выражают зависимость тока стока от напряжения на затворе при постоянном напряжении на стоке IСТ=f(UЗ)Uст=const. Из этой зависимости определяется крутизна статической стокозатворной характеристики S:
,
которая
показывает способность упрвления током
стока напряжением на затворе и для
данных транзисторов имеет величину
порядка нескольких единиц или десятков
мА/В.
Приблизительно определить крутизну
стокозатворной характеристики можно
по тангенсу угла наклона переходной
вольт-амперной характеристики:
Частотные характеристики полевых транзисторов определяются двумя основными факторами: временем пролета и временем перезарядки емкости затвора RC.
Граничной частотой полевого транзистора называется частота, при которой ток через входную емкость равен току эквивалентного генератора тока стока
2Свх.fГР = SUЗ; fГР = S/2Свх