
- •1) Электронная конфигурация внешних оболочек атомов и типы сил связи в твердых телах.
- •2) Структуры важнейших полупроводников - элементов aiv, avi и соединений типов аiiiвv,
- •3) Симметрия кристаллов.
- •4)Трансляционная симметрия кристаллов.
- •5) Базис и кристаллическая структура.
- •6) Элементарная ячейка.
- •7) Примитивная ячейка.
- •8) Ячейка Вигнера—Зейтца. Решетка Браве.
- •Решетки Бравэ
- •9) Обозначения узлов, направлений и плоскостей в кристалле.
- •10) Обратная решетка, ее свойства.
- •11) Зона Бриллюэна.
- •Характерные точки зоны Бриллюэна
- •Интересные особенности
- •12) Примеси и структурные дефекты в кристаллических и аморфных полупроводниках.
- •13) Химическая природа и электронные свойства примесей.
- •14) Точечные, линейные и двумерные дефекты.
- •Источники и стоки точечных дефектов
- •Комплексы точечных дефектов
- •Одномерные дефекты
- •Двумерные дефекты
- •Трёхмерные дефекты
- •21) Основные приближения зонной теории.
- •22) Волновая функция электрона в периодическом поле кристалла.
- •23) Зона Бриллюэна.
- •24) Энергетические зоны.
- •25) Эффективная масса.
- •Эффективная масса для некоторых полупроводников
- •26) Плотность состояний.
- •Определение
- •27) Уравнения движения электронов и дырок во внешних полях.
- •28) Искривление энергетических зон в электрическом поле.
- •29) Связь зонной структуры с оптическими свойствами полупроводника.
- •30) Уровни энергии, создаваемые примесными центрами в полупроводниках.
- •31) Доноры и акцепторы.
- •32) Мелкие и глубокие уровни.
- •33) Водородоподобные примесные центры.
- •42) Проводимость, постоянная Холла и термо-эдс. По характеру проводимости. Собственная проводимость
- •Примесная проводимость
- •43) Дрейфовая скорость, дрейфовая и холловская подвижности, фактор Холла.
- •44) Дрейфовый и диффузионный ток.
- •45) Соотношение Эйнштейна.
- •46) Механизмы рассеяния носителей заряда в неидеальной решетке.
- •47) Взаимодействие носителей заряда с акустическими и оптическими фононами.
- •48) Рассеяние носителей заряда на заряженных и нейтральных примесях.
- •49) Генерация и рекомбинация неравновесных носителей заряда.
- •50)Уравнение кинетики рекомбинации.
- •51) Времена жизни.
- •52) Фотопроводимость.
- •53) Механизмы рекомбинации.
- •54) Излучательная и безызлучательная рекомбинация.
- •55) Межзонная рекомбинация.
- •56) Рекомбинация через уровни примесей и дефектов.
- •57) Центры прилипания.
- •59) Схема энергетических зон в контакте металл-полупроводник.
- •60) Обогащенные, обедненные и инверсионные слои пространственного заряда вблизи контакта.
- •61) Вольт-амперная характеристика барьера Шоттки.
- •62) Энергетическая диаграмма р-п перехода.
- •63) Инжекция неосновных носителей заряда в р-п переходе.
- •64) Гетеропереходы.
- •65) Энергетические диаграммы гетеропереходов.
55) Межзонная рекомбинация.
Непосредственная рекомбинация - это одноступенчатый процесс, происходящий при прямом захвате электрона зоны проводимости дыркой из валентной зоны.
Реализацией механизма непосредственной рекомбинации является межзонная рекомбинация. Межзонная рекомбинация происходит при переходе свободного электрона из зоны проводимости в валентную зону на один из свободных энергетических уровней (рис. 2.6, а). В результате наблюдается исчезновение пары носителей заряда - свободного электрона и дырки.
В зависимости от материала полупроводника в процессе межзонной рекомбинации выделяется энергия в виде квантов света (фотонов) или тепловых квантов (фононов), как это условно показано на рис. 2.6, а. В первом случае рекомбинацию называют излучательной, во втором - безизлучательной.
Излучательная
рекомбинация наблюдается при прямых
(вертикальных) межзонных переходах,
происходящих с излучением фотона
без изменения волнового числа
электрона k=Р/ћ, как изображено на
рис. 2.6, б. Если обозначить значение
волнового числа электрона в зоне
проводимости через kc, а в
валентной зоне через kv, то
разность этих значений при прямых
переходах удовлетворяет
соотношению kc-kv
0.
Приближенное равенство нулю
означает, что излучаемый
фотон обладает
конечным, хотя и малым, значением
волнового числа kф=2p/lф.
Энергия, выделяемая в виде кванта света, равна разности уровней энергий дна зоны проводимости Wс и потолка валентной зоны Wv, т. е. ширине запрещенной зоны DWg полупроводника:
Wс-Wv=DWg=hn, эВ, (2.42)
где n - частота волны излучаемого кванта света, Гц.
56) Рекомбинация через уровни примесей и дефектов.
Наиболее важным механизмом рекомбинации при невысоких концентрациях носителей является рекомбинация через промежуточные состояния в запрещенной зоне, локализованные около примесей или дефектов.
Сначала один из носителей захватывается примесью (изменяя её заряд на 1), а затем та же примесь захватывает носитель с зарядом противоположного знака. В результате оба захваченных носителя исчезают, а примесный центр возвращается в первоначальное состояние. Если концентрация неравновесных носителей мала по сравнению с равновесной концентрацией основных носителей, время жизни определяется быстротой захвата неосновных носителей (дырок в П. n-типа, электронов в П. р-типа), поскольку их значительно меньше, чем основных, и время попадания одного из них на примесный центр является наиболее длительной частью процесса рекомбинации. Роль центров рекомбинации могут играть многие примеси (например, Cu в Ge) и дефекты, имеющие уровни, расположенные глубоко в запрещенной зоне и эффективно захватывающие в одном зарядовом состоянии электроны из зоны проводимости, а в другом — дырки из валентной зоны. Далеко не все примеси и дефекты обладают этим свойством. Некоторые могут эффективно захватывать лишь один носитель и при не слишком низкой температуре раньше выбрасывают его обратно в зону, из которой он был захвачен, чем захватывают носитель противоположного заряда. Это т. н. центры прилипания, или ловушки. Они могут существенно удлинять время жизни неравновесных носителей, т.к. если, например, все неравновесные неосновные носители захвачены ловушками, то избыточным основным носителям не с чем рекомбинировать и др. примеси — центры рекомбинации оказываются неэффективными.
Будем рассматривать сначала простые центры рекомбинации, которые могут захватывать или, соответственно, отдавать один-единственный электрон, а следовательно, находиться только в двух различных зарядных состояниях. Отвлекаясь от возбужденных состояний, такой центр можно охарактеризовать единственным локальным уровнем энергии для электронов Et в запрещенной -зоне (рис. 9.6). Если Nt есть полная концентрация ловушек (и. равная ей концентрация локальных уровней), то в состоянии равновесия концентрация заполненных ловушек есть N,f0, а концентрация пустых равна Nt (1 — /0), где /0 — функция Ферми. При нарушении равновесия концентрации заполненных и пустых ловушек изменяются и становятся Ntf и Nt (1-f). Неравновесная вероятность заполнения ловушки / уже не выражается функцией Ферми и должна быть определена дополнительно (см. ниже).
В такой модели результирующая кинетика изменения концентрации электронов и дырок определяется четырьмя процессами: захватом электронов на ловушки (рис. 9.6, переходы 1), тепловой эмиссией электронов с ловушек в зону проводимости (переходы 2), захватом дырок на ловушки (переходы 3) и эмиссией дырок с ловушек в валентную зону (переходы 4). Найдем темпы каждого из этих переходов.