
- •1) Электронная конфигурация внешних оболочек атомов и типы сил связи в твердых телах.
- •2) Структуры важнейших полупроводников - элементов aiv, avi и соединений типов аiiiвv,
- •3) Симметрия кристаллов.
- •4)Трансляционная симметрия кристаллов.
- •5) Базис и кристаллическая структура.
- •6) Элементарная ячейка.
- •7) Примитивная ячейка.
- •8) Ячейка Вигнера—Зейтца. Решетка Браве.
- •Решетки Бравэ
- •9) Обозначения узлов, направлений и плоскостей в кристалле.
- •10) Обратная решетка, ее свойства.
- •11) Зона Бриллюэна.
- •Характерные точки зоны Бриллюэна
- •Интересные особенности
- •12) Примеси и структурные дефекты в кристаллических и аморфных полупроводниках.
- •13) Химическая природа и электронные свойства примесей.
- •14) Точечные, линейные и двумерные дефекты.
- •Источники и стоки точечных дефектов
- •Комплексы точечных дефектов
- •Одномерные дефекты
- •Двумерные дефекты
- •Трёхмерные дефекты
- •21) Основные приближения зонной теории.
- •22) Волновая функция электрона в периодическом поле кристалла.
- •23) Зона Бриллюэна.
- •24) Энергетические зоны.
- •25) Эффективная масса.
- •Эффективная масса для некоторых полупроводников
- •26) Плотность состояний.
- •Определение
- •27) Уравнения движения электронов и дырок во внешних полях.
- •28) Искривление энергетических зон в электрическом поле.
- •29) Связь зонной структуры с оптическими свойствами полупроводника.
- •30) Уровни энергии, создаваемые примесными центрами в полупроводниках.
- •31) Доноры и акцепторы.
- •32) Мелкие и глубокие уровни.
- •33) Водородоподобные примесные центры.
- •42) Проводимость, постоянная Холла и термо-эдс. По характеру проводимости. Собственная проводимость
- •Примесная проводимость
- •43) Дрейфовая скорость, дрейфовая и холловская подвижности, фактор Холла.
- •44) Дрейфовый и диффузионный ток.
- •45) Соотношение Эйнштейна.
- •46) Механизмы рассеяния носителей заряда в неидеальной решетке.
- •47) Взаимодействие носителей заряда с акустическими и оптическими фононами.
- •48) Рассеяние носителей заряда на заряженных и нейтральных примесях.
- •49) Генерация и рекомбинация неравновесных носителей заряда.
- •50)Уравнение кинетики рекомбинации.
- •51) Времена жизни.
- •52) Фотопроводимость.
- •53) Механизмы рекомбинации.
- •54) Излучательная и безызлучательная рекомбинация.
- •55) Межзонная рекомбинация.
- •56) Рекомбинация через уровни примесей и дефектов.
- •57) Центры прилипания.
- •59) Схема энергетических зон в контакте металл-полупроводник.
- •60) Обогащенные, обедненные и инверсионные слои пространственного заряда вблизи контакта.
- •61) Вольт-амперная характеристика барьера Шоттки.
- •62) Энергетическая диаграмма р-п перехода.
- •63) Инжекция неосновных носителей заряда в р-п переходе.
- •64) Гетеропереходы.
- •65) Энергетические диаграммы гетеропереходов.
53) Механизмы рекомбинации.
Процессы рекомбинации удобно разделить на два класса: 1) прямую рекомбинацию зона — зона и 2) рекомбинацию с участием примесей и дефектов. В первом случае свободный электрон из зоны проводимости рекомбинирует со свободной дыркой в валентной зоне в одном элементарном акте. В процессах второго класса свободные электроны рекомбинируют со связанными дырками на примесях или дефектах, а свободные дырки — со связанными электронами. Мы остановимся сначала на прямой рекомбинации зона —зона.
При переходе электрона из зоны проводимости в валентную зону всегда должны выполняться законы сохранения энергии и квазиимпульса. Поэтому если Е' и к' — энергия и квазиволновой вектор электрона в начальном состоянии в зоне проводимости, а Е и к — их значения в конечном состоянии в валентной зоне, то должны выполняться соотношения
E'(k') = E(k) + ΔE, (1.1)
ћk' = ћк + Δр. (1.2)
Здесь ΔE и Δр—энергия, освобождаемая в элементарном акте рекомбинации и, соответственно, изменение квазиимпульса электрона при переходе. Поскольку квазиимпульсы в начальном и конечном состояниях системы должны лежать в пределах первой зоны Бриллюэна, правая часть уравнения (1.2) может содержать еще слагаемое ћb, которое мы не выписываем. Прямая рекомбинация электрона и дырки возможна только в тех случаях, когда от электрона может быть отведена освобождающаяся энергия ΔE и обеспечено изменение квазиимпульса Δр, определяемые законами сохранения (1.1) и (1.2).
Процессы, обеспечивающие выполнение законов сохранения, могут быть различны. Это может быть испускание кванта электромагнитного излучения — фотона определенной частоты со, тогда:
ΔE = ћω, |Δр| = ћω/c. (1.3)
В этом случае мы говорим об излучательной рекомбинации. Избыточные энергия и квазиимпульс могут быть переданы колебаниям решетки, или фононам. Известны и процессы, при которых энергия и квазиимпульс, освобождаемые при рекомбинации, передаются третьей свободной частице — электрону (в электронных полупроводниках) или дырке (в дырочных полупроводниках). Процессы такого типа получили название ударной рекомбинации (или Оже-рекомбинации). Очевидно, что вероятность таких процессов возрастает при увеличении концентрации носителей заряда, и поэтому ударная рекомбинация проявляется обычно в сильно легированных полупроводниках. Принципиально возможны и другие типы элементарных актов рекомбинации. В случаях, когда фотоны не участвуют в обмене энергией и квазиимпульсом, говорят о безызлучательной рекомбинации.
54) Излучательная и безызлучательная рекомбинация.
РЕКОМБИНАЦИЯ
носителей заряда
в полупроводниках - исчезновение пары
свободных противоположно заряженных
носителей в результате перехода электрона
из энергетич. состояния в зоне проводимости
в незанятое энергетич. состояние в
валентной зоне. При Р. выделяется
избыточная энергия порядка ширины
запрещённой зоны
.
Различают излучательную и безызлучательную
Р. Первая сопровождается излучением
светового кванта с энергией
.
При безызлучательной Р. избыточная
энергия может непосредственно передаваться
решётке путём возбуждения её колебаний
(фононная
безызлучательная Р.) пли рекомбинирующий
электрон посредством кулоновского
взаимодействия может передать энергию
др. электрону зоны, переводя его в
высокоэнергетич. состояние
(оже-рекомбинация).
При
безызлучательной фононной Р. электрону
для выделения энергии ~
требуется
возбудить в одном акте неск. десятков
фононов, т. к. обычно в полупроводниках
~
1-2 эВ, а макс. энергия фонона составляет
сотые эВ. Такие многофононные перехо-ды
имеют ничтожно малую вероятность. Любая
возможность передать избыточную энергию
решётке не в одном акте, а в неск.
последовательных актах на много порядков
увеличивает вероятность Р. Эта возможность
реализуется на примесных центрах или
дефектах кристаллич. структуры, к-рые
образуют уровни в запрещённой энергетич.
зоне.
Излучательная
и оже-Р. также могут протекать с участием
примесных центров. Однако обычно эти
процессы осуществляются непосредственно
как прямые переходы зона проводимости
- валентная зона. При пзлучательной Р.
зона - зона законы сохранения энергии
и импульса приводят к тому, что энергия
светового кванта, т. к. кинетич. энергии
электрона и дырки много
меньше
.
В то же время импульс кванта очень мал,
так что электрон и дырка аннигилируют
с противоположными импульсами b k (рис.
1).
Рис. 1. Излучательная рекомбинация зона - зона в прямо-зонном полупроводнике.
Вследствие этого в непрямозонных полупроводниках (Ge, Si) в обычных условиях Излучательная Р. идёт только с участием примесей или колебаний решётки и имеет меньшую, чем в прямозонных полупроводниках (GaAs, InSb), вероятность.
Число актов излучательной Р. в 1 с в единице объёма равно
где
n, p - концентрации электронов и
дырок, a наз. коэф. излучательной Р.
Сечение излучательной Р. s связано с a
соотношением
,
где
-
ср. тепловая скорость электрона. В
прямозонных полупроводниках при Т =
300 К s = 10-16 : 10-18 см2, в
непрямозонных - 10-21 : 10-22 см2.