
- •1) Электронная конфигурация внешних оболочек атомов и типы сил связи в твердых телах.
- •2) Структуры важнейших полупроводников - элементов aiv, avi и соединений типов аiiiвv,
- •3) Симметрия кристаллов.
- •4)Трансляционная симметрия кристаллов.
- •5) Базис и кристаллическая структура.
- •6) Элементарная ячейка.
- •7) Примитивная ячейка.
- •8) Ячейка Вигнера—Зейтца. Решетка Браве.
- •Решетки Бравэ
- •9) Обозначения узлов, направлений и плоскостей в кристалле.
- •10) Обратная решетка, ее свойства.
- •11) Зона Бриллюэна.
- •Характерные точки зоны Бриллюэна
- •Интересные особенности
- •12) Примеси и структурные дефекты в кристаллических и аморфных полупроводниках.
- •13) Химическая природа и электронные свойства примесей.
- •14) Точечные, линейные и двумерные дефекты.
- •Источники и стоки точечных дефектов
- •Комплексы точечных дефектов
- •Одномерные дефекты
- •Двумерные дефекты
- •Трёхмерные дефекты
- •21) Основные приближения зонной теории.
- •22) Волновая функция электрона в периодическом поле кристалла.
- •23) Зона Бриллюэна.
- •24) Энергетические зоны.
- •25) Эффективная масса.
- •Эффективная масса для некоторых полупроводников
- •26) Плотность состояний.
- •Определение
- •27) Уравнения движения электронов и дырок во внешних полях.
- •28) Искривление энергетических зон в электрическом поле.
- •29) Связь зонной структуры с оптическими свойствами полупроводника.
- •30) Уровни энергии, создаваемые примесными центрами в полупроводниках.
- •31) Доноры и акцепторы.
- •32) Мелкие и глубокие уровни.
- •33) Водородоподобные примесные центры.
- •42) Проводимость, постоянная Холла и термо-эдс. По характеру проводимости. Собственная проводимость
- •Примесная проводимость
- •43) Дрейфовая скорость, дрейфовая и холловская подвижности, фактор Холла.
- •44) Дрейфовый и диффузионный ток.
- •45) Соотношение Эйнштейна.
- •46) Механизмы рассеяния носителей заряда в неидеальной решетке.
- •47) Взаимодействие носителей заряда с акустическими и оптическими фононами.
- •48) Рассеяние носителей заряда на заряженных и нейтральных примесях.
- •49) Генерация и рекомбинация неравновесных носителей заряда.
- •50)Уравнение кинетики рекомбинации.
- •51) Времена жизни.
- •52) Фотопроводимость.
- •53) Механизмы рекомбинации.
- •54) Излучательная и безызлучательная рекомбинация.
- •55) Межзонная рекомбинация.
- •56) Рекомбинация через уровни примесей и дефектов.
- •57) Центры прилипания.
- •59) Схема энергетических зон в контакте металл-полупроводник.
- •60) Обогащенные, обедненные и инверсионные слои пространственного заряда вблизи контакта.
- •61) Вольт-амперная характеристика барьера Шоттки.
- •62) Энергетическая диаграмма р-п перехода.
- •63) Инжекция неосновных носителей заряда в р-п переходе.
- •64) Гетеропереходы.
- •65) Энергетические диаграммы гетеропереходов.
45) Соотношение Эйнштейна.
В физике (главным образом в молекулярно кинетической теории) соотношением Эйнштейна (также называемое соотношением Эйнштейна — Смолуховского) называется выражение, связывающее подвижность молекулы (молекулярный параметр) с коэффициентом диффузии и температурой (макро параметры). Оно было независимо открыто Альбертом Эйнштейном в 1905 году и Марианом Смолуховским (1906) в ходе работ по изучению броуновского движения:
где
—
коэффициент диффузии,
—
подвижность частиц,
—
постоянная
Больцмана,
а
— абсолютная температура.
Величина подвижности определяется из соотношения
где
—
стационарная скорость перемещения
частицы в вязкой среде под действием
силы
.
46) Механизмы рассеяния носителей заряда в неидеальной решетке.
РАССЕЯНИЕ
НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА в кристаллич. твёрдых
телах - процесс взаимодействия электрона
проводимости (дырки) с нарушениями
идеальной периодичности кристалла,
сопровождающийся переходом электрона
из состояния с импульсом p в
состояние с импульсом
.
Рассеяние наз. упругим, если энергии
электрона в начальном и конечном
состояниях равны,
или
неупругим, если
.
Источником упругого рассеяния являются
статич. дефекты - примесные атомы,
дислокации, границы кристаллич. зёрен
и т. п. (см. Дефекты в кристаллах).
Осн. источником неупругого рассеяния
являются колебания
кристаллической решётки.
Рассеяние электрона на колебаниях
решётки описывается в терминах испускания
и поглощения фононов движущимся
электроном. Особое положение занимает
Р. н. з. друг на друге.
При большой плотности носителей рассеяние ослабляется экранированием возмущения из-за перераспределения носителей в пространстве.
Возможно несколько механизмов рассеяния:
на фононах;
на примесях.
47) Взаимодействие носителей заряда с акустическими и оптическими фононами.
Рассеяние
на фононах. Вероятность рассеяния
электрона при испускании или поглощении
фонона о импульсом q и энергией
(без
учёта принципа Паули) определяется
выражением
Здесь верх. и ниж. знаки соответствуют испусканию и поглощению фонона; числа фононов с импульсом q определяются распределением Планка (см. Планка закон излучения:)
Матричный
элемент М перехода p → p'
содержит закон сохранения квазиимпульса:
(b
- произвольный вектор обратной
решётки). Переходы, для
к-рых b = 0, наз. нормальными; если
b.0, говорят о переходах с
перебросом (см. Переброса
процессы). Дельта-функция
d отражает закон сохранения энергии.
Вероятность рассеяния с испусканием
фонона
пропорц. Nq + 1. Два
слагаемых, соответствующие Nq
и 1, дают вероятности индуцированного
и спонтанного рассеяний. Вероятность
рассеяния с поглощением фонона
пропорц.
Nq, поэтому поглощение
фонона всегда является индуцированным.
Рассеяние
электрона на фононах в большой степени
определяется законами сохранения
энергии и импульса (кинематич. факторы),
а также принципом Паули. Поэтому картина
рассеяния различна для акустич. и оптич.
фононов, имеющих разные законы дисперсии
,
и зависит от степени вырождения
электронного газа. Кинематика
позволяет установить, какие фононы дают
осн. вклад в рассеяние, какова степень
упругости рассеяния, а также является
ли оно индуцированным или спонтанным.
Рассеяние
на акустических фононах в полупроводниках.
Т. к. скорость электрона v имеет
порядок скорости
звука s только при очень
малой его энергии (
!
ms2 ! 0,1 К), то в реальных условиях
Это означает, что возмущение, создаваемое
акустич. фононом, почти статично, а
рассеяние электронов всегда квазиупруго.
Из кинематики следует, что осн. вклад в
рассеяние вносят фононы с импульсом
;
поэтому
направленный
импульс электрона теряется всего за
неск. столкновений. Энергия фонона с
таким импульсом
!
,
так что для релаксации энергии требуется
много столкновений, т. е. действительно
Является
ли рассеяние индуцированным или
спонтанным, зависит от соотношения
между энергией фонона hsp и тепловой
энергией Т. Эти величины сравниваются,
когда энергия электрона равна
Если
то характерны Nq
1;
доминирует спонтанное испускание
фононов (динамич. трение), и "движение"
электрона по оси энергии
есть систематич. дрейф вниз. При
доминируют
индуциров. переходы, т. к.
При
этом испускание происходит не намного
чаще, чем поглощение, и "движение"
электрона по оси энергий превращается
в диффузию.
Рассеяние
на акустических фононах в металлах и
вырожденных полупроводниках. Вследствие
закона сохранения импульса наиб. вероятно
взаимодействие с фононами, импульс
к-рых
,
где
-
импульс Ферми (см. Ферми-поверхность
).Но испусканию таких фононов (с энергией
)
может препятствовать принцип Паули,
если превышение энергии электрона
над
энергией Ферми
много
меньше
,
а поглощение может ослабляться из-за
малого числа таких фононов, если
.
Поэтому характер рассеяния сильно
зависит от Г и превышения энергии
электрона над энергией Ферми. При
почти для всех электронов
(указанные
ограничения несущественны) и рассеяние
(с испусканием и поглощением) идёт на
фононах с
и
энергией
.
Для релаксации импульса требуется неск.
столкновений, а для релаксации энергии
- много (квазиупругое рассеяние). При
поглощение
фононов с энергией
маловероятно,
но если
,
то принцип Паули не запрещает испускание
таких фононов (в осн. спонтанное).
Рассеяние, как и при высоких темп-pax,
квазиупруго. Если же
,
то принцип Паули разрешает только
испускание фононов с
.
Такое рассеяние является малоугловым,
и выравнивание распределения электронов
на поверхности Ферми происходит
диффузионно. Для полной релаксации
импульса требуется много столкновений,
релаксация же энергии происходит за
неск. столкновений (неупругое рассеяние).
Рассеяние
на оптических фононах. При рассеянии
в металлах существенны оптич. фононы
во всей зоне Бриллюэна, в осн. коротковолновые
с
,
где b0 - размер Бриллюэна
зоны. В полупроводниках в
рассеянии участвуют только оптич.
ДВ-фононы с
.
Частоту этих фононов w0 можно
считать не зависящей от q. Рассеяние
на оптич. фононах квазиупруго только
при
!
400 К, т. е. только при очень высоких
энергиях электронов (см. Горячие
электроны ).В области
энергий
проявляются
неупругий и пороговый характеры
рассеяния. Это существенно при низких
темп-pax
,
когда ниже порога (
)
рассеяние слабое и возможно только за
счёт маловероятного поглощения фонона,
пропорционального
,
а выше порога (
)
рассеяние сильное - оно происходит при
спонтанном испускании фонона.