
- •1. Определение электронных приборов. Классификация электронных приборов по характеру рабочей среды, мощности, частотному диапазону.
- •2. Свойства полупроводников. Основные материалы полупроводниковой электроники, и их основные электрофизические параметры.
- •3. Элементы зонной теории полупроводников. Генерация и рекомбинация носителей.
- •4. Собственные и примесные полупроводники. Концентрация носителей в примесных полупроводниках.
- •5. Дрейфовое движение, подвижность носителей и ее зависимость от температуры и концентрации примесей.
- •6.Дрейфовый и диффузионный токи.
- •7. Зависимость плотности дрейфового тока и ее зависимость от температуры и концентрации примесей.
- •8. Тип электронно-дырочных переходов и контактов.
- •9. Образование p-n-перехода. Диффузионная длина электронов и дырок.
- •10. Процессы в p-n-переходе при отсутствии внешнего электрического поля. Контактная разность потенциалов.
- •11. Симметричный и несимметричный p-n-переходы.
- •12. Распределение электронов и дырок в p-n-переходе. Определение напряженности и толщины p-n-перехода при отсутствии внешнего напряжения.
- •13. Работа p-n-перехода при подаче внешнего прямого напряжения. Явление инжекции.
- •15. Уравнение вольт-амперной характеристики. Отличие реальной характеристики от теоретической.
- •16.Пробой p-n-перехода. Виды пробоя.
- •17. Емкости в p-n-переходе.
- •1 8. Устройство полупроводниковых диодов. Классификация диодов по частоте, мощности, по назначению.
- •19. Основные параметры диодов и определение их по статическим характеристикам. Схема замещения диода.
- •21.Принцип работы и схема включения стабилитрона. Основные параметры стабилитрона.
- •22. Варикапы. Принцип действия. Основные параметры варикапов. Схема замещения варикапа на нч, на вч.
- •23. Импульсные диоды. Основные параметры, характеризующие работу в импульсном режиме.
- •24. Принцип действия, характеристики и параметры тд. Расчет основных параметров тд.
- •25. Устройство биполярных транзисторов. Определение режимов работы транзистора.
- •26. Схемы включения транзисторов: сОб, оэ, ок. Связь между коэффициентами передачи тока в различных схемах включения.
- •27. Токи в транзисторе в активном режиме.
- •28. Статические характеристики бт в схеме с об.
- •29. Особенности работы схемы с оэ.
- •30. Системы параметров транзисторов. Y-параметры, формальная схема замещения.
- •38. Построение нагрузочных характеристик и кривой допустимой мощности. Выбор области безопасного режима.
- •39. Особенности работы транзисторов на вч.
- •40. Устройство и принцип действия полевых транзисторов. Классификация полевых транзисторов.
- •41. Расчет напряжения отсечки и напряжения насыщения в пт.
- •42. Схемы включения пт: ои, ос, оз.
- •43. Статические характеристики пт с управляющем p-n-переходом.
- •44. Статические параметры пт и расчет их по характеристикам.
- •45. Расчет коэффициента усиления и выходной мощности пт в рабочем режиме.
- •4 6. Эквивалентная схема пт.
- •48. Электронно-лучевые приборы. Устройство электронно-лучевых трубок. Системы фокусировки и отклонения.
- •49.Устройство и принцип действия электростатической системы и магнитной фокусировки.
- •50.Отклоняющие системы элт. Чувствительность трубок с электростатической и магнитной отклоняющими системами.
- •51. Экраны элт. Основные параметры экранов, типы экранов. Обозначения элт.
- •52. Типы элт: осциллографические, индикаторные, кинескопы и их особенности.
- •53. Газоразрядные индикаторы. Принцип работы газоразрядных индикаторных панелей (гип).
- •54. Жидкокристаллические индикаторы. Устройство жки.
- •55. Полупроводниковые индикаторы. Устройство и принцип действия.
- •56. Фотоэлектрические приборы. Типы фотоэлектрических приборов: основные характеристики и параметры. Области применения.
- •57. Оптоэлектронные приборы. Классификация и типы.
- •58. Оптроны, устройство и принцип действия. Типы оптронов.
- •59.Шумы полупроводниковых приборов. Сравнительная оценка шумовых свойств бт пт.
- •60. Устройство и принцип действия электровакуумных приборов. Типы электронных ламп и области их применения.
59.Шумы полупроводниковых приборов. Сравнительная оценка шумовых свойств бт пт.
Электрические шумы, сопровождающие процессы генерирования, усиления или преобразования полезных сигналов электронными приборами. Определяют мин. (пороговую) величину полезного сигнала, при к-рой он ещё может быть воспроизведён или усилен без искажений, приводят к уширен и ю спектральной линии генерируемых колебаний. В общем случае вклад в Ш. э. п. вносят как естеств. шумы (дробовые, фликкерные, тепловые), так и техн. шумы.
Вредное влияние естеств. Ш. э. п. на качество работы прибора может быть значительно ослаблено спец. техн. мерами, учитывающими физ. природу каждого из этих шумов. Так, для снижения уровня дробового шума в ЭВП используют такие режимы их работы, при к-рых ток катода меньше полного тока электронной эмиссии (режим пространств, заряда). При работе в таких режимах вблизи катода возникает минимум потенциала (виртуальный кагод), демпфирующий флуктуации тока катода (явление т. н. депрессии дробового шума пространств, зарядом). Указанный механизм успешно используется в диапазоне достаточно низких частот, для к-рого несущественно влияние эффектов, связанных с конечным временем пролёта эл-нов от катода к аноду (пролётных эффектов). В диапазоне СВЧ механизм подавления дробовых шумов значительно сложнее.
Приколичеств, оценке Ш. э. п. обычно отвлекаются от учёта каждого отд. источника шума, рассматривая нек-рые эквивалентные источники (генераторы шумового тока или шумового напряжения). Напр., шумовые св-ва электронных усилит, ламп характеризуют эквивалентным шумовым сопротивлением, находящимся при темп-ре 293 К и включённым на вход последовательно с источником сигнала. В др. случаях может рассматриваться согласованное с нагрузкой сопротивление, находящееся при нек-рй эквивалентной темп-ре , и ли активный четырёхполюсник, характеризуемый нек-рыми обобщёнными параметрами (шума коэффициентом или шумовой темп-рой).
Ш. БП подразделяют на тепловые(объемного сопротивления базы и последовательно с ним включенного дифференциального сопротивления эмиттерного перехода rЭ), дробовые(обусловленные пролетом носителей через потенциальные барьеры эмиттерного и коллекторного переходов, т.е. дробовые шумы тока базы и тока коллектора), избыточные и шуты токараспределения.
- формула
Найквста(опред. среднеквадр. напряж,
созд.тепловыми флуктуациями(колеб) на
сопрот.базы)
При
рассмотрении дробовых ш. необходимо
учитывать, что электрический ток в БТ
обусловлен направленным движением
основных и неосновных носителей заряда.
Т.к. энергия носителей заряда и их
скорость неодинаковы, то кол-во носителей,
пересекающих в единицу времени
элементарную прощадку, перпендикулярно
к направлению движения, будет
флуктуировать, составляя переменную
составляющую шумового тока. Дробовые
ш. - формулой Шоттки
Интенсивность тепловых и дробовых ш. не зависит от частоты и имеет равномерный частотный спектр. Такие Ш. наз. Белыми шумами.
Шумы токараспределения вызываются неравномерностью распределения эммитерного тока между коллектором и базой. Возникающий при этом шумовой ток можно определить с помощью выражения
Шумовой ток, возникающий в процессе токараспределения, проходит в цепях коллектора и базы.
Избыточные
шумы обусловлены неравномерностью
процесса рекомбинации носителей,
происходящей в основном на поверхности
кристалла ПП, и наличием дефекта
кристаллической решетки.интенсивность
возрастает с уменьшением частоты, и на
звуковых частотах эти Ш. являются
преобладающими.
Шумы
ПТ имеют 3 составляющих: тепловые ш.,
дроборой эффект и избыточные ш. Источником
теплового шума в ПТ. Являются сопротивления
канала и объемные сопротивления истока
и стока(знач.малы по сравн. с сопр.канала).
Определяются формулой Найквиста
Источником дробового шума являются флуктуации тока затвора, проходящие через обратносмещенный р-n переход затвор-канал в ПТ с управляющим p-n переходом, или тока утечки затвора в МДП-транзисторах.
На высоких частотах тепловая составляющая шума через емкость обратной связи проникает в цепь затвора и вместе с сигналом усиливается транзистором. Поэтому на высоких частотах шумы ПТ возрастают. Однако это явление наблюдается на частотах, близких к граничным, и поэтому важного практического значения не имеют. На низких частотах наиболее важной составляющей в полевых транзисторах является избыточный шум. Источником могут быть произвольные локальные изменения электрических свойств материалов и их поверхностных состояний.