4.Способы регистрации спектров.

Для регистрации спектров применябт 3-и:визуальный, фотографический(степень почарнения определяется с помощью спец-х приборов), фотоэлектрический(устроен на приборах кот-е используют эффект внешнего и внутреннего фотоэффекта).Соответственно и приборы разделяются в зависимости от способа регистрации спектра на приборы в визуальной регистрации-стилоскопы,с фотографической регистрацией-спектрографы и с фотоэлектрической регистрацией-квантометры.фотоэлектрические стилометры,спектрометры.

5.Качественный и количественный атомно-эмиссионного спектрального анализ.

Качественный анализ в атомно-эмиссиональном методе-определяет существует ли элемент в пробе. Позволяет определить наличие спектральных линий в пробе принадлежащие данному элементу. Спектральные линии находятся в атласах. При наличии характерных линий – элемент есть в пробе. 2-определим длину волны интересующей на спектральной линии в экспериментальном спектре а затем по таблице и атласам определяем какому элементу она принадлежит. полуколичественный анализ – анализ по следующим линиям. Последней линией называется такая линия в спектре, которая исчезает последней при уменьшении концентрации химического элемента в веществе У каждого химического элемента несколько последних линий. Количественный анализ – выполняется по измерению интенсивности спектральной линии. Интенсивность спектральных линий измеряется относительно спектральной линии основного химического элемента сплава. Интенсивность спектральных линий зависит от концентрации элемента в сплаве. области применения: анализ конструкционных материалов (сталей, чугунов).

6.Аналитические характеристики метода аэса

1.-Универсальность(можно анализироыать ве-во во всех агрегатных состояниях,без особо сложной системе подготовке проб)

2.-Селективность(одновременно из одной навески можно определитьможно определить несколько десятков хим-х элементов)

3.-Чувствительность(нижний предел обнаружения ,в некоторых случаях ,в некоторых методических приёмах предел до предел обнаружения)

Точность определяется способом регистрации. Самый точный-фотоэлектрической регистрации.Точная величина ошибки возрастает при определении малых и больших концентрациях.

4.-Экспресность и возможность автоматизации(метод позволяет определить непосредственно содержание элементов в технологическом проуесссе.

Существенным недостатком метода является необходимость использования стандартных образцов с близким содержанием элементов. Кроме того атомные спектры не дают представления о молекулярном составе исследуемого вещества, так как при высоких температурах молекулы разрушаются.)

9. З-н Бугера-Ламберта-Бера. В основу количественного метода анализа ИКС положен З-н Бугера-Ламберта-Бера, который связывает интенсивность монохроматического светового потока , падающего на образец, и потока I,

прошедшего через него, с характеристиками молекул исследуемого вещества и его концентрации в образце:

Ɛ – удельный коэфф.поглощения( л/(моль*см))

С- концентрация вещества( моль/л)

d –толщина образца (см)

В практической работе использ.логарифмическую форму записи з-на Бугера-Ламберта-Бера:

D –оптическая плотность вещества.