4. Вероятность Оже-эффекта. Вероятность выхода Оже-электронов из разных матриц.

Вероятность оже-эффекта падает с ростом атомного номера элемента, поэтому эффективность определения атомов легких элементов выше, чем тяжелых. Например, для легких атомов относительная вероятность оже-переходов составляет -95%, а для тяжелых (Z>70) -10%.

С шероховатостью поверхности уменьшается выход оже-е по сравнению с гладкой.(выход оже-е зависит от угла падения и уга вылета)

5. От чего зависит интенсивность линий Оже - спектра.

выражение, связывающее ток оже-электронов, эмитируемых твердым телом под углом к его поверхности, и концентрацию атомов в твердом теле (i - индекс элемента). , где – величина, учитывающая эффективность сбора электронов, зависящая от типа анализатора.(От количества электронов с данной энергией, вероятности эффекта для элемента соответствующего пику, количества элемента и от интенсивности падающего пучка)

7. jj- и LS-связи.

В приближении центрального поля принимается, что все квантовые состояния, принадлежащие данной конфигурации, имеют одинаковую энергию. В действительности эти состояния расщепляются двумя основными возмущениями: спин-орбитальным и остаточным кулоновским взаимодействиями. Эти взаимодействия по-разному связывают спиновые и орбитальные моменты отдельных электронов внешней оболочки. В том случае, когда преобладает остаточное кулоновское взаимодействие, имеет место LS тип связи, а если преобладает спин-орбитальное взаимодействие, то осуществляется jj тип связи.

В случае LS-связи орбитальные моменты внешних электронов образуют полный орбитальный момент, а спиновые моменты -полный спиновый момент . Сложение и дает полный момент атома. В случае jj-связи орбитальный и спиновый моменты электрона с номером i, складываясь, образуют полный момент электрона , а при сложении всех векторов получается полный угловой момент атома . Общее число квантовых состояний для обоих типов связи, естественно, одно и то же. В многоэлектронных атомах правила отбора для разрешенных переходов зависят от типа связи.

8. Методика обработки и расшифровки Оже - спектров.

Метод эталонов. Этот довольно точный количественный метод может быть применен с использованием калибровки по известным стандартам. При этом оже-спектр исследуемого вещества сравнивается со спектром эталона, имеющего интересующее вещество с исзветной концентрацией. Концентрацию элемента С^u_i в исследуемом образце можно определить с использованием соотношения:

С^u_i/C^c_i = I^u_i ^. ^{c .} (1 + R^c_в / I^c_i ^. ^{u .} (1+R^u_в) (5), где С^с_i - концентрация i-го элемента в эталоне; R_в - коэффициент обратного рассеяния.

Преимущество этого метода состоит в относительности измерений, так как сечение ионизации и выхода оже-электронов у исследуемого вещества в образце и эталоне одинаковы. Важным моментом также является равенство глубин выхода и коэффициентов обратного рассеяния в случае близкого состава исследуемого образца и эталона. В этом случае искомая концентрация легко определяется измерением оже-токов. Однако, если составы различны, возникает необходимость учета влияния матрицы на величины  и R. В этом случае метод внешних эталонов не имеет больших преимуществ перед методом коэффициентов элементной чувствительности.

Метод коэффициентов элементной чувствительности. Этот метод применим к поверхности с равномерным распределением элементов. В этом случае атомная концентрация элемента представляется простым соотношением: С₁ = (I₁/₁) / (I_i/_i) (6), где  - коэффициент элементной чувствительности элемента i.При выводе этого выражения предполагалась независимость величины I элемента i от химического окружения, что не всегда оправдано. Однако простота в использовании, отсутствие эталонов, нечувствительность к шероховатостям делают этот метод одним из наиболее частво употребляемых. Обычно коэффициенты элементной чувствительности устанавливаются по данным, полученным в идеальных условиях. В качестве элемента, по отношению к которому определяют элементную чувствительность, используется Аg, _i которого полагают равной единице. Интенсивность оже-пика на кривых N^` (Е) измеряют “от пика до пика”.

9 . Качественный фазовый анализ методом ЭОС (принцип и возможности). Основной принцип качественного фазового анализа методом ЭОС – это сверка полученных в результате Оже-эффекта пиков с табличными и приписка полученных пиков к энергиям.

Энергии оже-электронов характеризуют свойства атома, который испустил эти электроны. Пользуясь данными об атомных уровнях различных элементов, можно рассчитать ожидаемые величины оже-электронов для каждого сорта атомов. Для оже-процесса нужны по крайней мере два энергетических уровня и три электрона. Поэтому в атомах водорода и гелия оже-электроны возникать не могут. Пикам Оже могут быть приписаны определенные энергии, а по ним определена соответствующая химическая природа атомов лишь в том случае, если оже-электроны выходят из поверхностного слоя без значительной потери энергии в результате неупругого рассеяния. Оже-электроны, претерпевшие перед выходом в вакуум неупругие столкновения, дадут просто вклад в энергетическое распределение вторичных электронов и могут несколько “размазать” пик в низкоэнергетическую зону. Таким образом, с помощью качественного фазового анализа методом ЭОС можно определить элементный состав образца. Актуален для исследования п/п материалов(в том числе т.н. твердотельных, наноэлектроника), изучения металлов. Ограничения метода: проводники.