
- •1 Функции пленки диоксида кремния.
- •2 Формирование пленок диоксида кремния.
- •2.1 Формирование пленок диоксида кремния термическим окислением
- •При использовании сухого кислорода на поверхности кремния идет реакция
- •2.2 Явления, сопутствующие процессу термического оксидирования
- •2.3 Техника процесса.
- •2.4 Факторы, влияющие на скорость роста и качество пленок SiO2
- •3 Другие методы получения пленок оксида кремния
- •3.1 Осаждение пленок оксида кремния термическим испарением
- •3.2 Реактивное катодное распыление оксида кремния
- •3.3 Химическое осаждение слоев оксида кремния
- •4 Получение пленок нитрида кремния и оксида алюминия.
- •Вопросы и задания для самопроверки
Защитные диэлектрические пленки в планарной технологии
План
1 Функции пленки диоксида кремния
2 Формирование пленок диоксида кремния.
2.1 Формирование пленок диоксида кремния термическим окислением
2.2 Явления, сопутствующие процессу термического оксидирования
2.3 Техника процесса
2.4 Факторы, влияющие на скорость роста и качество пленок SiO2
3 Другие методы получения пленок оксида кремния
3.1 Осаждение пленок оксида кремния термическим испарением
3.2 Реактивное катодное распыление оксида кремния
3.3 Химическое осаждение слоев оксида кремния
4 Получение пленок нитрида кремния и оксида алюминия
1 Функции пленки диоксида кремния.
Пленки диоксида кремния имеют хорошие диэлектрические и защитные свойства. Их относительно просто получать на поверхности кремния. Поэтому пленки диоксида кремния используют в планарной технологии как составную часть элементов структуры и технологические слои в процессе изготовления микросхем.
Термически выращенный диоксид кремния характеризуется следующими электрическими характеристиками: удельное объемное сопротивление ρv=1015…1016Омсм; относительная диэлектрическая проницаемость составляет от 3 до 3,8 в зависимости от метода выращивания пленок; электрическая прочность Eпр=106...107 В/см.
В структурах полупроводниковых микросхем диэлектрические свойства диоксида кремния используют
для электрической изоляции элементов между собой (рис. 1,а),
изоляции коммутационных проводников от поверхности полупроводника и друг от друга при многослойной разведке коммутационных проводников;
в качестве тонкого подзатворного диэлектрика в МДП транзисторах (рис. 10.8,б).
Для защиты поверхности изготовленной полупроводниковой структуры от влияния посторонних химических веществ и влаги наносят защитный пасивирующий слой диоксида кремния (рис. 10.7). Термин “пассивация” означает защиту поверхности. Пассивация стабилизирует состояние поверхности кристалла и защищает вертикальные участки р-n переходов, выходящих на поверхность. Это улучшает электрические параметры и характеристики ИС и повышает их температурную и временную стабильность.
Рисунок 1 - Функции пленки диоксида кремния: а - электрическая изоляция и защита поверхности; б - подзатворный окисел; в - маска для локального легирования
В процессе изготовления ИМС широко
используются маскирующие свойства
диоксида кремния. Диоксид кремния не
вступает в химические реакции со многими
реагентами. Пленка
растворяется только в плавиковой кислоте
HF и в концентрированных растворах
щелочей. Это свойство используют при
формировании на поверхности кремния
маски из
при локальном травлении кремния.
При локальной диффузии легирующих
примесей маска изготовляется также из
пленки
.
Слой диоксида кремния имеют хорошие
маскирующие свойства относительно
многих диффузантов. Маскирующие свойства
пленок
определяются значительно меньшей
величиной коэффициента диффузии
акцепторных и донорных примесей в оксиде
кремния, чем в кремнии. Для акцепторных
примесей это условие выполняется только
для бора. С этим связано практически
исключительное использование бора при
создании областей р-типа в ИМС на основе
кремния. Галлий (Ga) диффундирует в
приблизительно в 400 раз быстрее, чем в
кремнии, еще скорее проникает через
слой
алюминий, поэтому диоксид кремния как
диффузионная маска для этих примесей
неэффективен.
2 Формирование пленок диоксида кремния.
2.1 Формирование пленок диоксида кремния термическим окислением
Чаще всего используются методы получения пленок диоксида кремния при высоких температурах - термическое окисление.
Окисление проводят в эпитаксиальных или диффузионных установках, пропуская над поверхностью пластин газ – окислитель, кислород, или смесь влажного пара с кислородом (влажный кислород) при температуре 1000…1300C...